面向電子元器件質(zhì)量控制的關(guān)鍵技術(shù)與系統(tǒng)研究
本文關(guān)鍵詞:面向電子元器件質(zhì)量控制的關(guān)鍵技術(shù)與系統(tǒng)研究,由筆耕文化傳播整理發(fā)布。
【摘要】:隨著近年來(lái)我國(guó)航空航天事業(yè)的蓬勃發(fā)展,航空航天產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性要求也越來(lái)越高。電子元器件行業(yè)處于航天系統(tǒng)供應(yīng)鏈的末端,保證其產(chǎn)品質(zhì)量穩(wěn)定、可靠,提高企業(yè)質(zhì)量管理和控制能力,既是航天系統(tǒng)的必然要求,也是企業(yè)提高自身競(jìng)爭(zhēng)力的重要手段。 傳統(tǒng)的電子元器件行業(yè)是典型的多品種小批量生產(chǎn)模式,質(zhì)量控制停留在事后檢驗(yàn)水平,而且檢驗(yàn)后的質(zhì)量數(shù)據(jù)缺乏共享和利用,目前大量質(zhì)量報(bào)表的生成依賴于手工操作,效率低下,再加上規(guī)格型號(hào)眾多,很難對(duì)這些產(chǎn)品進(jìn)行統(tǒng)計(jì)過(guò)程分析,也無(wú)法及時(shí)發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)過(guò)程中出現(xiàn)的質(zhì)量問(wèn)題,給企業(yè)的產(chǎn)品質(zhì)量帶來(lái)極大風(fēng)險(xiǎn),電子元器件行業(yè)在質(zhì)量管理和控制方面面臨巨大的壓力。 本文在對(duì)電子元器件行業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量管理及控制相關(guān)的業(yè)務(wù)流程梳理和分析基礎(chǔ)上,,總結(jié)歸納了目前這類企業(yè)在質(zhì)量控制方面存在的關(guān)鍵問(wèn)題和業(yè)務(wù)瓶頸,然后基于相關(guān)業(yè)務(wù)流程對(duì)于質(zhì)量檢驗(yàn)過(guò)程中的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)和檢驗(yàn)數(shù)據(jù)類型進(jìn)行分解和重組,構(gòu)建了電子元器件行業(yè)的質(zhì)量信息模型。結(jié)合采集到的質(zhì)量數(shù)據(jù)對(duì)于電子元器件行業(yè)的統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制理論進(jìn)行了分析,并基于相似性工序和數(shù)據(jù)變換理論生成行業(yè)的質(zhì)量控制圖。通過(guò)生產(chǎn)流程的分析,對(duì)于行業(yè)質(zhì)量異常因素的來(lái)源進(jìn)行了研究和總結(jié),并結(jié)合BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的相關(guān)知識(shí),對(duì)于控制圖的模式識(shí)別進(jìn)行了研究,總結(jié)了一般異常及特殊異常的識(shí)別方法,并為企業(yè)人員提供一系列異常排除的思路。最后結(jié)合全文的相關(guān)理論設(shè)計(jì)并開(kāi)發(fā)了面向電子元器件行業(yè)的質(zhì)量管理及控制系統(tǒng)。通過(guò)系統(tǒng)的實(shí)際應(yīng)用,極大的提高了這類企業(yè)對(duì)于產(chǎn)品質(zhì)量的管理和控制能力,提升了企業(yè)的工作效率。
【關(guān)鍵詞】:電子元器件行業(yè) 數(shù)據(jù)采集 統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制 模式識(shí)別
【學(xué)位授予單位】:北京理工大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2015
【分類號(hào)】:V468;V443
【目錄】:
- 摘要5-6
- Abstract6-10
- 第1章 緒論10-22
- 1.1 研究背景及意義10-12
- 1.1.1 研究背景10
- 1.1.2 研究意義10-12
- 1.2 國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀12-18
- 1.2.1 統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制研究現(xiàn)狀12-15
