本文關鍵詞：面向電子元器件質(zhì)量控制的關鍵技術與系統(tǒng)研究，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

【摘要】：隨著近年來我國航空航天事業(yè)的蓬勃發(fā)展，航空航天產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性要求也越來越高。電子元器件行業(yè)處于航天系統(tǒng)供應鏈的末端，保證其產(chǎn)品質(zhì)量穩(wěn)定、可靠，提高企業(yè)質(zhì)量管理和控制能力，既是航天系統(tǒng)的必然要求，也是企業(yè)提高自身競爭力的重要手段。 傳統(tǒng)的電子元器件行業(yè)是典型的多品種小批量生產(chǎn)模式，質(zhì)量控制停留在事后檢驗水平，而且檢驗后的質(zhì)量數(shù)據(jù)缺乏共享和利用，目前大量質(zhì)量報表的生成依賴于手工操作，效率低下，再加上規(guī)格型號眾多，很難對這些產(chǎn)品進行統(tǒng)計過程分析，也無法及時發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)過程中出現(xiàn)的質(zhì)量問題，給企業(yè)的產(chǎn)品質(zhì)量帶來極大風險，電子元器件行業(yè)在質(zhì)量管理和控制方面面臨巨大的壓力。 本文在對電子元器件行業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量管理及控制相關的業(yè)務流程梳理和分析基礎上，，總結歸納了目前這類企業(yè)在質(zhì)量控制方面存在的關鍵問題和業(yè)務瓶頸，然后基于相關業(yè)務流程對于質(zhì)量檢驗過程中的檢驗標準和檢驗數(shù)據(jù)類型進行分解和重組，構建了電子元器件行業(yè)的質(zhì)量信息模型。結合采集到的質(zhì)量數(shù)據(jù)對于電子元器件行業(yè)的統(tǒng)計過程控制理論進行了分析，并基于相似性工序和數(shù)據(jù)變換理論生成行業(yè)的質(zhì)量控制圖。通過生產(chǎn)流程的分析，對于行業(yè)質(zhì)量異常因素的來源進行了研究和總結，并結合BP神經(jīng)網(wǎng)絡的相關知識，對于控制圖的模式識別進行了研究，總結了一般異常及特殊異常的識別方法，并為企業(yè)人員提供一系列異常排除的思路。最后結合全文的相關理論設計并開發(fā)了面向電子元器件行業(yè)的質(zhì)量管理及控制系統(tǒng)。通過系統(tǒng)的實際應用，極大的提高了這類企業(yè)對于產(chǎn)品質(zhì)量的管理和控制能力，提升了企業(yè)的工作效率。
【關鍵詞】：電子元器件行業(yè) 數(shù)據(jù)采集 統(tǒng)計過程控制 模式識別
【學位授予單位】：北京理工大學
【學位級別】：碩士
【學位授予年份】：2015
【分類號】：V468;V443
【目錄】：

