柔性CuS透明導(dǎo)電薄膜的制備及性能研究
【圖文】:
Tab. 2-2 Instruments and equipmen型號 CRESBOX 日UV-2550 日DELTA320 梅特勒D/MAX-2500 德Nanosem 430S-4800日—— 法,分別在酸性、堿性環(huán)境示:
天津大學(xué)碩士學(xué)位論文并計算網(wǎng)格內(nèi)物質(zhì)的剝落率,得出薄膜附著力等級[68,69]。2.4.6 抗撓曲性測試為了研究彎曲操作對 CuS 薄膜性能的影響,采用如圖 2-2(a)所示的薄膜彎曲測試裝置對樣品的導(dǎo)電性進(jìn)行測試。裝置由距離調(diào)節(jié)單元、帶有電極的薄膜夾具和電阻測試單元 3 個部分組成。在測試開始前,將樣品固定在薄膜夾具兩側(cè)的電極上,,測量時調(diào)節(jié)兩個相對電極之間的距離,薄膜樣品的曲率半徑隨之改變通過顯示器上的數(shù)據(jù)就可以獲得不同曲率半徑下導(dǎo)電膜電阻值。圖 2-2(b)為薄膜彎曲過程的示意圖。測試從薄膜未彎曲時開始,通過移動電極位置逐步減小薄膜的曲率半徑,可以獲得薄膜在彎曲過程中膜層電阻的變化值。
【學(xué)位授予單位】:天津大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2018
【分類號】:TB383.2;O614.121
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3 蔡s
本文編號:2690784
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