高壓ZnO壓敏電阻的制備及電性能研究
發(fā)布時間:2021-03-31 03:15
氧化鋅壓敏電阻器是一種多功能半導(dǎo)體陶瓷元件,因其具有非線性歐姆特性優(yōu)良、能量吸收能力大等優(yōu)點,而被廣泛應(yīng)用于電子線路保護(hù)與電力系統(tǒng)等領(lǐng)域。隨著電子設(shè)備向小型化、輕量化發(fā)展,因此需要開發(fā)電性能更優(yōu)異的ZnO壓敏電阻器。本文分別研究了傳統(tǒng)添加劑(SnO2、Sb2O3)與稀土氧化物添加劑(Gd2O3、Y2O3、La2O3)在不同摻雜水平和不同燒結(jié)溫度下對ZnO壓敏電阻器樣品電性能的影響規(guī)律及作用機(jī)制。具體內(nèi)容如下:(1)采用高溫固相法分別制備了摻雜添加劑SnO2和Sb2O3的ZnO壓敏壓敏電阻系列樣品。采用X射線衍射、掃描電鏡和電性能測試手段分別對ZnO壓敏電阻樣品的微觀結(jié)構(gòu)及電性能進(jìn)行了測試與表征,分析了添加劑SnO2和Sb2O3對樣品電性能的影響規(guī)律及作用機(jī)制。結(jié)...
【文章來源】:西安電子科技大學(xué)陜西省 211工程院校 教育部直屬院校
【文章頁數(shù)】:79 頁
【學(xué)位級別】:碩士
【部分圖文】:
ZnO壓敏電阻器的U-I特性
1)ZnO 主體:由微米級的 ZnO 晶粒構(gòu)成,它是 ZnO 壓敏電阻的主要組成部nO 顆粒的電阻率極低,只有 0.001~0.1Ω.m;ZnO 屬于六方晶系中的纖鋅礦結(jié)如圖 1.3 所示,在這種結(jié)構(gòu)中,O 原子按六方密堆積排列構(gòu)成一個正四面體,原子套構(gòu)進(jìn)正四面體中,占據(jù)正四面體一半的空隙。根據(jù)奧雷布羅伊離子半徑 ZnO 中,O2-離子半徑為 1.38nm,Zn2+離子半徑為 0.074nm。ZnO 晶體屬于正配位,其陰、陽離子的配位數(shù)都是四。2)晶界層:主要是由添加劑經(jīng)過燒結(jié)形成的多種物相構(gòu)成,是富鉍相、尖晶焦綠石相等物質(zhì)的主要分布區(qū)域。ZnO 壓敏電阻的壓敏特性主要與晶界層有關(guān),在低電場下的電阻率很高,超過 108Ω.m;而在高電場下,晶界層則會處于導(dǎo),電阻率極低。3)尖晶石顆粒:由 ZnO 和 Sb2O3在燒結(jié)的過程中形成的復(fù)合氧化物,其中能它金屬氧化物,是產(chǎn)生“釘扎”效應(yīng)的主要物質(zhì)。4)空隙:它是分布在氧化鋅晶粒和晶界層內(nèi)的氣孔,是壓敏陶瓷燒結(jié)過程中缺陷。空隙的含量直接影響著壓敏陶瓷的均勻性,進(jìn)而影響壓敏性能。
1)ZnO 主體:由微米級的 ZnO 晶粒構(gòu)成,它是 ZnO 壓敏電阻的主要組成部nO 顆粒的電阻率極低,只有 0.001~0.1Ω.m;ZnO 屬于六方晶系中的纖鋅礦結(jié)如圖 1.3 所示,在這種結(jié)構(gòu)中,O 原子按六方密堆積排列構(gòu)成一個正四面體,原子套構(gòu)進(jìn)正四面體中,占據(jù)正四面體一半的空隙。根據(jù)奧雷布羅伊離子半徑 ZnO 中,O2-離子半徑為 1.38nm,Zn2+離子半徑為 0.074nm。ZnO 晶體屬于正配位,其陰、陽離子的配位數(shù)都是四。2)晶界層:主要是由添加劑經(jīng)過燒結(jié)形成的多種物相構(gòu)成,是富鉍相、尖晶焦綠石相等物質(zhì)的主要分布區(qū)域。ZnO 壓敏電阻的壓敏特性主要與晶界層有關(guān),在低電場下的電阻率很高,超過 108Ω.m;而在高電場下,晶界層則會處于導(dǎo),電阻率極低。3)尖晶石顆粒:由 ZnO 和 Sb2O3在燒結(jié)的過程中形成的復(fù)合氧化物,其中能它金屬氧化物,是產(chǎn)生“釘扎”效應(yīng)的主要物質(zhì)。4)空隙:它是分布在氧化鋅晶粒和晶界層內(nèi)的氣孔,是壓敏陶瓷燒結(jié)過程中缺陷?障兜暮恐苯佑绊懼鴫好籼沾傻木鶆蛐,進(jìn)而影響壓敏性能。
