發(fā)布時間：2017-08-29 17:42

  本文關鍵詞：含運動副間隙平面軌跡機構的可靠性設計

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【摘要】：針對平面軌跡機構,提出一種同時考慮尺寸公差和運動副間隙的機構可靠性設計方法。首先應用截尾降維方法處理機構運動誤差函數(shù)中的運動副間隙變量,以此建立機構各輸出分量的誤差概率模型,并以各運動分量誤差的聯(lián)合概率密度函數(shù)求解機構運動的綜合可靠度。在此基礎上,建立以機構結構誤差最小為目標和機構運動的綜合可靠度為約束的機構可靠性設計模型。最后給出數(shù)值實例對所提方法的有效性進行驗證。
【作者單位】： 西華大學機械工程學院;
【關鍵詞】： 軌跡機構 運動副間隙 可靠性設計
【基金】：國家自然科學基金項目(51275425) 四川省教育廳項目(12zz008)資助
【分類號】：TH112
【正文快照】： 機構綜合包括函數(shù)機構綜合、軌跡機構綜合和剛體導引機構綜合,因此軌跡生成機構的綜合是機構綜合的重要內(nèi)容。近年來,學者們更多的是針對軌跡生成機構的優(yōu)化綜合進行深入研究,特別關注軌跡機構優(yōu)化綜合模型的有效性和求解算法的高效性。在算法方面,各種進化算法(如遺傳算法[1-

【相似文獻】

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本文編號：754605