本文關(guān)鍵詞：基于零中頻正交解調(diào)頻率特性測試儀的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)　出處：《華中師范大學(xué)》2015年碩士論文　論文類型：學(xué)位論文

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【摘要】：頻率特性測試儀是測量電路網(wǎng)絡(luò)頻率特性的儀器,廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品測試與電子科學(xué)實(shí)驗(yàn),其最核心的頻率特性測量原理至今仍然是行業(yè)內(nèi)研究的重點(diǎn)。目前,高端的頻率特性測試儀存在價(jià)格昂貴、體積龐大、操作復(fù)雜、維修困難等缺點(diǎn),相比之下高性能、低成本的頻率特性測試儀更容易被市場廣泛接受。隨著現(xiàn)代電子測量技術(shù)的發(fā)展,各種類型的頻率特性測量原理也應(yīng)運(yùn)而生。從早期的二極管檢波和一階線性插值相位檢測原理到如今基于數(shù)字系統(tǒng)的數(shù)字正交變換和離散傅立葉變換原理,頻率特性測量原理雖有一定程度的發(fā)展,但始終不能在成本和性能兩方面取得良好的折衷,無法滿足市場對中低頻段頻率特性測試儀的需要。零中頻正交解調(diào)原理利用正交解調(diào)技術(shù)將高頻交流信號直接轉(zhuǎn)換為直流信號處理,其簡易的電路結(jié)構(gòu)和較低實(shí)現(xiàn)成本備受設(shè)計(jì)者關(guān)注。本文深入了解零中頻正交解調(diào)原理,分析其在射頻接收機(jī)應(yīng)用領(lǐng)域的不足之處,提出一種應(yīng)用于頻率特性測量的改進(jìn)型零中頻正交解調(diào)方法。該方法提高了頻率特性測量精度,減小了測量誤差,降低了產(chǎn)品成本,克服了市場上頻率特性測試儀的系統(tǒng)復(fù)雜、工作穩(wěn)定性差、價(jià)格高等一系列缺陷,是性價(jià)比極高的一種頻率特性測量方法。本文詳細(xì)闡述了二極管檢波和平衡鑒相原理及離散傅立葉變換原理測量頻率特性的局限性,著重分析了傳統(tǒng)零中頻正交解調(diào)原理測量頻率特性所存在的問題,提出了一種改進(jìn)型零中頻正交解調(diào)方法并在理論上對該方法進(jìn)行了分析。論文還介紹了基于這種改進(jìn)型零中頻正交解調(diào)方法的頻率特性測試儀的硬件實(shí)現(xiàn)方案及電路設(shè)計(jì)細(xì)節(jié),并著重就文中的以STM32F429為主的控制方案和以RA8875為核心的LCD驅(qū)動方案進(jìn)行探討。本文還詳盡地介紹了頻率特性測試儀軟件功能的設(shè)計(jì)細(xì)節(jié)和以STemWin為基礎(chǔ)的人機(jī)界面設(shè)計(jì)流程。最后,本文對頻率特性測試儀整機(jī)進(jìn)行了測試,幅頻特性測量精度達(dá)到0.1dB,絕對誤差小于10%；相頻特性測量精度達(dá)到1°,絕對誤差小于5°。與其它類似的頻率特性測試儀相比,其技術(shù)指標(biāo)更具有優(yōu)勢、且性能更穩(wěn)定,滿足用戶的使用需求。
【學(xué)位授予單位】：華中師范大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2015
【分類號】：TM935.1

【參考文獻(xiàn)】

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2 張學(xué)龍,陳德智;相敏檢波技術(shù)測量微弱信號的原理與方法[J];測試技術(shù)學(xué)報(bào);1997年02期

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1 姜卓;基于ARM7微處理器S3C44B0X的交互系統(tǒng)設(shè)計(jì)[D];吉林大學(xué);2004年

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