本文選題：延時(shí)電路　切入點(diǎn)：檢測(cè)電路　出處：《微電子學(xué)》2014年06期 　論文類型：期刊論文

【摘要】：探討了一種具有實(shí)用價(jià)值的鋰離子電池保護(hù)芯片。在給出體系結(jié)構(gòu)后,介紹了芯片內(nèi)部模塊的設(shè)計(jì),包括電壓比較電路、延時(shí)電路和電池狀態(tài)監(jiān)控電路。為了提高比較電壓的精度,引入了電阻修調(diào)技術(shù)。在提出電容充放電延時(shí)結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上,還采用增加電流源的方式來(lái)延長(zhǎng)電路的延時(shí)時(shí)間。在電池狀態(tài)監(jiān)控電路中,提出了一種實(shí)現(xiàn)負(fù)值電壓比較的電路結(jié)構(gòu)。采用Cadence對(duì)電路進(jìn)行仿真,獲得了與原理分析相一致的結(jié)果。
[Abstract]:Study of a lithium ion battery protection chip with practical value. In this architecture, introduces the design of the chip module, including a voltage comparison circuit, a delay circuit and a battery state monitoring circuit. In order to improve the accuracy of voltage comparison, the resistor trimming technology. Based on capacitor charge and discharge delay structure also, the increase of the current source circuit to prolong the delay time. The battery state monitoring circuit, a comparison circuit structure to achieve negative voltage. By Cadence simulation of the circuit, obtained the consistent results with the principle analysis.

【作者單位】： 同濟(jì)大學(xué)電子與信息工程學(xué)院電子科學(xué)與技術(shù)系;
【基金】：中央高�；究蒲许�(xiàng)目(0800219173)
【分類號(hào)】：TM912

【參考文獻(xiàn)】

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1 鄒雪城;李育超;姜娟;郭振宗;;單節(jié)鋰離子電池保護(hù)電路的改進(jìn)[J];華中科技大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版);2007年07期

2 張道禮;梁延彬;吳艷輝;陳勝;;一種高電源抑制比的CMOS帶隙基準(zhǔn)電壓源[J];華中科技大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版);2007年11期

【共引文獻(xiàn)】

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1 何曉燕;王慶春;;CMOS反相器電壓傳輸特性的分析和仿真[J];安康師專學(xué)報(bào);2006年02期

2 安杰;邳雪松;李揮;馬建設(shè);程雪岷;林家用;;用于PDIC的跨阻放大器的優(yōu)化設(shè)計(jì)[J];半導(dǎo)體光電;2009年05期

3 謝凌寒;吳金;汪少康;李艷芳;吳毅強(qiáng);;寬輸入共模范圍電壓比較器的設(shè)計(jì)[J];半導(dǎo)體技術(shù);2007年12期

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本文編號(hào)：1600064