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]不同環(huán)境多脈沖雷電高壓下ZnO壓敏電阻的失效分析[J]. 張春龍,行鴻彥,李鵬飛,李春影,呂東波. 電瓷避雷器. 2018(04)
[2]包含壓敏電阻元件的低壓交流電涌保護(hù)器失效模式分析[J]. 李天密,鮑舒耕,黃貴君,任怡,趙強(qiáng),楊國華. 現(xiàn)代建筑電氣. 2016(11)
[3]ZnO壓敏陶瓷的研究進(jìn)展及發(fā)展前景[J]. 王先龍. 佛山陶瓷. 2016(07)
[4]Sn摻雜ZnO壓敏電阻器[J]. 劉明玲,汪志佳,孫美玲,高峰,郭勇. 技術(shù)與市場. 2016(03)
[5]氧化鋅壓敏電阻器低成本化制備技術(shù)研究進(jìn)展[J]. 祁明,陳秀麗,周煥福,方亮,褚冬進(jìn). 材料導(dǎo)報. 2014(S1)
[6]Co摻雜調(diào)控ZnO壓敏電阻交流老化特性[J]. 屠幼萍,鄭增輝,李曉. 中國科學(xué):技術(shù)科學(xué). 2013(07)
[7]稀土氧化物Pr2O3摻雜對高壓ZnO壓敏電阻性能的影響[J]. 劉桂香,徐光亮,羅慶平,查忠勇,馬寒冰. 復(fù)合材料學(xué)報. 2013(03)
[8]SiO2摻雜量對氧化鋅壓敏電阻性能的影響[J]. 段雷,許高杰,王永曄,王琴,李志祥,崔平. 人工晶體學(xué)報. 2009(S1)
[9]新型ZnO壓敏電阻片的研究進(jìn)展[J]. 王玉平,李盛濤. 電氣應(yīng)用. 2005(06)
[10]壓敏電阻陶瓷材料的研究進(jìn)展[J]. 邢曉東,謝道華,胡明. 電子元件與材料. 2004(02)
碩士論文
[1]Zn-Bi系壓敏陶瓷的低溫制備及性能研究[D]. 白海瑞.聊城大學(xué) 2018
[2]施主摻雜對氧化鋅壓敏陶瓷電性能的影響[D]. 王瀛洲.華南理工大學(xué) 2018
[3]摻雜CuO、Nb2O5和Sb2O3對ZnO壓敏陶瓷電性能及微結(jié)構(gòu)的影響[D]. 雷鎮(zhèn)全.廣西大學(xué) 2013
[4]高壓梯度ZnO壓敏電阻器的配方及制備工藝研究[D]. 鄭文奎.西安電子科技大學(xué) 2013
本文編號:3110676
【文章來源】:西安電子科技大學(xué)陜西省 211工程院校 教育部直屬院校
【文章頁數(shù)】:79 頁
【學(xué)位級別】:碩士
【部分圖文】:
ZnO壓敏電阻器的U-I特性
1)ZnO 主體:由微米級的 ZnO 晶粒構(gòu)成,它是 ZnO 壓敏電阻的主要組成部nO 顆粒的電阻率極低,只有 0.001~0.1Ω.m;ZnO 屬于六方晶系中的纖鋅礦結(jié)如圖 1.3 所示,在這種結(jié)構(gòu)中,O 原子按六方密堆積排列構(gòu)成一個正四面體,原子套構(gòu)進(jìn)正四面體中,占據(jù)正四面體一半的空隙。根據(jù)奧雷布羅伊離子半徑 ZnO 中,O2-離子半徑為 1.38nm,Zn2+離子半徑為 0.074nm。ZnO 晶體屬于正配位,其陰、陽離子的配位數(shù)都是四。2)晶界層:主要是由添加劑經(jīng)過燒結(jié)形成的多種物相構(gòu)成,是富鉍相、尖晶焦綠石相等物質(zhì)的主要分布區(qū)域。ZnO 壓敏電阻的壓敏特性主要與晶界層有關(guān),在低電場下的電阻率很高,超過 108Ω.m;而在高電場下,晶界層則會處于導(dǎo),電阻率極低。3)尖晶石顆粒:由 ZnO 和 Sb2O3在燒結(jié)的過程中形成的復(fù)合氧化物,其中能它金屬氧化物,是產(chǎn)生“釘扎”效應(yīng)的主要物質(zhì)。4)空隙:它是分布在氧化鋅晶粒和晶界層內(nèi)的氣孔,是壓敏陶瓷燒結(jié)過程中缺陷。空隙的含量直接影響著壓敏陶瓷的均勻性,進(jìn)而影響壓敏性能。
