本文關(guān)鍵詞：數(shù)字控制PSR反激變換器輸出電壓采樣電路設(shè)計(jì)

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【摘要】：數(shù)字控制的PSR反激變換器因其具有電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本低、效率高等優(yōu)點(diǎn),被廣泛應(yīng)用于便攜式電子設(shè)備的充電器和適配器中。在數(shù)字控制的PSR反激變換器中,輸出電壓采樣電路是摔制環(huán)路中的關(guān)鍵模塊,采樣誤差的大小是影響輸出恒壓精度的重要因素。本論文將對(duì)輸出電壓采樣電路進(jìn)行詳細(xì)的分析和設(shè)計(jì)。本論文通過對(duì)輸出電壓的采樣波形進(jìn)行建模,找到準(zhǔn)確的輸出電壓采樣點(diǎn),在對(duì)準(zhǔn)確采樣點(diǎn)附近電壓波形深入分析的基礎(chǔ)上,設(shè)計(jì)了一種準(zhǔn)點(diǎn)電壓逼近采樣電路。該采樣電路與傳統(tǒng)的采樣電路相比,省去了ADC,節(jié)約了電路面積和功耗。圍繞準(zhǔn)點(diǎn)電壓逼近采樣電路,根據(jù)PSR反激變換器的輸出電壓精度指標(biāo),對(duì)采樣電路進(jìn)行了系統(tǒng)級(jí)的設(shè)計(jì),并通過了M語(yǔ)言采樣算法的仿真驗(yàn)證。接著,將數(shù)字采樣算法實(shí)例化,用Verilog語(yǔ)言實(shí)現(xiàn)采樣算法,在算法中設(shè)計(jì)了Enable和DAC state兩個(gè)狀態(tài)機(jī)共同控制數(shù)字算法的工作,并進(jìn)行了相應(yīng)的仿真驗(yàn)證。最后,利用分立元件搭建了準(zhǔn)點(diǎn)電壓逼近采樣的測(cè)試系統(tǒng),從開環(huán)控制和閉環(huán)控制兩方面驗(yàn)證了所設(shè)計(jì)的采樣電路。系統(tǒng)級(jí)仿真及實(shí)測(cè)表明,本論文所提出的準(zhǔn)點(diǎn)電壓逼近采樣電路在開環(huán)控制下,開環(huán)采樣誤差為10mv,僅占輸出電壓的0.2%,采樣電壓跟蹤延時(shí)為1.44ms。而在閉環(huán)控制下,采樣電路與PSR反激變換器的數(shù)字控制環(huán)路完全兼容,在輸入電壓90～220VAC之間可實(shí)現(xiàn)恒壓輸出,全負(fù)載變化范圍內(nèi),恒壓精度達(dá)到0.8%,負(fù)載動(dòng)態(tài)響應(yīng)恢復(fù)時(shí)間為1.61ms,工作穩(wěn)定且性能良好。仿真和測(cè)試結(jié)果均滿足設(shè)計(jì)指標(biāo)。
【學(xué)位授予單位】：東南大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2015
【分類號(hào)】：TM46

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本文編號(hào)：1186352