本文關(guān)鍵詞：新型低溫閥門性能測試系統(tǒng)的研究，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

【摘要】：低溫閥門通常是指工作溫度在-40°C以下的閥門。隨著現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)、工業(yè)生產(chǎn)、新能源開發(fā)以及航空航天事業(yè)的發(fā)展,低溫閥門已在很多場合得以應(yīng)用,并且規(guī)模日漸增大。近年來,我國加快了低溫閥門新產(chǎn)品的研發(fā),但與之相配套的低溫閥門性能測試系統(tǒng)卻發(fā)展緩慢。傳統(tǒng)測試裝置自動化程度低、測試精度低、測試成本高,嚴(yán)重阻礙了低溫閥門領(lǐng)域的技術(shù)發(fā)展。由于該種閥門多工作在-100°C以下的超低溫區(qū)域,所以對其材料選擇、結(jié)構(gòu)設(shè)計、制造工藝以及性能檢測等方面均有專門的要求。特別是針對性能檢測方面,除了要滿足常溫下性能要求,還必須進行低溫工況測試。低溫閥門性能檢測方法和設(shè)備是保證其密封和使用壽命的重要因素,測試的效率與準(zhǔn)確度直接影響低溫閥門的生產(chǎn)成本與質(zhì)量,具有十分重要的意義。結(jié)合低溫閥門性能測試系統(tǒng)的特點,研究了國內(nèi)外低溫閥門性能測試系統(tǒng)的發(fā)展。針對傳統(tǒng)測試裝置的不足,利用現(xiàn)代控制技術(shù)在傳統(tǒng)測試裝置的基礎(chǔ)上對測控系統(tǒng)、機械裝置和低溫介質(zhì)回路及檢漏裝置為重點介紹了系統(tǒng)主要組成部分的設(shè)計思路,闡述了系統(tǒng)設(shè)計要求,并以儀表通訊、PCI總線和工控機為重點,對系統(tǒng)整體進行設(shè)計分析,提出一種新型低溫閥門性能自動檢測系統(tǒng)和檢測方法。然后闡述了新型低溫閥門性能測試系統(tǒng)的機械裝置設(shè)計計算與硬件選型,包括閥桿開關(guān)性能自動操作機構(gòu)設(shè)計、深冷箱自動開關(guān)壓緊機構(gòu)設(shè)計和低溫介質(zhì)管路及低溫深冷箱設(shè)計。同時對低溫介質(zhì)管路進行了絕熱性能分析和輸送特性分析。接下來文章以測控部分為重點,分別闡述了傳感器和數(shù)據(jù)采集卡的設(shè)計選型及系統(tǒng)抗干擾設(shè)計�？刂栖浖糠忠訪ab VIEW為核心,詳細(xì)介紹了程序初始界面、參數(shù)設(shè)置界面和主界面的設(shè)計,并對主界面中主要功能模塊,如數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)處理、數(shù)據(jù)顯示、控制輸出等完成了前面板和程序框圖設(shè)計分析。最后對低溫閥門性能自動測試系統(tǒng)的發(fā)展做出了總結(jié)與展望。本系統(tǒng)可以進行低溫閥門性能測試及質(zhì)量檢驗,并實現(xiàn)測試操作的自動化與智能化。
【關(guān)鍵詞】：低溫閥門 測試系統(tǒng) LabVIEW 自動化 智能化
【學(xué)位授予單位】：上海工程技術(shù)大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2015
【分類號】：TH134;TP274
【目錄】：

• 中文摘要6-8
• abstract8-12
• 第一章 緒論12-23
• 1.1 低溫閥門性能測試技術(shù)的概況12-17
• 1.2 虛擬儀器概述17-18
• 1.3 課題的研究內(nèi)容和研究意義18-22
• 1.4 本章小結(jié)22-23
• 第二章 新型低溫閥門性能測試系統(tǒng)總體設(shè)計23-30
• 2.1 新型低溫閥門性能測試系統(tǒng)簡介23-26
• 2.2 新型低溫閥門性能測試系統(tǒng)設(shè)計要求26-27
• 2.3 新型低溫閥門性能測試系統(tǒng)整體設(shè)計27-29
• 2.4 本章小結(jié)29-30
• 第三章 新型低溫閥門性能測試系統(tǒng)機械裝置設(shè)計30-44
• 3.1 機械裝置概述30
• 3.2 閥桿開關(guān)性能自動操作機構(gòu)設(shè)計30-34
• 3.3 深冷箱自動開關(guān)壓緊機構(gòu)設(shè)計34-37
• 3.4 低溫介質(zhì)管路設(shè)計37-41
• 3.4.1 絕熱性能設(shè)計38-39
• 3.4.2 輸送特性理論分析39-41
• 3.5 低溫深冷箱設(shè)計41-43
• 3.6 本章小結(jié)43-44
• 第四章 新型低溫閥門性能測試系統(tǒng)控制系統(tǒng)設(shè)計44-78
• 4.1 控制系統(tǒng)硬件設(shè)計44-52
• 4.1.1 傳感器的選型44-48
• 4.1.2 數(shù)據(jù)采集卡的選型設(shè)計48-50
• 4.1.3 數(shù)據(jù)采集抗干擾措施50-52
• 4.2 Lab VIEW概述52-60
• 4.2.1 圖形化編程LabVIEW與開發(fā)環(huán)境52-53
• 4.2.2 LabVIEW應(yīng)用特點53-55
• 4.2.3 LabVIEW程序主要組成與模塊55-60
• 4.3 基于LabVIEW的控制系統(tǒng)軟件設(shè)計60-77
• 4.3.1 控制系統(tǒng)軟件總體設(shè)計60-61
• 4.3.2 初始界面設(shè)計61-63
• 4.3.3 測試參數(shù)設(shè)置63-64
• 4.3.4 主界面設(shè)計64-77
• 4.4 本章小結(jié)77-78
• 第五章 總結(jié)與展望78-80
• 5.1 全文總結(jié)78-79
• 5.2 展望79-80
• 參考文獻80-83
• 攻讀碩士學(xué)位期間發(fā)表的學(xué)術(shù)論文及取得的相關(guān)科研成果83-84
• 致謝84-85

【參考文獻】

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本文編號：261462