• 摘要5-6
• Abstract6-10
• 第1章 緒論10-22
• 1.1 研究背景及意義10-12
• 1.1.1 研究背景10
• 1.1.2 研究意義10-12
• 1.2 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀12-18
• 1.2.1 統(tǒng)計過程控制研究現(xiàn)狀12-15
• 1.2.2 質(zhì)量數(shù)據(jù)采集技術研究現(xiàn)狀15-16
• 1.2.3 控制圖模式識別研究現(xiàn)狀16-18
• 1.3 研究內(nèi)容及論文結構18-22
• 第2章 電子元器件生產(chǎn)過程工藝質(zhì)量研究22-36
• 2.1 電子元器件行業(yè)生產(chǎn)現(xiàn)狀分析22-25
• 2.1.1 生產(chǎn)特點分析22-23
• 2.1.2 生產(chǎn)信息載體分析23-25
• 2.2 電子元器件生產(chǎn)工藝流程分析25-26
• 2.3 電子元器件檢驗流程分析26-30
• 2.3.1 原材料質(zhì)量檢驗流程分析26-29
• 2.3.2 制造過程質(zhì)量檢驗流程分析29
• 2.3.3 成品質(zhì)量檢驗流程分析29-30
• 2.4 質(zhì)量管理及控制問題分析30-32
• 2.5 基于關鍵工序的產(chǎn)品質(zhì)量控制32-34
• 2.5.1 刻槽工序控制33
• 2.5.2 點焊工序控制33-34
• 2.5.3 精調(diào)工序控制34
• 2.6 本章小結34-36
• 第3章 電子元器件行業(yè)質(zhì)量信息管理技術研究36-50
• 3.1 質(zhì)量信息分析36-40
• 3.1.1 質(zhì)量信息來源36-37
• 3.1.2 質(zhì)量信息結構分析37-40
• 3.2 質(zhì)量信息采集技術研究40-43
• 3.2.1 質(zhì)量信息采集方法40-42
• 3.2.2 基于條形碼的信息采集42-43
• 3.3 面向?qū)ο蟮馁|(zhì)量信息建模技術43-45
• 3.4 質(zhì)量信息管理系統(tǒng)總體設計思想45-48
• 3.4.1 系統(tǒng)的數(shù)據(jù)要求45-46
• 3.4.2 系統(tǒng)的基本功能46-47
• 3.4.3 系統(tǒng)體系結構設計47-48
• 3.5 本章小結48-50
• 第4章 面向電子元器件的質(zhì)量控制方法研究50-70
• 4.1 統(tǒng)計過程控制基礎理論50-56
• 4.1.1 控制圖簡介50-51
• 4.1.2 控制圖的基本功能51
• 4.1.3 控制圖的理論基礎51-53
• 4.1.4 常用控制圖統(tǒng)計基礎53-56
• 4.2 質(zhì)量控制圖在電子元器件行業(yè)應用的局限性56-57
• 4.3 電子元器件行業(yè)質(zhì)量控制圖應用研究57-65
• 4.3.1 相似工序分組方法研究57-58
• 4.3.2 基于相似工序的質(zhì)量數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換58-63
• 4.3.3 工序過程能力分析63-65
• 4.4 應用舉例65-69
• 4.5 本章小結69-70
• 第5章 電子元器件控制圖模式識別技術研究70-88
• 5.1 控制圖異常模式研究70-79
• 5.1.1 工序質(zhì)量異常原因分析70-71
• 5.1.2 異常模式介紹71-77
• 5.1.3 特殊異常模式數(shù)學建模77-79
• 5.2 基于 BP 神經(jīng)網(wǎng)絡的控制圖異常模式識別79-84
• 5.2.1 BP 神經(jīng)網(wǎng)絡簡介79-81
• 5.2.2 控制圖模式識別網(wǎng)絡設計81-84
• 5.3 實例驗證84-86
• 5.4 本章小結86-88
• 第6章 質(zhì)量管理及控制系統(tǒng)應用實例88-102
• 6.1 系統(tǒng)的開發(fā)環(huán)境88-89
• 6.1.1 開發(fā)平臺88
• 6.1.2 開發(fā)語言88
• 6.1.3 數(shù)據(jù)庫88-89
• 6.2 系統(tǒng)總體結構89-90
• 6.3 系統(tǒng)功能設計90-100
• 6.3.1 基礎信息管理90-92
• 6.3.2 原材料質(zhì)量管理92-94
• 6.3.3 制造過程質(zhì)量管理94-95
• 6.3.4 成品質(zhì)量管理95-98
• 6.3.5 統(tǒng)計過程控制管理98-100
• 6.4 本章小結100-102
• 總結與展望102-104
• 參考文獻104-108
• 攻讀學位期間發(fā)表論文與研究成果清單108-110
• 致謝110

【參考文獻】

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  本文關鍵詞：面向電子元器件質(zhì)量控制的關鍵技術與系統(tǒng)研究，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

本文編號：425233