層狀過渡金屬硫屬化物的制備及光電性質研究
發(fā)布時間:2022-08-10 12:55
過渡金屬硫屬化物(transition metal dichalcogenide,TMDc),作為二維材料中重要的一員,由于具有適中的禁帶寬度、高載流子遷移率、厚度薄等優(yōu)點從而在微納光電、電子器件方面具有重要的應用價值。目前,基于TMDc材料的場效應晶體管的載流子遷移率能夠達到10 cm~2·V-1·s-1以上,開關比能夠達到10~6以上;在光電探測應用方面,能對可見至近紅外光源實現高效探測。但是,目前TMDc材料在光電器件應用領域還存在以下兩個問題。第一、為實現TMDc材料光電、電子器件的廣泛應用,器件的時間響應速率、光增益等性能還有待進一步提高。第二、為實現TMDc材料光電、電子器件的集成化應用,需要研究高效率、大面積的TMDc材料制備方法。因此,本文為解決上述的兩個瓶頸問題,本論文主要開展了以下工作:第一、對于場效應晶體管器件而言,載流子遷移率是一個非常重要的性能指標。根據第一性原理的仿真結果表明HfSe2在眾多TMDc材料中具有極高的載流子遷移率。本文研究了HfSe2、MoS2
【文章頁數】:64 頁
【學位級別】:碩士
【文章目錄】:
摘要
Abstract
第一章 緒論
1.1 引言
1.2 二維材料的種類
1.3 二維材料的制備
1.3.1 微機械剝離法
1.3.2 液相超聲剝離法
1.3.3 化學氣相沉積法
1.4 二維材料在光電、電子器件領域的應用研究
1.4.1 單一二維材料光電、電子器件
1.4.2 二維材料復合結構光電、電子器件
1.4.3 本文主要研究內容
第二章 基于過渡金屬硫屬化物的場效應晶體管
2.1 引言
2.2 MoS_2、HfSe_2納米片制備
2.3 MoS_2、HfSe_2納米片的表征
2.3.1 光學顯微鏡
2.3.2 原位拉曼光譜
2.4 MoS_2、HfSe_2場效應晶體管的制備工藝
2.5 MoS_2、HfSe_2場效應晶體管的測試
2.5.1 I_d-V_(ds)特性
2.5.2 V_g-I_d轉移特性
2.6 本章小結
第三章 基于MoS_2-CdSe量子點復合結構的光電探測器
3.1 引言
3.2 制備工藝
3.3 光電探測器的測試
3.3.1 I_d-V_(ds)特性
3.3.2 V_g-I_d轉移特性
3.3.3 光電流與響應度
3.3.4 時間響應特性
3.4 機理分析
3.5 本章小結
第四章 MoS_2的化學氣相沉積制備工藝研究
4.1 引言
4.2 化學氣相沉積法制備MoS_2
4.2.1 實驗材料及設備
4.2.2 實驗過程
4.3 材料表征
4.3.1 掃描電子顯微鏡表征
4.3.2 EDS能譜表征
4.3.3 拉曼光譜表征
4.4 本章小結
第五章 總結與展望
5.1 總結
5.2 展望
致謝
參考文獻
作者簡介
本文編號:3673674
【文章頁數】:64 頁
【學位級別】:碩士
【文章目錄】:
摘要
Abstract
第一章 緒論
1.1 引言
1.2 二維材料的種類
1.3 二維材料的制備
1.3.1 微機械剝離法
1.3.2 液相超聲剝離法
1.3.3 化學氣相沉積法
1.4 二維材料在光電、電子器件領域的應用研究
1.4.1 單一二維材料光電、電子器件
1.4.2 二維材料復合結構光電、電子器件
1.4.3 本文主要研究內容
第二章 基于過渡金屬硫屬化物的場效應晶體管
2.1 引言
2.2 MoS_2、HfSe_2納米片制備
2.3 MoS_2、HfSe_2納米片的表征
2.3.1 光學顯微鏡
2.3.2 原位拉曼光譜
2.4 MoS_2、HfSe_2場效應晶體管的制備工藝
2.5 MoS_2、HfSe_2場效應晶體管的測試
2.5.1 I_d-V_(ds)特性
2.5.2 V_g-I_d轉移特性
2.6 本章小結
第三章 基于MoS_2-CdSe量子點復合結構的光電探測器
3.1 引言
3.2 制備工藝
3.3 光電探測器的測試
3.3.1 I_d-V_(ds)特性
3.3.2 V_g-I_d轉移特性
3.3.3 光電流與響應度
3.3.4 時間響應特性
3.4 機理分析
3.5 本章小結
第四章 MoS_2的化學氣相沉積制備工藝研究
4.1 引言
4.2 化學氣相沉積法制備MoS_2
4.2.1 實驗材料及設備
4.2.2 實驗過程
4.3 材料表征
4.3.1 掃描電子顯微鏡表征
4.3.2 EDS能譜表征
4.3.3 拉曼光譜表征
4.4 本章小結
第五章 總結與展望
5.1 總結
5.2 展望
致謝
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作者簡介
本文編號:3673674
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