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含氮和無(wú)氮的碳化鍺薄膜鍵合結(jié)構(gòu)和性質(zhì)研究

發(fā)布時(shí)間:2017-03-20 03:06

  本文關(guān)鍵詞:含氮和無(wú)氮的碳化鍺薄膜鍵合結(jié)構(gòu)和性質(zhì)研究,由筆耕文化傳播整理發(fā)布。


【摘要】:碳化鍺(Ge_(1-x)C_x)薄膜具有優(yōu)良的光學(xué)和力學(xué)性能,這些特點(diǎn)使其可以應(yīng)用為紅外增透保護(hù)膜材料和半導(dǎo)體薄膜材料,并引起了研究者的廣泛關(guān)注。迄今為止,對(duì)碳化鍺薄膜的研究取得了顯著的成就,然而尚且存在如下不足:(1)已有研究表明碳含量是影響碳化鍺薄膜硬度的一個(gè)重要因素,但是文獻(xiàn)報(bào)道的硬度結(jié)果差異較大,鍵合結(jié)構(gòu)對(duì)硬度影響的微觀機(jī)制尚不清楚;(2)碳化鍺薄膜存在硬度低和光學(xué)帶隙窄兩個(gè)不足。這兩個(gè)缺點(diǎn)共同導(dǎo)致碳化鍺薄膜作為紅外增透保護(hù)膜時(shí),難以在高速飛行條件下使用,如何提高硬度和光學(xué)帶隙是亟待解決的問題。針對(duì)以上問題,本文利用磁控濺射方法,以CH_4、Ar、N_2為放電氣體,制備了Ge_(1-x)C_x和Ge_(1-x-y)C_yN_x:H薄膜。通過X射線光電子能譜(XPS)、傅立葉紅外變換光譜(FTIR)、拉曼光譜(Raman)、原子力顯微鏡(AFM)、掃描電子顯微鏡(SEM)、紫外-可見-近紅外分光光度計(jì)(UV-VIS-NIR)、輪廓儀、納米壓痕儀等手段表征薄膜的鍵合結(jié)構(gòu)、光學(xué)性質(zhì)及力學(xué)性質(zhì)。主要發(fā)現(xiàn)點(diǎn)如下:(1)碳含量(x)顯著影響著Ge_(1-x)C_x薄膜的鍵合結(jié)構(gòu)和硬度。當(dāng)碳含量較低時(shí)(x0.17),薄膜中主要存在著Ge-Ge鍵,使其接近于純Ge網(wǎng)絡(luò)。當(dāng)碳含量較高時(shí)(x0.40),薄膜中大量的sp2C-C鍵使其接近于石墨結(jié)構(gòu)。因此,過低和過高的碳含量都不利于形成高硬度的Ge_(1-x)C_x薄膜。相比之下,當(dāng)0.17x0.40時(shí),大量sp~3C-Ge鍵的形成促進(jìn)了共價(jià)鍵網(wǎng)絡(luò)的形成,使得Ge_(1-x)C_x薄膜硬度提升。研究發(fā)現(xiàn),sp~3C-Ge鍵濃度是影響Ge_(1-x)C_x薄膜硬度的重要因素。(2)氮的引入能顯著改善碳化鍺薄膜的光學(xué)及力學(xué)性能。隨著氮的引入,Ge_(1-x-y)C_yN_x:H薄膜中Ge含量基本維持不變,同時(shí)C含量降低,N含量升高,即C原子逐漸被N原子所取代。薄膜的折射率從3.0持續(xù)降低到2.3,這是由于N原子取代C原子之后,分子極化率的降低;薄膜的光學(xué)帶隙從1.11eV升高到1.56eV,這是由于強(qiáng)的Ge-N鍵取代相對(duì)弱的Ge-C鍵,從而提高了電子的平均束縛能;硬度從6.25GPa提高到11.73GPa,這是由于Ge-N鍵取代Ge-C鍵后,鍵能增加,同時(shí)形成共價(jià)網(wǎng)絡(luò);薄膜的Urbach帶尾寬度從198.77meV增加到327.94meV,這主要?dú)w因于介電系數(shù)的下降,而非結(jié)構(gòu)無(wú)序度的影響;但是當(dāng)?shù)砍^9.7%時(shí),薄膜的遠(yuǎn)紅外透過率降低,這是由于Ge-N鍵取代Ge-C鍵之后,鍵能的增加使得晶格振動(dòng)頻率增大。綜上,作為紅外增透保護(hù)膜時(shí),存在著最優(yōu)的氮含量范圍。
