【摘要】：電樹枝是引起聚合物絕緣材料破壞的重要因素之一,電樹枝通道形貌包含了材料絕緣壽命、缺陷形成機理等重要信息。為此,利用共焦顯微鏡,首次使用熒光顯微法對電纜內絕緣用硅橡膠(SIR)材料中電樹枝老化通道進行逐層掃描觀測,得到熒光顯微法三維電樹枝形態(tài)圖和透射光源法電樹枝微觀形態(tài)圖。另外,利用掃描電子顯微鏡(SEM)對電樹枝通道橫切面進行觀測,得到電樹枝通道橫切面電鏡圖像并利用暗視野顯微成像得到電樹枝通道落射光法顯微圖像。通過上述4種實驗觀測方法得到的電樹枝通道形貌圖表明,硅橡膠電樹枝通道整體形態(tài)為由球狀破壞點連成的樹枝狀中空氣隙通道,這種形貌特點首次通過實驗方法直接觀測得到。進而,基于這一實驗結果和電樹枝局部放電理論,提出了硅橡膠電樹枝球狀生長模式,不僅與實驗觀測相符合,也可為進一步研究硅橡膠中電樹枝生長機理提供基礎。

【參考文獻】

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【共引文獻】

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