過渡族金屬碳(氮)化物基薄膜的強韌化設(shè)計及其摩擦學(xué)性能研究
【學(xué)位單位】:吉林大學(xué)
【學(xué)位級別】:博士
【學(xué)位年份】:2019
【中圖分類】:TB383.2
【部分圖文】:
圖 1.1 TiN薄膜的直流濺射過程示意圖[2]。1 Schematic diagram of the DC-sputtering system for deposition of Ti過濺射法而獲得的靶材原子或分子最終在基底上形核、生長而成膜射鍍膜。在此過程中,非熱平衡狀態(tài)的逸出粒子首先通過物理吸附,并與其它粒子發(fā)生相互作用。粒子到達基底時的能量、粒子與基能以及基底的溫度等條件共同決定著粒子在基底表面上的遷移能基底時的能量較低,與基底之間的結(jié)合能較大,且存在較低的基底子極易被基底捕獲而停留其表面并開始形核。然而,當(dāng)粒子到達基高,與基底材料之間的結(jié)合能力較弱,且基底溫度較高時,則濺射面上的遷移能力明顯增加而易與其它粒子先后發(fā)生碰撞、結(jié)合、形粒子自身的表面遷移能力再度增加時,粒子最終將脫離基底的束縛
1.2):島狀生長模式(Volmer-Weber growth mode);層狀生長模式(Frank-van derMerwe growth mode);混合生長模式(Stranski-krastanov growth mode)。圖1.2 薄膜材料的生長模式示意圖:(a)島狀生長,(b)層狀生長,(c)島狀與層狀混合生長[1]。Fig.1.2 Schematic diagram of growth modes for the films: (a) Island(Volmer-Weber), (b) Layer by Layer (Frank-Van der Merwe), and (c)Stranski-Krastanov growth.島狀生長模式(Volmer-Weber, island)的出現(xiàn)主要由于基底表面上粒子間的結(jié)合能遠(yuǎn)高于粒子與基底材料間的結(jié)合能,故而這些粒子先于基底上形成最小穩(wěn)定基團并以此為形核點沿著三維(3D)方向生長成納米島。隨著納米島的長大以及彼此之間的相互接觸最終形成連續(xù)的薄膜, 如圖1.2a。當(dāng)薄膜與基底是異質(zhì)材料時,薄膜一般以這種模式生長。而層狀生長模式(Frank-Van der Merwe,Layer byLayer)通常為最小穩(wěn)定基團在基底材料上形核后沿著二維(2D)方向延展最終成膜的過程,如圖 1.2b。層狀生長模式的產(chǎn)生主要歸因于基底表面上粒子之間的結(jié)合能明顯低于粒子與基底之間的結(jié)合能,且層間作用力隨層數(shù)的累積而減弱。典型的半導(dǎo)體類、金屬氮化物類薄膜材料均按照層狀模式而外延生長;旌仙L模式(島狀 層狀
cos sif………………………………(1.1)fsi cos…………………………………(1.2)其中 f和 s分別是薄膜材料、基底材料的表面能, i是介于薄膜材料與基底材料間的界面能, 為接觸角決定著潤濕或非潤濕的情況[4]。當(dāng) s i f時,則 0 ,此時薄膜的生長模式為島狀生長。顯然,只有當(dāng)薄膜的表面能大于基底的表面能時,薄膜才可能按照島狀模式生長。在陶瓷或半導(dǎo)體基底上沉積的金屬薄膜通常以島狀模式生長且而易形成金屬團簇。而當(dāng) s i f時, 0 ,此時薄膜與基底接近完全潤濕,薄膜以層狀模式生長。對于互為同質(zhì)材料的基底和薄膜來說( i 0),若想實現(xiàn)層狀生長模式則需要薄膜和基底之間的表面能差異很小;旌仙L模式是指最初薄膜以 2D層狀生長模式為主,當(dāng)發(fā)展到臨界厚度時由晶格失配集聚產(chǎn)生的應(yīng)變能促使其向 3D島狀生長模式轉(zhuǎn)變。
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