在生產(chǎn)過程中,常見的是對過程均值的監(jiān)控,而忽略過程方差的監(jiān)控。然而對過程方差的監(jiān)控也很重要,比如在制造業(yè)行業(yè)中,使用劣質(zhì)的原材料,雇傭不熟練的工人,零件磨損問題等都有可能導致過程方差異常,而其均值卻沒有什么影響。S²控制圖常被用于過程方差監(jiān)控,而其均假設過程方差已知,實際中,參數(shù)通常未知。本文使用新的準則評價參數(shù)估計對S²控制圖的影響,同時推出新的S²控制圖,改進其監(jiān)控過程方差的表現(xiàn)。本文主要研究內(nèi)容和貢獻如下:（1）基于條件平均運行鏈長分布評價參數(shù)估計對上單側(cè)S²圖、下單側(cè)S²圖、雙側(cè)S²圖的影響。（2）因為參數(shù)估計嚴重影響S²圖的監(jiān)控效果,故設計新的上單側(cè)S²圖、下單側(cè)S²圖、雙側(cè)S²圖,改進其條件表現(xiàn)。 

【文章來源】：浙江工商大學浙江省

【文章頁數(shù)】：59 頁

【學位級別】：碩士

【部分圖文】：

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單側(cè)滬控制圖ｒ?＝?０．１３３４，故新的下單側(cè)滬控制圖的下控制限??＝１‘＜＾。２？＿／（？－１）?＝?０．０３７３。將監(jiān)控統(tǒng)計量分別打在下單側(cè)滬控制圖和新的下??單側(cè)Ｓ２控制圖，結(jié)果如下：??■—??


本文編號：3105269