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類陽極氧化鋁納米結構LED的研究

發(fā)布時間:2021-09-11 20:14
  LED具有高效、節(jié)能和環(huán)保等優(yōu)勢,廣泛應用于照明領域,提高LED的發(fā)光效率一直是該領域的研究難點與熱點。為了降低GaN材料與空氣界面的全反射現(xiàn)象,提高光提取效率,本研究探討了類陽極氧化鋁AAO(Anodic aluminum oxide)納米結構LED器件的制備和性能。通過電感耦合等離子體(Inductively coupled plasma, ICP)刻蝕工藝的調控,在p-GaN層表面制備了大面積有序孔洞納米結構陣列,可獲得孔徑250~500nm,孔深50~150nm的準光子晶體結構,從而大幅提高了LED的發(fā)光強度,其中孔徑400 nm、深度150 nm的納米陣列LED相比于沒有納米陣列的LED發(fā)光強度提高達3.5倍。 

【文章來源】:無機材料學報. 2020,35(05)北大核心EISCICSCD

【文章頁數(shù)】:6 頁

【部分圖文】:

類陽極氧化鋁納米結構LED的研究


納米結構LED芯片制備流程圖

孔徑分布,刻蝕,孔徑分布,照片


圖2 分別刻蝕60、120、180和240 s后的AAO膜的SEM照片(a1~a4)和分別統(tǒng)計(a1~a4)中的孔徑分布圖(b1~b4)

變化曲線,刻蝕,孔徑,內量子效率


圖2 分別刻蝕60、120、180和240 s后的AAO膜的SEM照片(a1~a4)和分別統(tǒng)計(a1~a4)中的孔徑分布圖(b1~b4)破壞有源發(fā)光層會減少LED有源層的有效發(fā)光面積,并造成納米結構表面的非輻射復合[10],從而降低LED的內量子效率。需要嚴格控制刻蝕時間,將刻蝕深度控制在200 nm以內以免破壞有源層從而導致LED內量子效率降低,圖4(a)中納米結構的深度約為150 nm。

【參考文獻】:
期刊論文
[1]用于GaN基發(fā)光二極管的藍寶石圖形襯底制備進展[J]. 崔林,汪桂根,張化宇,周福強,韓杰才.  無機材料學報. 2012(09)



本文編號:3393648

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