統(tǒng)計(jì)模型中突變檢測(cè)的加權(quán)殘差方法
發(fā)布時(shí)間:2021-05-08 14:42
自上世紀(jì)70年代以來(lái),變點(diǎn)問(wèn)題一直是統(tǒng)計(jì)中的一個(gè)熱門(mén)課題。其在工業(yè)質(zhì)量控制、經(jīng)濟(jì)、金融、醫(yī)學(xué)及計(jì)算機(jī)等領(lǐng)域有著大量的應(yīng)用和背景。變點(diǎn)問(wèn)題是指:在一個(gè)序列或過(guò)程中,其潛在機(jī)制是否發(fā)生了改變,何時(shí)發(fā)生了改變及發(fā)生了怎樣的改變。該問(wèn)題的研究在統(tǒng)計(jì)理論與實(shí)際應(yīng)用中都有重要的意義和價(jià)值。本文共分三章。第一章,簡(jiǎn)要介紹了變點(diǎn)問(wèn)題的基本知識(shí)及研究概況。第二章,在Ⅳ模型中引入基于殘差的加權(quán)滑動(dòng)和(Weighted-MOSUM, Weighted Moving Sum)的最值方法,并證明其在特征量與躍度不正交的條件下,當(dāng)δ=1/2時(shí)具有非平凡勢(shì),而當(dāng)O≤δ<1/2時(shí),則是相合的。第三章,在Ⅳ模型中引入基于殘差的加權(quán)累積和(Weighted-CUSUM)的Cramer-VonMises方法,并證明其在特征量與躍度不正交的條件下,當(dāng)δ=1/2時(shí)具有非平凡勢(shì),而當(dāng)0≤δ<1/2時(shí),則是相合的。最后,通過(guò)隨機(jī)模擬驗(yàn)證了所提方法的有效性。
【文章來(lái)源】:西北大學(xué)陜西省 211工程院校
【文章頁(yè)數(shù)】:46 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【文章目錄】:
中文摘要
英文摘要
第一章 緒論
§1.1 引言
§1.2 常見(jiàn)模型中的方法
第二章 Ⅳ模型中變點(diǎn)檢測(cè)的MOSUM方法
§2.1 引言
§2.2 統(tǒng)計(jì)模型及其變點(diǎn)檢驗(yàn)問(wèn)題
§2.3 變點(diǎn)檢測(cè)
§2.4 隨機(jī)模擬
第三章 Ⅳ模型中變點(diǎn)檢測(cè)的Cramer-Von Mises方法
§3.1 引言
§3.2 統(tǒng)計(jì)模型及其變點(diǎn)檢測(cè)問(wèn)題
§3.3 變點(diǎn)檢測(cè)
§3.4 隨機(jī)模擬
參考文獻(xiàn)
附錄
攻讀碩士學(xué)位期間取得的科研成果
致謝
本文編號(hào):3175518
【文章來(lái)源】:西北大學(xué)陜西省 211工程院校
【文章頁(yè)數(shù)】:46 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
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第一章 緒論
§1.1 引言
§1.2 常見(jiàn)模型中的方法
第二章 Ⅳ模型中變點(diǎn)檢測(cè)的MOSUM方法
§2.1 引言
§2.2 統(tǒng)計(jì)模型及其變點(diǎn)檢驗(yàn)問(wèn)題
§2.3 變點(diǎn)檢測(cè)
§2.4 隨機(jī)模擬
第三章 Ⅳ模型中變點(diǎn)檢測(cè)的Cramer-Von Mises方法
§3.1 引言
§3.2 統(tǒng)計(jì)模型及其變點(diǎn)檢測(cè)問(wèn)題
§3.3 變點(diǎn)檢測(cè)
§3.4 隨機(jī)模擬
參考文獻(xiàn)
附錄
攻讀碩士學(xué)位期間取得的科研成果
致謝
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