退火溫度對(duì)ZnO納米棒紫外探測(cè)性能的影響
發(fā)布時(shí)間:2022-12-11 21:40
通過水熱法在氧化銦錫(ITO)玻璃襯底上制備出不同退火溫度的ZnO納米棒,利用X射線衍射(XRD)、掃描電子顯微鏡(SEM)、光譜響應(yīng)曲線和I-V特性曲線對(duì)不同退火溫度的ZnO納米棒的表面形貌、微觀結(jié)構(gòu)以及紫外探測(cè)性能進(jìn)行深入研究。結(jié)果表明,當(dāng)退火溫度從300℃逐漸升高至350℃時(shí),ZnO納米棒變得致密和均勻,表現(xiàn)為六方纖鋅礦結(jié)構(gòu),同時(shí)納米棒結(jié)晶性能優(yōu)異且缺陷少;當(dāng)退火溫度高于350℃時(shí),ZnO納米棒變得稀疏、缺陷較多、結(jié)晶質(zhì)量降低。通過光譜響應(yīng)曲線和I-V特性曲線得出當(dāng)退火溫度為350℃時(shí),響應(yīng)度具有最大值為4.651 A/W,光電流為1.508μA。
【文章頁數(shù)】:5 頁
【文章目錄】:
0 引言
1 實(shí)驗(yàn)
2 結(jié)果與討論
2.1 形貌分析
2.2 結(jié)構(gòu)分析
2.3 光譜響應(yīng)曲線分析
2.4 I-V特性曲線分析
3 結(jié)論
本文編號(hào):3719549
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1 實(shí)驗(yàn)
2 結(jié)果與討論
2.1 形貌分析
2.2 結(jié)構(gòu)分析
2.3 光譜響應(yīng)曲線分析
2.4 I-V特性曲線分析
3 結(jié)論
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