不同結(jié)構(gòu)二氧化鉬復(fù)合材料的超級(jí)電容性能
發(fā)布時(shí)間:2022-06-01 21:29
超級(jí)電容器作為一種的新型儲(chǔ)能器件已經(jīng)在儲(chǔ)能領(lǐng)域得到廣泛的應(yīng)用,而其內(nèi)部的電極材料作為超級(jí)電容器器件的核心,一直是人們關(guān)注的重點(diǎn)。二氧化鉬(MoO2)及其復(fù)合材料近年來(lái)備受超級(jí)電容器科研工作者們的關(guān)注,然而二氧化鉬在作為電極材料時(shí),其導(dǎo)電性性能不佳以及利用效率不理想等弊端導(dǎo)致其應(yīng)用被限制。本論文以二氧化鉬為主要活性物質(zhì),將二氧化鉬在納米化的基礎(chǔ)上與碳材料進(jìn)行結(jié)合形成具有開(kāi)放結(jié)構(gòu)的復(fù)合材料,并對(duì)這些復(fù)合材料超級(jí)電容性能做研究和探討。具體研究?jī)?nèi)容如下:(1)碳包覆MoO2納米球/石墨烯復(fù)合材料的超級(jí)電容器性能研究。MoO2@C納米球的表面為類(lèi)似毛線球團(tuán)一樣粗糙結(jié)構(gòu),能夠提供更多與電解液接觸的活性表面,表面電位改性引入石墨烯片層的方法一定程度上解決了石墨烯不易與其它材料復(fù)合的問(wèn)題,而且引入的石墨烯片層在提高材料電荷傳輸效率的同時(shí)還提高了材料的結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性。碳包覆MoO2納米球/石墨烯復(fù)合材料在在1 A g-1電流密度下的比電容值達(dá)到了509.8 F g-1;(2)石...
【文章頁(yè)數(shù)】:74 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【文章目錄】:
摘要
abstract
第1章 緒論
1.1 引言
1.2 超級(jí)電容器概述
1.3 超級(jí)電容器的工作原理
1.3.1 雙電層電容
1.3.2 贗電容
1.4 超級(jí)電容器電極材料
1.4.1 碳材料
1.4.2 過(guò)渡金屬氧化物
1.4.3 導(dǎo)電聚合物
1.5 MoO_2作為超級(jí)電容器的電極材料
1.5.1 MoO_2的介紹
1.5.2 MoO_2的研究現(xiàn)狀
1.6 本論文的研究?jī)?nèi)容與研究意義
1.6.1 本論文的研究意義
1.6.2 本論文的研究?jī)?nèi)容
第2章 材料的制備、表征及測(cè)試
2.1 實(shí)驗(yàn)藥品與儀器
2.1.1 實(shí)驗(yàn)藥品
2.1.2 實(shí)驗(yàn)儀器
2.2 材料的制備
2.2.1 碳包覆MoO_2納米球/石墨烯復(fù)合材料的制備
2.2.2 石墨烯負(fù)載碳包覆MoO_2納米顆粒復(fù)合材料的制備
2.2.3 萌芽樹(shù)枝狀碳包覆MoO_2/碳納米管復(fù)合材料的制備
2.3 材料的表征
2.3.1 Zeta電位分析
2.3.2 X射線衍射分析(XRD)
2.3.3 掃描電子顯微鏡分析(SEM)
2.3.4 透射電子顯微鏡分析(TEM)
2.3.5 X射線光電子能譜分析(XPS)
2.3.6 拉曼光譜測(cè)試分析(Raman)
2.3.7 熱重分析(TGA)
2.3.8 比表面積測(cè)試分析(BET)
2.4 電化學(xué)性能測(cè)試方法
第3章 碳包覆Mo O_2納米球/石墨烯復(fù)合材料的表征及其超級(jí)電容器性能研究
3.1 引言
3.2 材料的表征
3.2.1 Zeta電位測(cè)試分析
3.2.2 X射線衍射分析(XRD)
3.2.3 掃描電子顯微鏡分析(SEM)
3.3 電化學(xué)儲(chǔ)能性能分析
3.3.1 超級(jí)電容器三電極測(cè)試
3.3.2 復(fù)合材料中的電子傳輸原理分析
3.4 本章小結(jié)
第4章 石墨烯負(fù)載碳包覆Mo O_2納米顆粒復(fù)合材料的表征及其超級(jí)電容性能研究
4.1 引言
4.2 材料的表征
4.2.1 X射線衍射分析(XRD)
4.2.2 掃描電子顯微鏡分析(SEM)
4.2.3 透射電子顯微鏡分析(TEM)
4.2.4 X射線光電子能譜分析(XPS)
4.2.5 拉曼光譜測(cè)試分析(Raman)
4.2.6 熱重分析(TGA)
4.2.7 比表面積測(cè)試分析(BET)
4.3 電化學(xué)儲(chǔ)能性能分析
4.3.1 超級(jí)電容器三電極測(cè)試
4.3.2 復(fù)合材料中的電子傳輸原理分析
4.3.3 非對(duì)稱(chēng)混合超級(jí)電容器性能測(cè)試
4.4 本章小結(jié)
第5章 萌芽樹(shù)枝狀碳包覆Mo O_2/碳納米管復(fù)合材料的表征及其超級(jí)電容性能研究
5.1 引言
5.2 材料的表征
5.2.1 X射線衍射分析(XRD)
5.2.2 掃描電子顯微鏡分析(SEM)
