【摘要】：交聯(lián)聚乙烯(XLPE)電纜的半導(dǎo)電層缺陷誘發(fā)機理尚無定論。為此,在加速水樹老化實驗的基礎(chǔ)上,觀測了水樹老化后電纜的內(nèi)、外半導(dǎo)電層中的缺陷,并對這些缺陷的形成原因進行了討論。采用水針法對長度為70 m的XLPE電纜進行加速老化,電纜的絕緣性能逐漸下降,并在絕緣層中觀察到水樹缺陷。通過掃描電鏡(SEM)觀測到,老化樣本的半導(dǎo)電層中有大量孔洞缺陷。進一步采用X射線能量色散譜(EDS)對內(nèi)、外半導(dǎo)電層中的化學(xué)元素進行定量分析證明,老化后半導(dǎo)電層中氧(O)元素含量顯著減少。因此,在長期老化過程中,半導(dǎo)電層中可能發(fā)生了電解質(zhì)水溶液的電解反應(yīng),并生成了氧氣(O2)和臭氧(O3),這種氣體的生成是半導(dǎo)電層中孔洞缺陷發(fā)生及發(fā)展的原因。
[Abstract]:The induced mechanism of semiconductive layer defects in cross-linked polyethylene (XLPE) cables has not been determined. On the basis of accelerated water tree aging experiments, the defects in the inner and outer semiconductive layers of the cables after the aging of water trees were observed, and the reasons for the formation of these defects were discussed. The water needle method was used to accelerate the aging of XLPE cable with the length of 70 m. The insulation performance of the cable decreased gradually, and water tree defects were observed in the insulating layer. It was observed by scanning electron microscopy (SEM) that there were a lot of holes in the semiconductive layer of aging samples. Further quantitative analysis of chemical elements in the inner and outer semiconductive layers by means of X-ray energy dispersive spectroscopy (EDS) showed that the content of oxygen (O) elements in the aged semiconductive layers decreased significantly. Therefore, in the process of long-term aging, the electrolytic reaction of electrolyte aqueous solution may occur in the semiconductive layer, and oxygen (O2) and ozone (O3) can be formed. The formation of this gas is the cause of the formation and development of pore defects in the semiconductive layer.
【作者單位】： 四川大學(xué)電氣信息學(xué)院;
【基金】：四川省電力公司科技項目(2011H1027)~~
【分類號】：TM247

【參考文獻】

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本文編號：2449531