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PbS量子點(diǎn)/MoO 3 納米帶復(fù)合材料的低溫氣敏性能研究

發(fā)布時(shí)間:2021-10-28 20:43
  采用液相法制備PbS量子點(diǎn)修飾MoO3納米帶復(fù)合材料。利用XRD、FESEM、TEM、EDS等表征手段分析樣品組成、結(jié)構(gòu)與形貌,分別將MoO3納米帶、PbS量子點(diǎn)、PbS量子點(diǎn)/MoO3納米帶組裝成陶瓷管氣敏元件并測試其對(duì)NH3的氣敏性能。結(jié)果表明,在低溫(20100℃)下PbS量子點(diǎn)/MoO3納米帶復(fù)合材料對(duì)NH3具有良好檢測能力,最低測試限為10 ppm。由于PbS量子點(diǎn)均勻分布在MoO3納米帶表面可形成異質(zhì)結(jié)界面,這可有助于電子、空穴的分離,從而顯著改善電子傳輸性能和氣敏特性。 

【文章來源】:人工晶體學(xué)報(bào). 2017,46(08)北大核心CSCD

【文章頁數(shù)】:8 頁

【文章目錄】:
1 引言
2 實(shí)驗(yàn)
    2.1 Pb S量子點(diǎn)/Mo O3納米帶的制備
        2.1.1 Mo O3納米帶的制備
        2.1.2 Pb S量子點(diǎn)的制備
        2.1.3 Pb S量子點(diǎn)/Mo O3納米帶復(fù)合材料的制備
    2.2 基于Pb S量子點(diǎn)/Mo O3納米帶氣敏元件的組裝及氣敏性能測試
3 結(jié)果與討論
    3.1 Pb S量子點(diǎn)/Mo O3納米帶的表征
    3.2 Pb S量子點(diǎn)/Mo O3納米帶的氣敏性能
4 結(jié)論


【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]納米材料的表面修飾與應(yīng)用[J]. 張萬忠,喬學(xué)亮,陳建國,王洪水.  化工進(jìn)展. 2004(10)

碩士論文
[1]摻雜MoO3納米晶體及MoO3復(fù)合物的制備及其氣敏性能研究[D]. 陳超.北京化工大學(xué) 2015



本文編號(hào):3463324

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