5.2.3 透射電子顯微鏡分析(TEM)
5.2.4 X射線光電子能譜分析(XPS)
5.2.5 拉曼光譜測(cè)試分析(Raman)
5.2.6 熱重分析(TGA)
5.2.7 比表面積測(cè)試分析(BET)
5.3 電化學(xué)儲(chǔ)能性能分析
5.3.1 超級(jí)電容器三電極測(cè)試
5.3.2 復(fù)合材料中的電子傳輸原理分析
5.3.3 非對(duì)稱(chēng)混合超級(jí)電容器性能測(cè)試
5.4 本章小結(jié)
第6章 結(jié)論
6.1 主要結(jié)論
6.2 創(chuàng)新點(diǎn)及意義
6.3 存在的問(wèn)題以及下一步工作的建議
致謝
參考文獻(xiàn)
附錄
本文編號(hào):3652872
【文章頁(yè)數(shù)】:74 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【文章目錄】:
摘要
abstract
第1章 緒論
1.1 引言
1.2 超級(jí)電容器概述
1.3 超級(jí)電容器的工作原理
1.3.1 雙電層電容
1.3.2 贗電容
1.4 超級(jí)電容器電極材料
1.4.1 碳材料
1.4.2 過(guò)渡金屬氧化物
1.4.3 導(dǎo)電聚合物
1.5 MoO_2作為超級(jí)電容器的電極材料
1.5.1 MoO_2的介紹
1.5.2 MoO_2的研究現(xiàn)狀
1.6 本論文的研究?jī)?nèi)容與研究意義
1.6.1 本論文的研究意義
1.6.2 本論文的研究?jī)?nèi)容
第2章 材料的制備、表征及測(cè)試
2.1 實(shí)驗(yàn)藥品與儀器
2.1.1 實(shí)驗(yàn)藥品
2.1.2 實(shí)驗(yàn)儀器
2.2 材料的制備
2.2.1 碳包覆MoO_2納米球/石墨烯復(fù)合材料的制備
2.2.2 石墨烯負(fù)載碳包覆MoO_2納米顆粒復(fù)合材料的制備
2.2.3 萌芽樹(shù)枝狀碳包覆MoO_2/碳納米管復(fù)合材料的制備
2.3 材料的表征
2.3.1 Zeta電位分析
2.3.2 X射線衍射分析(XRD)
2.3.3 掃描電子顯微鏡分析(SEM)
2.3.4 透射電子顯微鏡分析(TEM)
2.3.5 X射線光電子能譜分析(XPS)
2.3.6 拉曼光譜測(cè)試分析(Raman)
2.3.7 熱重分析(TGA)
2.3.8 比表面積測(cè)試分析(BET)
2.4 電化學(xué)性能測(cè)試方法
第3章 碳包覆Mo O_2納米球/石墨烯復(fù)合材料的表征及其超級(jí)電容器性能研究
3.1 引言
3.2 材料的表征
3.2.1 Zeta電位測(cè)試分析
3.2.2 X射線衍射分析(XRD)
3.2.3 掃描電子顯微鏡分析(SEM)
3.3 電化學(xué)儲(chǔ)能性能分析
3.3.1 超級(jí)電容器三電極測(cè)試
3.3.2 復(fù)合材料中的電子傳輸原理分析
3.4 本章小結(jié)
第4章 石墨烯負(fù)載碳包覆Mo O_2納米顆粒復(fù)合材料的表征及其超級(jí)電容性能研究
4.1 引言
4.2 材料的表征
4.2.1 X射線衍射分析(XRD)
4.2.2 掃描電子顯微鏡分析(SEM)
4.2.3 透射電子顯微鏡分析(TEM)
4.2.4 X射線光電子能譜分析(XPS)
4.2.5 拉曼光譜測(cè)試分析(Raman)
4.2.6 熱重分析(TGA)
4.2.7 比表面積測(cè)試分析(BET)
4.3 電化學(xué)儲(chǔ)能性能分析
4.3.1 超級(jí)電容器三電極測(cè)試
4.3.2 復(fù)合材料中的電子傳輸原理分析
4.3.3 非對(duì)稱(chēng)混合超級(jí)電容器性能測(cè)試
4.4 本章小結(jié)
第5章 萌芽樹(shù)枝狀碳包覆Mo O_2/碳納米管復(fù)合材料的表征及其超級(jí)電容性能研究
5.1 引言
5.2 材料的表征
5.2.1 X射線衍射分析(XRD)
5.2.2 掃描電子顯微鏡分析(SEM)
5.2.3 透射電子顯微鏡分析(TEM)
5.2.4 X射線光電子能譜分析(XPS)
5.2.5 拉曼光譜測(cè)試分析(Raman)
5.2.6 熱重分析(TGA)
5.2.7 比表面積測(cè)試分析(BET)
5.3 電化學(xué)儲(chǔ)能性能分析
5.3.1 超級(jí)電容器三電極測(cè)試
5.3.2 復(fù)合材料中的電子傳輸原理分析
5.3.3 非對(duì)稱(chēng)混合超級(jí)電容器性能測(cè)試
5.4 本章小結(jié)
第6章 結(jié)論
6.1 主要結(jié)論
6.2 創(chuàng)新點(diǎn)及意義
6.3 存在的問(wèn)題以及下一步工作的建議
致謝
參考文獻(xiàn)
附錄
本文編號(hào):3652872
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