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少子壽命跟蹤在異質(zhì)結(jié)電池生產(chǎn)中的應(yīng)用

發(fā)布時(shí)間:2018-10-09 21:18
【摘要】:異質(zhì)結(jié)電池是量產(chǎn)的高效晶體硅太陽(yáng)電池之一,開發(fā)簡(jiǎn)單有效的監(jiān)控方案是規(guī);a(chǎn)的前題.通過(guò)監(jiān)測(cè)a-Si:H(i)/c-Si/a-Si:H(i),a-Si:H(p~+)/a-Si:H(i)/c-Si/a-Si:H(i)/a-Si:H(n~+),TCO/a-Si:H(p~+)/a-Si:H(i)/c-Si/aSi:H(i)/a-Si:H(n~+)三種異質(zhì)結(jié)的有效少子壽命來(lái)監(jiān)控太陽(yáng)電池生產(chǎn)過(guò)程中各層薄膜的沉積質(zhì)量,追蹤電池性能,結(jié)果發(fā)現(xiàn),各異質(zhì)結(jié)的隱性開壓(impliedVoc),贗填充因子(pFF)等在低于~2ms時(shí),與壽命呈明顯的正相關(guān)關(guān)系,而當(dāng)少子壽命超過(guò)~2ms時(shí),上述電參數(shù)變化很小,趨于飽和狀態(tài),最終的電池效率也遵循這一規(guī)律.這可以解釋為硅材料在非平衡態(tài)下的費(fèi)米能級(jí)之差隨著表面復(fù)合的減少趨于極大值所致.研究表明,采用少子壽命跟蹤的方法,可以判斷非晶硅層的質(zhì)量、透明氧化物薄膜沉積過(guò)程中對(duì)非晶硅的轟擊損傷、分析和預(yù)測(cè)電池性能,同時(shí)可監(jiān)控產(chǎn)線的穩(wěn)定性和異常情況.
[Abstract]:Heterojunction cell is one of the high-efficient crystal silicon solar cells with mass production. The development of simple and effective monitoring scheme is the precondition of large-scale production. By monitoring the effective minor carrier lifetime of a-Si:H (i) / c-Si / a-Si: h (i) / a-Si: h (p ~) -a-SiH (i) / c-Sia-Si: h (i) / a-Si: h (n~) / TCO-ra-Si: h (p~) / a-SivoH (i) / c-Sia-Siv-H / (i) / a-Siw (n~) three heterojunctions, the deposition quality of each layer of thin films in the solar cell production process was monitored, and the cell performance was tracked. The occult open pressure (impliedVoc), pseudo-filling factor (pFF) of each heterojunction is positively correlated with the lifetime when it is less than 2 Ms. When the minority carrier lifetime is longer than 2 Ms, the change of the above electrical parameters is very small and tends to be saturated. The final battery efficiency also follows this rule. This can be explained by the fact that the difference of Fermi level in the nonequilibrium state of silicon material tends to maximum with the decrease of surface recombination. The results show that the minority carrier lifetime tracking method can be used to judge the quality of amorphous silicon layer, damage the amorphous silicon by bombardment during the deposition process of transparent oxide film, and analyze and predict the performance of the battery. At the same time, it can monitor the stability and abnormal condition of the production line.
【作者單位】: 保定天威英利新能源有限公司光伏材料與技術(shù)國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;河北大學(xué)物理科學(xué)與技術(shù)學(xué)院;
【基金】:國(guó)家國(guó)際科技合作專項(xiàng)(編號(hào):2015DFE62900)資助項(xiàng)目
【分類號(hào)】:TM914.4

【參考文獻(xiàn)】

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【共引文獻(xiàn)】

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【二級(jí)參考文獻(xiàn)】

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本文編號(hào):2260826

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