超聲鍵合振動與層間熱應力對MEMS器件影響的研究
【圖文】:
圖 1-1 超聲引線鍵合系統(tǒng)Fig.1-1 Ultrasonic wire bonding system 層間熱應力對 MEMS 器件的影響ESM 器件在使用的過程中經(jīng)常伴隨著高溫環(huán)境,而在 MEMS 器件封基板結構是比較常見的封裝形式。芯片和基板需要通過粘接劑連接,部各組件材料的熱膨脹系數(shù)(CTE)的不同,在這種高溫的環(huán)境下,粘接層和基板會相對于封裝中心產(chǎn)生熱膨脹,導致粘接層間會產(chǎn)生界大的界面應力會使封裝內(nèi)部的芯片和基板產(chǎn)生熱應力變形。因為器片上刻蝕各種各樣的微機械結構器件,所以一旦產(chǎn)生變形就會使其生誤差,,也就是常說的溫度漂移現(xiàn)象,嚴重的可能導致芯片碎裂從而此可知,引線鍵合和熱失配引起的界面層應力對 MEMS 器件的失效的作用。因此在提高 MEMS 器件的質量和可靠性的時候,我們需要鍵合和熱失配引起的界面應力對 MEMS 器件的影響。
圖 1-2 失效形式Fig.1-2 Failure form1.3 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀目前世界上對 MEMS 器件的研究還沒有一個科學、有效的分析方法和實驗手段,因此對于其可靠性還處在摸索當中。保證 MEM 器件穩(wěn)定可靠性工作的核心主要是能夠找到產(chǎn)品在生產(chǎn)和使用的周期內(nèi)產(chǎn)生失效的原因,以便來確定其失效模式,通過運用科學的方法對這些失效的模式進行分析并且決問題。美國 Sandia 國家實驗室是研究 MEMS 可靠性的先驅。在 1997 到 1999 的三年時間里其對 MEMS 可靠性進行了大量的研究。Sandia 實驗室在不同環(huán)境下對微發(fā)動機進行了失效模式的研究,并且最終開發(fā)出了微機械表面摩擦磨損的理論模型,事實證明其比較可靠。此模型綜合考慮了強度、黏附磨損、臨界體積等各種各樣的因素。在與現(xiàn)實中的物理實驗得出的結論相比較中發(fā)現(xiàn)此模型結果與其非常的接近,具有很好的實用意義。美國噴氣推進實驗室(JPL)1999 年發(fā)布了《MEMS 空間應用的可靠性保障指
【學位授予單位】:西南科技大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2018
【分類號】:TH-39
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本文編號:2609471
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