襯底及其溫度對鋁誘導(dǎo)非晶硅薄膜晶化的影響
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【摘要】:利用磁控濺射鍍膜技術(shù),采用不同溫度在玻璃、單晶硅襯底上濺射α-Si/Al膜,并在N_2氣氛中進行快速光熱退火;利用X射線衍射(XRD)儀和拉曼散射光譜儀對薄膜樣品進行表征分析。結(jié)果表明:單晶硅襯底有利于α-Si/Al膜的晶化;襯底溫度從室溫到200℃之間逐漸升高,薄膜的晶粒尺寸及晶化率增加;隨著溫度進一步升高,薄膜的晶粒尺寸及晶化率又降低。單晶硅襯底上200℃時α-Si/Al膜可直接晶化。通過計算,得出襯底參數(shù)對薄膜的晶相比、晶粒尺寸、帶隙及界面體積分數(shù)的調(diào)制關(guān)系。
【作者單位】: 可再生能源材料先進技術(shù)與制備教育部重點實驗室;云南師范大學(xué)太陽能研究所;
【關(guān)鍵詞】: 襯底 非晶硅 鋁誘導(dǎo) 退火 晶化
【基金】:國家自然科學(xué)基金聯(lián)合基金(U1037604)
【分類號】:TM914.42
【正文快照】: 0引言高效、低成本和環(huán)境友好的太陽電池一直是人們追求的目標。晶體硅太陽電池由于需要大量原料,未來成本下降的空間有限。為此,薄膜太陽電池引起了人們的關(guān)注[1]。其中,非晶硅(α-Si)薄膜太陽電池具有制造工藝簡單,原材料用量少(僅為晶體硅的約1%[2]),易實現(xiàn)大面積生產(chǎn),可在
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,本文編號:1110655
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