【摘要】：隨著半導(dǎo)體發(fā)光二極管LED技術(shù)的迅速發(fā)展,LED光源的光效在不斷提高,成本不斷下降,與普通的白熾燈、熒光燈等相比,LED光源發(fā)光效率高,節(jié)能性好,壽命長,LED燈具己經(jīng)大范圍在生活中應(yīng)用。因為LED燈具所具有的長壽命特點使得其測試試驗時間較長,因此研究LED燈具的加速壽命試驗方法具有十分重要的意義。此外,由于LED在工作過程中將產(chǎn)生大量熱量,導(dǎo)致芯片結(jié)溫升高,嚴(yán)重影響到LED燈具的性能和壽命,因此對LED燈具散熱裝置進行散熱性能研究具有重要的意義。目前,針對LED燈具的壽命試驗中,比較常用的是采用單應(yīng)力進行的加速壽命試驗,為了降低試驗時間,本論文設(shè)計了溫度和濕度兩個應(yīng)力條件下的雙加速壽命試驗方案。同時,采用壽命評估方法對試驗所得的數(shù)據(jù)進行整理推算其壽命。針對LED燈具中散熱裝置的散熱效果研究,本論文采用FLOEFD仿真軟件與實際測量相結(jié)合的方法,對樣品燈具的不同散熱裝置的散熱效果及其對LED結(jié)溫的影響進行分析。本論文主要的工作內(nèi)容包括:(1)針對LED燈具壽命試驗,設(shè)計了以溫度應(yīng)力和濕度應(yīng)力作為加速應(yīng)力的加速壽命試驗,并以光通量衰減為初始光通量的70%作為失效判據(jù)進行檢測,有效縮短了試驗時間。(2)運用FLOEFD散熱仿真軟件對樣品燈具所采用的散熱裝置進行散熱仿真分析,并與實際測量的數(shù)據(jù)進行對比驗證。(3)對LED燈具加速壽命所得的光通量試驗數(shù)據(jù),運用以威布爾分布來描述產(chǎn)品的壽命分布,利用最小二乘法和阿倫尼斯模型、Peck模型對所得的試驗數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分析,最終外推得出正常應(yīng)力水平下產(chǎn)品的壽命。
[Abstract]:With the rapid development of LED technology, the light efficiency of LED light source is increasing and the cost is decreasing. Compared with ordinary incandescent lamp and fluorescent lamp, LED light source has high luminous efficiency and good energy saving. Long-life LED lamps have been widely used in life. Because of the long life characteristic of LED lamps, it is very important to study the accelerated life test method of LED lamps. In addition, because LED will produce a lot of heat in the working process, leading to the rise of chip junction temperature, which seriously affects the performance and life of LED lamps, so it is of great significance to study the heat dissipation performance of LED lamp heat dissipation device. At present, the accelerated life test with single stress is commonly used in the life test of LED lamps. In order to reduce the test time, this paper designs a double accelerated life test scheme under two stress conditions: temperature and humidity. At the same time, the life evaluation method is used to calculate the life of the test data. Aiming at the research of the heat dissipation effect of the heat dissipation device in LED lamps, this paper uses the method of FLOEFD simulation software and the actual measurement to analyze the heat dissipation effect of different heat dissipation devices of the sample lamps and the influence on the LED junction temperature. The main contents of this thesis are as follows: (1) the accelerated life test with temperature stress and humidity stress as accelerated stress is designed for LED lamp life test, and the flux attenuation is 70% of the initial luminous flux as the failure criterion. The test time is shortened effectively. (2) using FLOEFD simulation software to simulate and analyze the heat dissipation device used in the sample lamps, and comparing it with the actual measured data. (3) the luminous flux test data obtained from the accelerated life of LED lamps are compared and verified. The product life distribution is described by Weibull distribution, and the test data are statistically analyzed by using the least square method and the Arrhenis model Peck model. Finally, the life of the product under normal stress level is extrapolated.
【學(xué)位授予單位】：廈門理工學(xué)院
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2017
【分類號】：TM923.34

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本文編號：2136910