傳統(tǒng)的過(guò)零檢測(cè)電路由光耦和晶體管組成,其待機(jī)功耗約占整個(gè)應(yīng)用的待機(jī)功耗的50%。羅姆公司通過(guò)分析全球數(shù)百種電源模式和應(yīng)用環(huán)境,率先成功開發(fā)出無(wú)光耦的過(guò)零檢測(cè)IC"BM1Zxxx FJ系列"。該產(chǎn)品無(wú)需光耦就可以進(jìn)行過(guò)零檢測(cè),功耗極低,可將正常通電時(shí)的過(guò)零檢測(cè)電路的待機(jī)功耗降至0.01W。 

【文章來(lái)源】：中國(guó)電子商情(基礎(chǔ)電子). 2020年08期 第18-19頁(yè)

【文章頁(yè)數(shù)】：2 頁(yè)

【部分圖文】：

羅姆過(guò)零檢測(cè)IC與使用光耦的電路比較

ROHM過(guò)零檢測(cè)IC有豐富產(chǎn)品系列，可輕松替換以往的過(guò)零檢測(cè)電路


本文編號(hào)：2910697