采用有限元分析方法,研究了一種n型壓電半導(dǎo)體納米線（氧化鋅）的電熱耦合性能,分析了外部溫度對(duì)氧化鋅納米線內(nèi)部機(jī)械場(chǎng)、電場(chǎng)及電流場(chǎng)分布的影響,并討論了本構(gòu)方程線性化對(duì)電學(xué)參數(shù)的影響。研究結(jié)果表明,溫度對(duì)氧化鋅納米線的電場(chǎng)、載流子濃度和電流密度影響很大,采用線性本構(gòu)和非線性本構(gòu)求得的電場(chǎng)、電子濃度和電流密度最大相差分別為24%,32%和68%,基于非線性本構(gòu)分析壓電半導(dǎo)體的電學(xué)性能會(huì)引起很大誤差。該研究結(jié)果可為壓電半導(dǎo)體器件利用溫度調(diào)控電場(chǎng)、電流提供理論依據(jù)。 

【文章來(lái)源】：半導(dǎo)體光電. 2020,41(03)北大核心

【文章頁(yè)數(shù)】：6 頁(yè)

【部分圖文】：

壓電半導(dǎo)體納米線示意圖

圖2 位移沿納米線的分布

電勢(shì)沿納米線的分布

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]壓電半導(dǎo)體桿中的機(jī)械場(chǎng)、電場(chǎng)與載流子分布研究（英文）[J]. Chun-li ZHANG,Xiao-yuan WANG,Wei-qiu CHEN,Jia-shi YANG.  Journal of Zhejiang University-Science A（Applied Physics & Engineering）. 2016(01)
[2]Piezotronics and piezo-phototronics: fundamentals and applications[J]. ZhongLin Wang,Wenzhuo Wu.  National Science Review. 2014(01)



本文編號(hào)：3096317