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超導材料的幾個力學問題

發(fā)布時間:2017-09-04 11:31

  本文關(guān)鍵詞:超導材料的幾個力學問題


  更多相關(guān)文章: 基本定理 臨界電流密度模型 功能梯度超導柱體 多重等參有限元法 斷裂分析 應力強度因子 能量釋放率


【摘要】:超導材料作為一種新型智能材料,近年來得到了廣泛研究,也形成了一套相對完整的理論體系。高溫超導體所具有的獨特性質(zhì)使其在電力技術(shù)、通信技術(shù)、機械制造技術(shù)等先進智能科技中得到了廣泛應用。但由于其為脆性材料,而且具有高臨界電流密度的高溫超導體在磁場或遷移流環(huán)境下工作時會受到較強的復雜電磁體力的作用,因此研究超導材料的力學特性和斷裂行為具有非常重要的意義。本文著重研究超導材料的相關(guān)力學問題,對基本力學理論在電磁材料上的擴展、超導材料力學行為與電磁特性之間的關(guān)系以及超導材料斷裂特性分析等問題進行了較為全面且深入的研究。具體工作如下:建立一個涉及到不同時刻的兩個力學過程的互易關(guān)系,然后利用這一關(guān)系得出解的唯一性定理和互易定理。接下來通過引入兩個外部系統(tǒng)的方法證明連續(xù)依賴性定理。最后推導出混合邊界-初值問題下的Hamilton變分原理。基于平截面假設和線性強化本構(gòu)理論,先求出扭矩和剪切應變之間的關(guān)系,接下來提出臨界電流密度和剪切應變之間的線性弱化關(guān)系。最后通過數(shù)值結(jié)果,討論與分析外加扭矩以及超導核心的材料特性,對于結(jié)構(gòu)內(nèi)遷移流的影響。用多重等參有限元方法研究含環(huán)形邊裂紋功能梯度超導柱體在電磁體力作用下的斷裂問題。定義一個裂紋影響區(qū)域,用以表示裂紋對磁通密度和臨界電流密度的影響。在裂紋影響區(qū)域內(nèi)采用磁不穿透裂紋表面條件,在結(jié)構(gòu)其余部分采用廣義Irie-Yamafuji臨界電流密度模型。首先分析零場冷卻和場冷卻兩個過程中的磁通密度的分布。然后利用多重等參有限元的方法數(shù)值上求解增加場和減小場兩個過程中的裂紋尖端應力強度因子。引入雙指數(shù)模型來研究內(nèi)含環(huán)形裂紋的功能梯度超導柱體的斷裂問題。其中所謂的雙指數(shù)模型就是材料的楊氏彈性模量沿徑向呈指數(shù)變化,并且臨界電流密度關(guān)于磁通密度呈指數(shù)變化。通過解析的方法將該裂紋問題轉(zhuǎn)化為求解一個對偶積分方程的問題,進而通過Schmidt方法解出裂紋尖端應力強度因子。最后通過數(shù)值結(jié)果研究外加磁場、模型參數(shù)、裂紋尺寸等對裂紋尖端應力強度因子的影響。研究遷移流作用下均勻超導柱體和功能梯度超導涂層間弧形界面裂紋的斷裂問題。首先在涂層區(qū)域內(nèi)提出擴展廣義Irie-Yamafuji臨界電流密度模型。接著計算遷移流增加和減小全過程中超導復合柱體內(nèi)的臨界電流密度和磁通密度的分布。最后數(shù)值上求解代數(shù)方程組進而得到形式較為簡單的裂紋尖端應力強度因子和能量釋放率。該研究將對超導復合結(jié)構(gòu)的設計與應用提供一定的幫助。
【關(guān)鍵詞】:基本定理 臨界電流密度模型 功能梯度超導柱體 多重等參有限元法 斷裂分析 應力強度因子 能量釋放率
【學位授予單位】:石家莊鐵道大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2016
【分類號】:TM26;O341
【目錄】:
  • 摘要3-5
  • abstract5-10
  • 第一章 緒論10-15
  • 1.1 選題背景與意義10-11
  • 1.2 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀11-13
  • 1.3 本文研究內(nèi)容及創(chuàng)新點13-15
  • 1.3.1 本文的主要內(nèi)容13
  • 1.3.2 本文的主要創(chuàng)新點13-15
  • 第二章 微態(tài)熱磁電彈材料中的一些基本定理15-33
  • 2.1 引言15
  • 2.2 基本方程與相關(guān)假設15-18
  • 2.2.1 基本方程15-17
  • 2.2.2 相關(guān)假設17-18
  • 2.3 互易定理18-22
  • 2.4 解的唯一性定理22-26
  • 2.5 連續(xù)依賴定理26-30
  • 2.6 Hamilton變分原理30-33
  • 第三章 Bi2223/Ag復合同心超導柱體的臨界電流扭矩依賴模型33-42
  • 3.1 引言33
  • 3.2 Bi2223/Ag復合同心柱體模型33-34
  • 3.3 臨界電流的扭矩依賴模型34-37
  • 3.3.1 扭矩與最外層剪應變的關(guān)系34-36
  • 3.3.2 臨界電流與最外層剪應變的關(guān)系36-37
  • 3.4 數(shù)值結(jié)果與討論37-41
  • 3.5 本章小結(jié)41-42
  • 第四章 含環(huán)形邊裂紋功能梯度超導柱體在平行磁場作用下的斷裂問題42-59
  • 4.1 引言42
  • 4.2 問題描述和基本方程42-44
  • 4.2.1 材料特性模型42-43
  • 4.2.2 臨界電流密度模型43-44
  • 4.3 磁通密度的分布及電磁體力44-51
  • 4.3.1 增加場ZFC磁化過程44-46
  • 4.3.2 減小場46-51
  • 4.3.2.1 ZFC過程46-48
  • 4.3.2.2 FC磁化過程48-51
  • 4.4 多重等參有限元法及裂紋尖端應力強度因子51-52
  • 4.5 數(shù)值結(jié)果與討論52-58
  • 4.6 本章小結(jié)58-59
  • 第五章 含環(huán)形裂紋功能梯度超導柱體的斷裂問題59-70
  • 5.1 引言59
  • 5.2 問題描述及基本解59-63
  • 5.2.1 雙指數(shù)模型60
  • 5.2.2 減小場場冷卻(FC)磁化過程中的磁通分布60-61
  • 5.2.3 裂紋尖端應力強度因子(SIFs)61-63
  • 5.3 數(shù)值結(jié)果與討論63-69
  • 5.4 本章小結(jié)69-70
  • 第六章 遷移流作用下超導柱體和功能梯度涂層間弧形界面裂紋的斷裂分析70-85
  • 6.1 引言70
  • 6.2 問題描述與基本方程70-76
  • 6.2.1 材料特性模型71
  • 6.2.2 臨界電流密度模型71
  • 6.2.3 遷移流作用下臨界電流密度和磁通密度的分布71-75
  • 6.2.3.1 遷移流增加過程71-73
  • 6.2.3.2 遷移流減小過程73-75
  • 6.2.4 裂紋尖端應力強度因子和能量釋放率75-76
  • 6.3 數(shù)值結(jié)果和討論76-84
  • 6.4 本章小結(jié)84-85
  • 第七章 結(jié)論與展望85-87
  • 7.1 結(jié)論85-86
  • 7.2 展望86-87
  • 參考文獻87-92
  • 致謝92-93
  • 附錄A93-96
  • 個人簡歷、在學期間的研究成果及發(fā)表的學術(shù)論文96-97

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本文編號:791286

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