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基于核孔膜納米復(fù)合材料的鹽差能轉(zhuǎn)化研究

發(fā)布時(shí)間:2020-11-22 04:18
   隨著工業(yè)化的進(jìn)程,化石能源的大量使用帶來了嚴(yán)重的環(huán)境污染問題,尋找清潔無污染的替代能源成為人類社會可持續(xù)發(fā)展的關(guān)鍵問題。江河入?跐舛忍荻戎刑N(yùn)藏的鹽差能被認(rèn)為是一種潛在的清潔無污染的能源。本論文是以荷能重離子徑跡刻蝕的方法制備核孔膜納米復(fù)合材料,并以此來研究多孔體系中能量轉(zhuǎn)化的機(jī)制。首先,我們研究了在串聯(lián)體系中,不同電解質(zhì)的能量轉(zhuǎn)化的影響因素。我們發(fā)現(xiàn),系統(tǒng)的電能轉(zhuǎn)化能力與電解質(zhì)的種類、納米孔兩端的濃度梯度、納米孔的幾何尺寸以及表面電荷密度有密切的關(guān)系。通過選擇合適的電解質(zhì)和納米孔,我們能夠得到更大的能量轉(zhuǎn)化效率。其次,我們以海水中廣泛存在的NaCl溶液為例,對能量轉(zhuǎn)化與離子選擇性膜表面電荷密度的關(guān)系做了進(jìn)一步研究。結(jié)果表明,能量轉(zhuǎn)化與陰陽離子膜表面電荷密度配比有關(guān)。在總表面電荷密度相等的情況下,陰離子選擇性膜表面電荷密度略小于陽離子選擇性膜時(shí),獲得最高的電功率。最后,我們通過熱力學(xué)分析和數(shù)值模擬的方法研究了納流體能量轉(zhuǎn)化中的孔密度依賴性。傳統(tǒng)觀點(diǎn)認(rèn)為電功率隨著孔密度的增加而增加。然而,我們發(fā)現(xiàn)功率密度隨著孔密度增加表現(xiàn)為非線性。過高的孔密度降低了離子選擇性并在納米孔的低濃度端產(chǎn)生濃差極化,最終削弱電能轉(zhuǎn)化的能力。存在最佳的孔密度使鹽差發(fā)電體系達(dá)到最大的功率密度。本工作對納流體系能量轉(zhuǎn)化做了深入研究,揭示了影響納流體系鹽差發(fā)電的物理機(jī)制,為設(shè)計(jì)更高效的納流系統(tǒng)提供了一定指導(dǎo)意義。
【學(xué)位單位】:廈門大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位年份】:2018
【中圖分類】:TM91;TB33
【部分圖文】:

原理圖,徑跡,刻蝕,納米孔


性己被廣泛應(yīng)用[2Q,21],它們通常是在高溫(800°C)汽相中化學(xué)氣相沉積在硅基??底上制備的。通過反應(yīng)離子或濕法刻蝕在硅基板上制備一個(gè)微米大小的口,然后??用離子束或電子束轟擊SiN表面打出納米孔(圖1.5)。這種方法達(dá)到了對最終孔??尺寸的高度控制121,22],能夠大量的應(yīng)用。大部分SiN薄膜中的納米孔直徑都低于??100mr^23]。SiN和Si02中的納米孔被用來研究單鏈DNA在孔中的遷移行為。在??2〇〇1年,人們第一次測得了單鏈DNA通過固態(tài)納米孔的電流變化如今,還沒??有證據(jù)表明使用固態(tài)納米孔進(jìn)行DNA測序的低分辨率是由于納米孔的厚度引起??的。??electronBfe??or?ion??beam?Wm??Si?wafer?SiN?deposition?Si?etching??圖1.5?5舊納米孔制備過程[181??Fig.?1.5?Fabrication?process?of?nanopore?in?SiN??9??

納米孔


PET?film??cylindrical??圖1.4徑跡刻蝕原理[18]??Fig.?1.4?Principle?of?the?track-etch?technique??SiN和Si02薄膜(通常從十納米到幾百納米)由于其低應(yīng)力和高的化學(xué)穩(wěn)定??性己被廣泛應(yīng)用[2Q,21],它們通常是在高溫(800°C)汽相中化學(xué)氣相沉積在硅基??底上制備的。通過反應(yīng)離子或濕法刻蝕在硅基板上制備一個(gè)微米大小的口,然后??用離子束或電子束轟擊SiN表面打出納米孔(圖1.5)。這種方法達(dá)到了對最終孔??尺寸的高度控制121,22],能夠大量的應(yīng)用。大部分SiN薄膜中的納米孔直徑都低于??100mr^23]。SiN和Si02中的納米孔被用來研究單鏈DNA在孔中的遷移行為。在??2〇〇1年,人們第一次測得了單鏈DNA通過固態(tài)納米孔的電流變化如今,還沒??有證據(jù)表明使用固態(tài)納米孔進(jìn)行DNA測序的低分辨率是由于納米孔的厚度引起??的。??electronBfe??or?ion??beam?Wm??Si?wafer?SiN?deposition?Si?etching??圖1.5?5舊納米孔制備過

側(cè)門,納米孔,測序,測序技術(shù)


圖1.6?2-D石墨烯納米孔:(a)通過將石墨烯片安裝在中空的Si3N4晶片上然后??在中心孔鉆孔而而制備石墨稀納米孔;(b)在5?nm孔中實(shí)現(xiàn)dsDNA分子的構(gòu)??象分析??Fig.?1.6?Graphene-based?2-D?nanopore:?(a)?The?graphene?nanopore?was?obtained?by??mounting?a?graphene?sheet?on?a?hollow?Si3N4?wafer?followed?by?pore?drilling?in?the??center;?(b)?Conformational?analysis?of?dsDNA?molecules?was?achieved?in?a?5?nm?pore??第三代測序?yàn)閱畏肿訙y序,是基于納米孔的一種測序技術(shù)。經(jīng)過近20年的??發(fā)展,納米孔測序己經(jīng)成為DNA測序的主要方式。提高數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的分辨率??和靈敏度是促進(jìn)DNA測序技術(shù)發(fā)展的一種方法[36]。目前,全世界的研宄人員都??在積極進(jìn)行納米孔測序的研宄,各國公司也在積極致力于打破測序設(shè)備能力的極??P艮,因此,納米孔測序在DNA測序技術(shù)中有巨大的潛力。??1.4.2納米孔的離子選擇性??
【參考文獻(xiàn)】

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本文編號:2894112

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