本文關鍵詞：電子元器件老化試驗臺計量測試技術研究

  更多相關文章： 試驗臺 計量測試 μC/OS 實時性 TEC溫控

【摘要】：隨著半導體技術的革新,電子元器件在工業(yè)生產(chǎn)、國防軍事等領域應用越來越廣泛。這些元器件成為構成各類電子設備的基礎單元,國內(nèi)現(xiàn)行通過二次篩選對電子元器件進行質(zhì)量控制,國防部門通過建立元器件試驗臺來進行二次篩選,以提高設備的可靠性和裝機質(zhì)量。因此研究一種針對電子元器件老化試驗臺的計量測試技術,實現(xiàn)對試驗臺輸出信號的準確可靠計量,具有十分重要的意義。本文在研究國內(nèi)外計量測試技術的基礎上,分析了電子元器件老化試驗臺自身特點,開發(fā)設計一套計量測試系統(tǒng),并完成的系統(tǒng)的軟件平臺搭建,最后對系統(tǒng)進行了功能驗證與性能評估。本文的主要研究內(nèi)容如下:首先,完成了系統(tǒng)總體方案設計。根據(jù)電子元器件老化試驗臺環(huán)境封閉、內(nèi)部工作溫度惡劣以及實時數(shù)據(jù)采集困難的特點,綜合考慮計量測試設備的功能要求和技術指標,進行了系統(tǒng)的整體方案設計,對關鍵單元的設計進行了詳細論述,為后續(xù)軟硬件設計提供了必要保障與指引。其次,完成了系統(tǒng)的硬件設計。整個硬件系統(tǒng)包括六個單元:取樣單元、數(shù)據(jù)采集單元、STM32控制器、數(shù)據(jù)傳輸單元、溫度控制單元和供電單元。在進行了硬件系統(tǒng)的整體分析基礎上,分別對各單元的器件選取、參數(shù)選取,電路設計等進行了詳細論述。再次,完成了系統(tǒng)的軟件設計。整個軟件系統(tǒng)以實時操作系統(tǒng)μC/OS為核心,完成了μC/OS操作系統(tǒng)在STM32芯片的移植,并開發(fā)設計了各硬件單元的內(nèi)核驅動程序,完成了上位機應用程序和下位機應用程序的開發(fā)。最后,搭建系統(tǒng)的整體測試平臺。對系統(tǒng)進行了數(shù)據(jù)采集功能、SD卡存儲功能、紅外傳輸功能、溫度控制功能的功能驗證,并對系統(tǒng)進行不確定度評定,完成性能評估。實驗結果表明,本文設計的電子元器件老化試驗臺計量測試技術能夠實現(xiàn)對內(nèi)部信號的準確計量測試,性能優(yōu)異。
【學位授予單位】：哈爾濱工業(yè)大學
【學位級別】：碩士
【學位授予年份】：2016
【分類號】：TN606

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本文編號：1185068