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退火溫度對(duì)ZnO納米棒紫外探測(cè)性能的影響

發(fā)布時(shí)間:2022-12-11 21:40
  通過(guò)水熱法在氧化銦錫(ITO)玻璃襯底上制備出不同退火溫度的ZnO納米棒,利用X射線(xiàn)衍射(XRD)、掃描電子顯微鏡(SEM)、光譜響應(yīng)曲線(xiàn)和I-V特性曲線(xiàn)對(duì)不同退火溫度的ZnO納米棒的表面形貌、微觀結(jié)構(gòu)以及紫外探測(cè)性能進(jìn)行深入研究。結(jié)果表明,當(dāng)退火溫度從300℃逐漸升高至350℃時(shí),ZnO納米棒變得致密和均勻,表現(xiàn)為六方纖鋅礦結(jié)構(gòu),同時(shí)納米棒結(jié)晶性能優(yōu)異且缺陷少;當(dāng)退火溫度高于350℃時(shí),ZnO納米棒變得稀疏、缺陷較多、結(jié)晶質(zhì)量降低。通過(guò)光譜響應(yīng)曲線(xiàn)和I-V特性曲線(xiàn)得出當(dāng)退火溫度為350℃時(shí),響應(yīng)度具有最大值為4.651 A/W,光電流為1.508μA。 

【文章頁(yè)數(shù)】:5 頁(yè)

【文章目錄】:
0 引言
1 實(shí)驗(yàn)
2 結(jié)果與討論
    2.1 形貌分析
    2.2 結(jié)構(gòu)分析
    2.3 光譜響應(yīng)曲線(xiàn)分析
    2.4 I-V特性曲線(xiàn)分析
3 結(jié)論



本文編號(hào):3719549

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