1)ZnO 主體:由微米級的 ZnO 晶粒構(gòu)成,它是 ZnO 壓敏電阻的主要組成部nO 顆粒的電阻率極低,只有 0.001~0.1Ω.m;ZnO 屬于六方晶系中的纖鋅礦結(jié)如圖 1.3 所示,在這種結(jié)構(gòu)中,O 原子按六方密堆積排列構(gòu)成一個正四面體,原子套構(gòu)進(jìn)正四面體中,占據(jù)正四面體一半的空隙。根據(jù)奧雷布羅伊離子半徑 ZnO 中,O2-離子半徑為 1.38nm,Zn2+離子半徑為 0.074nm。ZnO 晶體屬于正配位,其陰、陽離子的配位數(shù)都是四。2)晶界層:主要是由添加劑經(jīng)過燒結(jié)形成的多種物相構(gòu)成,是富鉍相、尖晶焦綠石相等物質(zhì)的主要分布區(qū)域。ZnO 壓敏電阻的壓敏特性主要與晶界層有關(guān),在低電場下的電阻率很高,超過 108Ω.m;而在高電場下,晶界層則會處于導(dǎo),電阻率極低。3)尖晶石顆粒:由 ZnO 和 Sb2O3在燒結(jié)的過程中形成的復(fù)合氧化物,其中能它金屬氧化物,是產(chǎn)生“釘扎”效應(yīng)的主要物質(zhì)。4)空隙:它是分布在氧化鋅晶粒和晶界層內(nèi)的氣孔,是壓敏陶瓷燒結(jié)過程中缺陷?障兜暮恐苯佑绊懼鴫好籼沾傻木鶆蛐,進(jìn)而影響壓敏性能。
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]不同環(huán)境多脈沖雷電高壓下ZnO壓敏電阻的失效分析[J]. 張春龍,行鴻彥,李鵬飛,李春影,呂東波. 電瓷避雷器. 2018(04)
[2]包含壓敏電阻元件的低壓交流電涌保護(hù)器失效模式分析[J]. 李天密,鮑舒耕,黃貴君,任怡,趙強(qiáng),楊國華. 現(xiàn)代建筑電氣. 2016(11)
[3]ZnO壓敏陶瓷的研究進(jìn)展及發(fā)展前景[J]. 王先龍. 佛山陶瓷. 2016(07)
[4]Sn摻雜ZnO壓敏電阻器[J]. 劉明玲,汪志佳,孫美玲,高峰,郭勇. 技術(shù)與市場. 2016(03)
[5]氧化鋅壓敏電阻器低成本化制備技術(shù)研究進(jìn)展[J]. 祁明,陳秀麗,周煥福,方亮,褚冬進(jìn). 材料導(dǎo)報. 2014(S1)
[6]Co摻雜調(diào)控ZnO壓敏電阻交流老化特性[J]. 屠幼萍,鄭增輝,李曉. 中國科學(xué):技術(shù)科學(xué). 2013(07)
[7]稀土氧化物Pr2O3摻雜對高壓ZnO壓敏電阻性能的影響[J]. 劉桂香,徐光亮,羅慶平,查忠勇,馬寒冰. 復(fù)合材料學(xué)報. 2013(03)
[8]SiO2摻雜量對氧化鋅壓敏電阻性能的影響[J]. 段雷,許高杰,王永曄,王琴,李志祥,崔平. 人工晶體學(xué)報. 2009(S1)
[9]新型ZnO壓敏電阻片的研究進(jìn)展[J]. 王玉平,李盛濤. 電氣應(yīng)用. 2005(06)
[10]壓敏電阻陶瓷材料的研究進(jìn)展[J]. 邢曉東,謝道華,胡明. 電子元件與材料. 2004(02)
碩士論文
[1]Zn-Bi系壓敏陶瓷的低溫制備及性能研究[D]. 白海瑞.聊城大學(xué) 2018
[2]施主摻雜對氧化鋅壓敏陶瓷電性能的影響[D]. 王瀛洲.華南理工大學(xué) 2018
[3]摻雜CuO、Nb2O5和Sb2O3對ZnO壓敏陶瓷電性能及微結(jié)構(gòu)的影響[D]. 雷鎮(zhèn)全.廣西大學(xué) 2013
[4]高壓梯度ZnO壓敏電阻器的配方及制備工藝研究[D]. 鄭文奎.西安電子科技大學(xué) 2013
本文編號:3110676
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