【關(guān)鍵詞】:碳化鍺 鍺碳氮 鍵合結(jié)構(gòu) 力學(xué)性質(zhì) 光學(xué)性質(zhì)
【學(xué)位授予單位】:吉林大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2016
【分類號(hào)】:TB383.2
【目錄】:
  • 摘要4-6
  • Abstract6-10
  • 第一章 緒論10-24
  • 1.1 引言10
  • 1.2 碳化鍺薄膜的制備方法10-12
  • 1.2.1 磁控濺射法10-11
  • 1.2.2 化學(xué)氣相沉積11
  • 1.2.3 脈沖激光沉積11
  • 1.2.4 離子濺射11-12
  • 1.3 碳化鍺薄膜的鍵合結(jié)構(gòu)和性質(zhì)12-22
  • 1.3.1 碳化鍺薄膜的鍵合結(jié)構(gòu)12-13
  • 1.3.2 碳化鍺薄膜的性質(zhì)13-22
  • 1.4 研究依據(jù)與主要內(nèi)容22-24
  • 第二章 薄膜的制備與表征24-30
  • 2.1 磁控濺射的工作原理24-26
  • 2.2 樣品的制備26-27
  • 2.3 樣品的表征27-30
  • 第三章 碳含量對(duì)碳化鍺薄膜鍵合結(jié)構(gòu)和硬度的影響30-38
  • 3.1 引言30
  • 3.2 碳含量對(duì)碳化鍺薄膜成分和鍵合結(jié)構(gòu)的影響30-34
  • 3.3 碳化鍺薄膜硬度隨碳含量的演變及機(jī)制34-37
  • 3.4 本章小結(jié)37-38
  • 第四章 氮引入對(duì)碳化鍺薄膜成分、鍵合結(jié)構(gòu)、光學(xué)及力學(xué)性能影響的研究38-60
  • 4.1 引言38
  • 4.2 氮引入對(duì)碳化鍺薄膜成分和鍵合結(jié)構(gòu)的影響38-47
  • 4.2.1 氮引入對(duì)碳化鍺薄膜化學(xué)成分的影響38-40
  • 4.2.2 氮引入對(duì)碳化鍺薄膜結(jié)構(gòu)和表面形貌的影響40-43
  • 4.2.3 氮引入對(duì)碳化鍺薄膜化學(xué)鍵的影響43-47
  • 4.3 氮引入對(duì)碳化鍺薄膜光學(xué)和力學(xué)性質(zhì)的影響47-58
  • 4.3.1 氮引入對(duì)碳化鍺薄膜折射率的影響47-50
  • 4.3.2 氮引入對(duì)碳化鍺薄膜光學(xué)帶隙的影響50-52
  • 4.3.3 氮引入對(duì)碳化鍺薄膜Urbach帶尾寬度的影響52-54
  • 4.3.4 氮引入對(duì)碳化鍺薄膜紅外透過性的影響54-56
  • 4.3.5 氮引入對(duì)碳化鍺薄膜硬度的影響56-58
  • 4.4 本章小結(jié)58-60
  • 第五章 結(jié)論60-62
  • 參考文獻(xiàn)62-72
  • 碩士期間所獲得科研成果72-74
  • 致謝74

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  本文關(guān)鍵詞:含氮和無(wú)氮的碳化鍺薄膜鍵合結(jié)構(gòu)和性質(zhì)研究,由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

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本文編號(hào):257041

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