發(fā)布時(shí)間：2022-11-12 13:41

　　本文以空間GaAs/Ge單結(jié)太陽電池和GaInP/GaAs/Ge三結(jié)太陽電池為研究對象,首先基于超快光譜采用開路電壓法分析電池的放電行為,得到電池的開路電壓隨時(shí)間變化的衰減曲線,進(jìn)行少數(shù)載流子壽命分析;在此基礎(chǔ)上研究測試參數(shù)（入射光波長、強(qiáng)度、占空比和頻閃頻率）對太陽電池放電行為的影響規(guī)律,進(jìn)而得到分析少數(shù)載流子壽命的最優(yōu)測試參數(shù)。此外,利用最優(yōu)測試參數(shù)分別對1MeV電子輻照前、后的空間GaAs/Ge單結(jié)太陽電池和GaIn P/GaAs/Ge三結(jié)太陽電池進(jìn)行少子壽命測試,建立空間太陽電池少子壽命隨電子輻照注量變化的基本規(guī)律,進(jìn)而揭示1 MeV電子輻照下空間GaAs太陽電池的輻照損傷機(jī)理。1、分析測試參數(shù)對GaAs/Ge單結(jié)太陽電池少子測試壽命的影響發(fā)現(xiàn),在入射光強(qiáng)度、占空比和頻閃頻率一定的情況下,選取400 nm,450 nm和500 nm三種波長的入射光測試單結(jié)砷化鎵電池開路電壓,波長為450 nm的入射光照下電池的開路電壓最大,這主要是因?yàn)?50 nm更接近太陽電池光吸收的中心波長。入射光波長和光源頻閃頻率單結(jié)對電池少子測試壽命沒有影響。在入射光波長、占空比和頻閃頻率一定的情況下,... 

【文章頁數(shù)】：53 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
Abstract
第1章 緒論
    1.1 課題背景
    1.2 太陽電池工作原理
    1.3 空間太陽電池及其少子壽命測試研究現(xiàn)狀
        1.3.1 空間單結(jié)砷化鎵太陽電池研究現(xiàn)狀
        1.3.2 空間多結(jié)砷化鎵太陽電池研究現(xiàn)狀
        1.3.3 少子壽命測試研究現(xiàn)狀
    1.4 本文的研究內(nèi)容
第2章 實(shí)驗(yàn)材料、設(shè)備及研究方法
    2.1 空間太陽電池的結(jié)構(gòu)和電學(xué)參數(shù)
        2.1.1 單結(jié)砷化鎵太陽電池結(jié)構(gòu)和電學(xué)參數(shù)
        2.1.2 三結(jié)砷化鎵太陽電池結(jié)構(gòu)和電學(xué)參數(shù)
    2.2 實(shí)驗(yàn)設(shè)備
        2.2.1 輻照實(shí)驗(yàn)設(shè)備
        2.2.2 電學(xué)性能測試設(shè)備
        2.2.3 光譜響應(yīng)測試設(shè)備
    2.3 少子壽命測試設(shè)備
    2.4 試驗(yàn)方案
第3章 測試參數(shù)對空間太陽電池少子測試壽命的影響
    3.1 單結(jié)砷化鎵太陽電池少子壽命測試
        3.1.1 波長對GaAs/Ge太陽電池少子測試壽命的影響
        3.1.2 光強(qiáng)對GaAs/Ge太陽電池少子測試壽命的影響
        3.1.3 占空比對GaAs/Ge太陽電池少子測試壽命的影響
        3.1.4 頻閃頻率對GaAs/Ge太陽電池少子測試壽命的影響
    3.2 三結(jié)砷化鎵太陽電池少子壽命測試
        3.2.1 波長對GaInP/GaAs/Ge太陽電池最大開路電壓的影響
        3.2.2 波長對GaInP/GaAs/Ge太陽電池少子測試壽命的影響
        3.2.3 光強(qiáng)對GaInP/GaAs/Ge太陽電池少子測試壽命的影響
        3.2.4 占空比對GaInP/GaAs/Ge太陽電池少子測試壽命的影響
        3.2.5 頻閃頻率對GaInP/GaAs/Ge太陽電池少子測試壽命的影響
    3.3 本章小結(jié)
第4章 電子輻照下空間太陽電池的放電行為
    4.1 電子輻照對 GaAs/Ge 太陽電池開路電壓及少子壽命的影響
    4.2 電子輻照對 GaInP/Ga As/Ge 三結(jié)太陽電池少子壽命的影響
        4.2.1 電子輻照下GaInP頂電池少子壽命變化
        4.2.2 電子輻照下GaAs中間電池的少子壽命變化
    4.3 本章小結(jié)
結(jié)論
參考文獻(xiàn)
攻讀碩士學(xué)位期間發(fā)表的學(xué)術(shù)論文
致謝



本文編號：3706473