本文關(guān)鍵詞：電連接器熱循環(huán)加速試驗(yàn)與失效分析研究　出處：《兵工學(xué)報》2014年11期 　論文類型：期刊論文

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【摘要】：空間技術(shù)的迅猛發(fā)展對電連接器可靠性提出了更高的要求,主要研究溫度循環(huán)條件下電連接器的可靠性問題。結(jié)合加速壽命試驗(yàn)理論,設(shè)計(jì)了一種電連接器熱循環(huán)加速試驗(yàn)方案并進(jìn)行了試驗(yàn)。在試驗(yàn)中,試品接觸件的接觸電阻值隨循環(huán)次數(shù)的增加而緩慢增長,利用灰色模型預(yù)測出了試品的熱循環(huán)壽命。此外,對試驗(yàn)后試品插孔的分析發(fā)現(xiàn):插孔的晶粒尺寸增大且不均勻,亞結(jié)構(gòu)的碎化程度、位錯密度及有序的β'相均有增加。由此可知,連接器插孔中微觀結(jié)構(gòu)的變化是引發(fā)其綜合力學(xué)性能下降,插孔出現(xiàn)應(yīng)力松弛現(xiàn)象,而導(dǎo)致接觸可靠性逐步蛻化的根本原因。
[Abstract]:The rapid development of space technology puts forward higher requirements for the reliability of electrical connectors. It mainly studies the reliability of electrical connectors under the condition of temperature cycling and combines with the theory of accelerated life test. An accelerated test scheme for thermal cycling of electrical connectors was designed and tested. In the test, the contact resistance of the samples increased slowly with the increase of the number of cycles. The thermal cycle life of the specimen was predicted by using the grey model. In addition, the analysis of the Jack after the test showed that the grain size of the Jack was increased and uneven, and the degree of substructure was broken. The dislocation density and the ordered 尾 'phase increase. It can be seen that the change of microstructure in the connector Jack leads to the decline of its comprehensive mechanical properties and the stress relaxation in the Jack. And the root cause of the gradual degradation of contact reliability.
【作者單位】： 河北工業(yè)大學(xué)電氣工程學(xué)院;
【基金】：國家自然科學(xué)基金項(xiàng)目(51107028)
【分類號】：TM503.5
【正文快照】： 0引言電連接器是一種依靠插針插孔(即接觸件)的插合和分離,來實(shí)現(xiàn)電路通斷的機(jī)電元件。電連接器廣泛應(yīng)用于各種尖端技術(shù)系統(tǒng)及大型軍用、民用系統(tǒng)中,其質(zhì)量的好壞與可靠性的高低對電氣電子設(shè)備的性能及系統(tǒng)的安全運(yùn)行有重要的影響[1]。接觸失效是電連接器的主要失效模式之一,

【參考文獻(xiàn)】

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【共引文獻(xiàn)】

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【二級參考文獻(xiàn)】

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本文編號：1411743