隨著社會(huì)的不斷進(jìn)步,人們對(duì)產(chǎn)品的質(zhì)量要求越來(lái)越高。統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制(Statistical Process Control,SPC)技術(shù)在保證產(chǎn)品高質(zhì)量生產(chǎn)過(guò)程中發(fā)揮著重要的作用�？刂茍D作為SPC的重要工具之一,被廣泛用在各類產(chǎn)品生產(chǎn)過(guò)程的質(zhì)量控制中。借助控制圖,我們能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)過(guò)程偏移,并采取有效措施,以保證生產(chǎn)過(guò)程始終處于統(tǒng)計(jì)受控狀態(tài)。隨著自動(dòng)化與傳感器技術(shù)的迅速發(fā)展,高速率自動(dòng)化采集數(shù)據(jù)已成為可能。但是,由于數(shù)據(jù)采集頻率高、時(shí)間間隔短,數(shù)據(jù)極易產(chǎn)生自相關(guān)現(xiàn)象。自相關(guān)過(guò)程違背了傳統(tǒng)控制圖所要求的觀測(cè)值相互獨(dú)立的基本條件,故不能用傳統(tǒng)控制圖直接監(jiān)控自相關(guān)過(guò)程。基于自回歸模型的殘差控制圖是解決自相關(guān)過(guò)程監(jiān)控的一種較好的方法。殘差控制圖的監(jiān)控統(tǒng)計(jì)量為控制圖監(jiān)控自回歸模型得到的預(yù)測(cè)值與實(shí)際值的殘差,因而,自回歸模型的構(gòu)建是非常重要的環(huán)節(jié)�，F(xiàn)有研究大多假設(shè)數(shù)據(jù)呈一階自相關(guān),而對(duì)多階自相關(guān)數(shù)據(jù)考慮甚少,但多階自相關(guān)數(shù)據(jù)在現(xiàn)實(shí)中是存在的。針多階自相關(guān)數(shù)據(jù),構(gòu)建恰當(dāng)?shù)淖曰貧w模型需要豐富的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),尤其在自回歸階數(shù)的判斷上。假設(shè)數(shù)據(jù)呈p階自相關(guān),不同階數(shù)的自回歸模型如何影響殘差控制圖的性能,目前是不清楚...

【文章頁(yè)數(shù)】：72 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【文章目錄】：
致謝
摘要
abstract
第一章 緒論
    1.1 研究背景和意義
        1.1.1 研究背景
        1.1.2 研究意義
    1.2 自相關(guān)過(guò)程控制圖國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀
        1.2.1 調(diào)限控制圖
        1.2.2 殘差控制圖
        1.2.3 研究評(píng)述
    1.3 本文研究?jī)?nèi)容與創(chuàng)新
    1.4 本文研究方法與技術(shù)路線圖
        1.4.1 本文研究方法
        1.4.2 本文技術(shù)路線圖
第二章 多階自回歸模型的建立與殘差控制圖理論
    2.1 自相關(guān)過(guò)程以及相關(guān)函數(shù)
    2.2 自相關(guān)現(xiàn)象對(duì)常規(guī)控制圖的影響
    2.3 多階自回歸模型的建立
        2.3.1 p階自回歸模型
        2.3.2 一階自回歸模型
        2.3.3 不同自回歸模型預(yù)測(cè)下的殘差序列
    2.4 殘差控制圖理論
        2.4.1 殘差X-bar單值控制圖
        2.4.2 殘差CUSUM控制圖
    2.5 平均運(yùn)行長(zhǎng)度
        2.5.1 X-bar單值控制圖
        2.5.2 CUSUM控制圖
第三章 不同自回歸模型對(duì)殘差控制圖性能的影響分析
    3.1 實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)
        3.1.1 實(shí)驗(yàn)一:二階自相關(guān)數(shù)據(jù)擬合
        3.1.2 實(shí)驗(yàn)二:三階自相關(guān)數(shù)據(jù)擬合
    3.2 不同階數(shù)自回歸模型擬合的殘差分析
        3.2.1 二階自相關(guān)數(shù)據(jù)
        3.2.2 三階自相關(guān)數(shù)據(jù)
    3.3 不同階數(shù)自回歸模型對(duì)殘差X-bar單值控制圖性能的影響分析
        3.3.1 平均運(yùn)行鏈長(zhǎng)
        3.3.2 失控運(yùn)行鏈長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)差
    3.4 不同自回歸模型對(duì)殘差CUSUM控制圖性能的影響分析
        3.4.1 平均運(yùn)行鏈長(zhǎng)
        3.4.2 失控運(yùn)行鏈長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)差
    3.5 本章小結(jié)
第四章 企業(yè)應(yīng)用分析
    4.1 樣本大小對(duì)殘差控制圖性能的影響分析
        4.1.1 不同樣本大小對(duì)殘差X-bar單值控制圖的影響
        4.1.2 不同樣本大小對(duì)殘差CUSUM控制圖的影響
    4.2 樣本量足夠大的情況下殘差控制圖性能的對(duì)比分析
        4.2.1 基于AR(1)與AR(2)的殘差X-bar單值控制圖性能的比較分析
        4.2.2 基于AR(1)與AR(2)的殘差CUSUM控制圖性能的比較分析
        4.2.3 殘差X-bar單值和殘差CUSUM控制圖性能的比較分析
    4.3 本章小結(jié)
第五章 結(jié)論與展望
    5.1 結(jié)論
    5.2 不足與展望
        5.2.1 不足
        5.2.2 展望
攻讀學(xué)位期間發(fā)表的學(xué)術(shù)論文成果
參考文獻(xiàn)



本文編號(hào)：3821227