開關(guān)電源關(guān)鍵器件失效研究及探測
本文關(guān)鍵詞:開關(guān)電源關(guān)鍵器件失效研究及探測
更多相關(guān)文章: 開關(guān)電源 電解質(zhì)電容 光耦合器 故障監(jiān)測
【摘要】:電子系統(tǒng)中,開關(guān)電源擔(dān)任著非常重要的角色,其承擔(dān)著對電能進(jìn)行轉(zhuǎn)換、加工和調(diào)節(jié)的任務(wù),廣泛應(yīng)用于航天、通信和核電等領(lǐng)域。開關(guān)電源的健康狀態(tài)對電子系統(tǒng)的正常工作有著決定性作用,其退化體現(xiàn)在其性能參數(shù)與規(guī)格指標(biāo)發(fā)生偏離,而根本原因則是內(nèi)部關(guān)鍵元器件發(fā)生了退化甚至失效。電解質(zhì)濾波電容和光耦合器即是其中非常重要并且容易退化和失效的關(guān)鍵元器件,對其進(jìn)行故障監(jiān)測與壽命估算,具有重大的工程意義。本文主要對開關(guān)電源中的兩個(gè)關(guān)鍵的器件,即電解質(zhì)濾波電容以及光電耦合器的性能退化特性進(jìn)行研究。根據(jù)國內(nèi)外諸多專家學(xué)者的研究成果,推導(dǎo)確定其退化參數(shù)的監(jiān)測和數(shù)據(jù)采集的方案。其中,電解質(zhì)濾波電容的退化由串聯(lián)電阻ESR(Equivalent Series Resistance)表征,其退化影響開關(guān)電源輸出端電壓中的紋波電壓大小;光耦合器的退化由其特征參數(shù)電流傳輸比CTR(Current Transfer Ratio)表征,其退化影響開關(guān)電源內(nèi)部反饋回路的性能,影響開關(guān)電源的輸出瞬時(shí)震蕩頻率。通過監(jiān)測開關(guān)電源輸出的紋波電壓和瞬時(shí)震蕩進(jìn)行監(jiān)測則可以監(jiān)測其退化和故障。在確立數(shù)據(jù)采集方案的基礎(chǔ)上,通過對關(guān)鍵元器件進(jìn)行退化研究實(shí)驗(yàn),并且對實(shí)驗(yàn)采集的關(guān)鍵數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,建立電解質(zhì)濾波電容以及光耦合器的關(guān)鍵參數(shù)的失效檢測模型。于電解質(zhì)濾波電容而言,等效電阻ESR值與紋波電壓幅值A(chǔ)RIP成線性關(guān)系;對光耦合器來說,電流傳輸效率CTR值與震蕩脈沖個(gè)數(shù)N為二次函數(shù)的關(guān)系。根據(jù)得到的關(guān)鍵元器件性能退化的失效模型,針對性的開發(fā)設(shè)計(jì)電解質(zhì)濾波電容器和光耦合器的失效監(jiān)測系統(tǒng),設(shè)計(jì)其關(guān)鍵信號(紋波電壓以及瞬時(shí)震蕩)的監(jiān)測電路,完成對開關(guān)電源的性能退化預(yù)警和故障監(jiān)測。
【關(guān)鍵詞】:開關(guān)電源 電解質(zhì)電容 光耦合器 故障監(jiān)測
【學(xué)位授予單位】:電子科技大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2016
【分類號】:TN86
【目錄】:
- 摘要5-6
- ABSTRACT6-9
- 第一章 緒論9-14
- 1.1 研究工作的背景與意義9-10
- 1.2 開關(guān)電源故障檢測的國內(nèi)外研究現(xiàn)狀10-11
- 1.3 本文的主要研究內(nèi)容與方案11-13
- 1.3.1 研究內(nèi)容11
- 1.3.2 研究方案11-12
- 1.3.3 本文的創(chuàng)新之處12-13
- 1.4 本文的結(jié)構(gòu)安排13-14
- 第二章 開關(guān)電源關(guān)鍵元器件的失效機(jī)理14-24
- 2.1 電解質(zhì)濾波電容的失效模型及機(jī)理14-19
- 2.1.1 等效電路14-16
- 2.1.2 退化原因16
- 2.1.3 退化過程在參數(shù)上的表現(xiàn)16-18
- 2.1.4 關(guān)鍵參數(shù)的選取及分析18-19
- 2.2 光耦合器的失效模型及機(jī)理19-23
- 2.2.1 光耦合器的結(jié)構(gòu)及特點(diǎn)19-21
- 2.2.2 光耦合器退化機(jī)理21-23
- 2.2.2.1 光耦合器退化機(jī)理21
- 2.2.2.2 光耦合器CTR的表征21-23
- 2.3 本章小結(jié)23-24
- 第三章 元器件退化的關(guān)鍵監(jiān)測信號24-31
- 3.1 電解質(zhì)濾波電容退化關(guān)鍵信號24-27
- 3.1.1 時(shí)域分析24-25
- 3.1.2 頻域分析25-26
- 3.1.3 利用紋波電壓的近似計(jì)算26-27
- 3.2 光耦合器退化關(guān)鍵信號確定27-30
- 3.3 本章小結(jié)30-31
- 第四章 關(guān)鍵元器件的加速實(shí)驗(yàn)31-37
- 4.1 電解質(zhì)濾波電容的退化實(shí)驗(yàn)31-34
- 4.2 光耦合器的退化實(shí)驗(yàn)34-36
- 4.3 本章小結(jié)36-37
- 第五章 監(jiān)測電路設(shè)計(jì)與仿真37-53
- 5.1 電解質(zhì)電容檢測電路設(shè)計(jì)及仿真38-45
- 5.1.1 偏置放大電路39-41
- 5.1.2 濾波電路41-44
- 5.1.3 整體電路44-45
- 5.2 光耦合器檢測電路設(shè)計(jì)及仿真45-50
- 5.2.1 震蕩引入電路46-47
- 5.2.2 整形電路47-48
- 5.2.3 放大電路48-49
- 5.2.4 方波產(chǎn)生電路49-50
- 5.2.5 整體電路50
- 5.3 ARM數(shù)據(jù)處理流程50-52
- 5.4 本章小結(jié)52-53
- 第六章 監(jiān)測設(shè)備測試53-68
- 6.1 PCB電路測試54-61
- 6.1.1 文波電壓采集電路測試54-57
- 6.1.2 震蕩信號采集電路測試57-61
- 6.2 故障監(jiān)測設(shè)備測試61-67
- 6.2.1 電解電容故障監(jiān)測測試61-64
- 6.2.2 光耦合器故障監(jiān)測測試64-67
- 6.3 本章小結(jié)67-68
- 第七章 總結(jié)與展望68-70
- 7.1 全文總結(jié)68
- 7.2 后續(xù)工作展望68-70
- 致謝70-71
- 參考文獻(xiàn)71-75
- 攻讀碩士學(xué)位期間取得的成果75-76
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