發(fā)布時(shí)間：2017-07-14 01:18

  本文關(guān)鍵詞：太陽(yáng)能電池測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

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【摘要】：針對(duì)太陽(yáng)能電池測(cè)試設(shè)備體積大、價(jià)格貴等,設(shè)計(jì)了一種基于嵌入式技術(shù)的太陽(yáng)能電池測(cè)試系統(tǒng)。系統(tǒng)以STM32作為主控芯片,配合電壓、電流、輻照度、溫度采集模塊,串口通信模塊以及顯示模塊等,然后建立數(shù)學(xué)模型,在MATLAB中擬合,來(lái)獲取I-V曲線,完成對(duì)太陽(yáng)能電池的特性參數(shù)測(cè)試。結(jié)果表明:實(shí)驗(yàn)測(cè)得的特性參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)值對(duì)比,系統(tǒng)測(cè)得太陽(yáng)能電池開(kāi)路電壓精度為1.26%,短路電流精度為2.84%�？梢钥闯鱿到y(tǒng)精度在3%左右,而且其標(biāo)準(zhǔn)差都很小,所設(shè)計(jì)的系統(tǒng)數(shù)據(jù)波動(dòng)較小,系統(tǒng)穩(wěn)定性較好。
【作者單位】： 華中科技大學(xué)光學(xué)與電子信息學(xué)院;
【關(guān)鍵詞】： 太陽(yáng)能電池 STM 擬合算法 I-V曲線
【分類(lèi)號(hào)】：TM914.4
【正文快照】： 0引言為了確定太陽(yáng)能電池的特性參數(shù),以便對(duì)生產(chǎn)出的電池進(jìn)行分選和衡量電池品質(zhì),有必要設(shè)計(jì)一套檢測(cè)設(shè)備來(lái)測(cè)試太陽(yáng)能電池的電性能[1-2]。本設(shè)計(jì)選用基于Cortex-M3內(nèi)核的32位STM32F103ZET6ARM處理器作為主控芯片。該芯片內(nèi)部集成了18通道的12位高精度A/D轉(zhuǎn)換器,最大的轉(zhuǎn)換速

【相似文獻(xiàn)】

中國(guó)期刊全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前1條

1 劉宏;梁貴強(qiáng);黃筱霞;;一種擬合曲線的新擬合算法[J];電子工程師;2006年08期

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本文編號(hào)：539126