高壓氮化鎵絕緣柵型光電導開關(guān)的關(guān)鍵工藝研究
【圖文】:
圖 1-1 300K 時 Si、SiC、GaAs、GaN 的電子漂移速度與電場的關(guān)系【10-11】Fig. 1-1 Relationship between electron drift velocity and electric field of Si, SiC, GaAsand GaN at 300K【10-11】008 年,密蘇里大學哥倫比亞分校的 Gyawali【12】報道了對 GaN:Fe PCSS 以及的研究,仿真結(jié)果表明,GaN:Fe PCSS 由于其高捕獲截面,電壓最大限制在結(jié)構(gòu)的 SiC:V PCSS 則為 38kV。另外,與 SiC:V PCSS 相比,GaN:Fe PCSS時間更好,更適合制作光電導開關(guān)。但是它們?nèi)狈线m的半絕緣 GaN 材料SiC:V PCSS制作了半導體開關(guān)得到的實驗結(jié)果與GaN光電導開關(guān)仿真結(jié)果析。近幾年,美國 Kyma 公司、美國加利福尼亞大學等一直在研究半絕緣 質(zhì),直到 Kyma 公司完善了在藍寶石基底上用氫化物氣相外延法生長 GaN,制作出了低缺陷密度的 2 英寸半絕緣 GaN,并首次將其商品化。2013 年美國司報道了國際首例高壓 GaN:Fe 光電導開關(guān)實驗研究。其開關(guān)具有低導通電)和短載流子復合時間<160ps,但是其最大耐壓(120kV/cm)遠低于本征禁理論值(3MV/cm)【13】。另外,該文獻報道了(見圖 1-2)當分別使用 160 532nm 激光器對 GaN:Fe 光電導開關(guān)進行觸發(fā)時,其最小導通電阻分別約為
ionship between electron drift velocity and electric field of Si, Sand GaN at 300K【10-11】大學哥倫比亞分校的 Gyawali【12】報道了對 GaN:Fe果表明,GaN:Fe PCSS 由于其高捕獲截面,電壓最 PCSS 則為 38kV。另外,與 SiC:V PCSS 相比,GaN適合制作光電導開關(guān)。但是它們?nèi)狈线m的半絕緣作了半導體開關(guān)得到的實驗結(jié)果與GaN光電導開關(guān)美國 Kyma 公司、美國加利福尼亞大學等一直在研a 公司完善了在藍寶石基底上用氫化物氣相外延法陷密度的 2 英寸半絕緣 GaN,并首次將其商品化。2首例高壓 GaN:Fe 光電導開關(guān)實驗研究。其開關(guān)具有復合時間<160ps,但是其最大耐壓(120kV/cm)遠低/cm)【13】。另外,該文獻報道了(見圖 1-2)當分別對 GaN:Fe 光電導開關(guān)進行觸發(fā)時,其最小導通電
【學位授予單位】:西安理工大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2018
【分類號】:TM564
【參考文獻】
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,本文編號:2647149
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