- 1.2.2 質(zhì)量數(shù)據(jù)采集技術(shù)研究現(xiàn)狀15-16
- 1.2.3 控制圖模式識(shí)別研究現(xiàn)狀16-18
- 1.3 研究?jī)?nèi)容及論文結(jié)構(gòu)18-22
- 第2章 電子元器件生產(chǎn)過(guò)程工藝質(zhì)量研究22-36
- 2.1 電子元器件行業(yè)生產(chǎn)現(xiàn)狀分析22-25
- 2.1.1 生產(chǎn)特點(diǎn)分析22-23
- 2.1.2 生產(chǎn)信息載體分析23-25
- 2.2 電子元器件生產(chǎn)工藝流程分析25-26
- 2.3 電子元器件檢驗(yàn)流程分析26-30
- 2.3.1 原材料質(zhì)量檢驗(yàn)流程分析26-29
- 2.3.2 制造過(guò)程質(zhì)量檢驗(yàn)流程分析29
- 2.3.3 成品質(zhì)量檢驗(yàn)流程分析29-30
- 2.4 質(zhì)量管理及控制問(wèn)題分析30-32
- 2.5 基于關(guān)鍵工序的產(chǎn)品質(zhì)量控制32-34
- 2.5.1 刻槽工序控制33
- 2.5.2 點(diǎn)焊工序控制33-34
- 2.5.3 精調(diào)工序控制34
- 2.6 本章小結(jié)34-36
- 第3章 電子元器件行業(yè)質(zhì)量信息管理技術(shù)研究36-50
- 3.1 質(zhì)量信息分析36-40
- 3.1.1 質(zhì)量信息來(lái)源36-37
- 3.1.2 質(zhì)量信息結(jié)構(gòu)分析37-40
- 3.2 質(zhì)量信息采集技術(shù)研究40-43
- 3.2.1 質(zhì)量信息采集方法40-42
- 3.2.2 基于條形碼的信息采集42-43
- 3.3 面向?qū)ο蟮馁|(zhì)量信息建模技術(shù)43-45
- 3.4 質(zhì)量信息管理系統(tǒng)總體設(shè)計(jì)思想45-48
- 3.4.1 系統(tǒng)的數(shù)據(jù)要求45-46
- 3.4.2 系統(tǒng)的基本功能46-47
- 3.4.3 系統(tǒng)體系結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)47-48
- 3.5 本章小結(jié)48-50
- 第4章 面向電子元器件的質(zhì)量控制方法研究50-70
- 4.1 統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制基礎(chǔ)理論50-56
- 4.1.1 控制圖簡(jiǎn)介50-51
- 4.1.2 控制圖的基本功能51
- 4.1.3 控制圖的理論基礎(chǔ)51-53
- 4.1.4 常用控制圖統(tǒng)計(jì)基礎(chǔ)53-56
- 4.2 質(zhì)量控制圖在電子元器件行業(yè)應(yīng)用的局限性56-57
- 4.3 電子元器件行業(yè)質(zhì)量控制圖應(yīng)用研究57-65
- 4.3.1 相似工序分組方法研究57-58
- 4.3.2 基于相似工序的質(zhì)量數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換58-63
- 4.3.3 工序過(guò)程能力分析63-65
- 4.4 應(yīng)用舉例65-69
- 4.5 本章小結(jié)69-70
- 第5章 電子元器件控制圖模式識(shí)別技術(shù)研究70-88
- 5.1 控制圖異常模式研究70-79
- 5.1.1 工序質(zhì)量異常原因分析70-71
- 5.1.2 異常模式介紹71-77
- 5.1.3 特殊異常模式數(shù)學(xué)建模77-79
- 5.2 基于 BP 神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的控制圖異常模式識(shí)別79-84
- 5.2.1 BP 神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)簡(jiǎn)介79-81
- 5.2.2 控制圖模式識(shí)別網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)81-84
- 5.3 實(shí)例驗(yàn)證84-86
- 5.4 本章小結(jié)86-88
- 第6章 質(zhì)量管理及控制系統(tǒng)應(yīng)用實(shí)例88-102
- 6.1 系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)環(huán)境88-89
- 6.1.1 開(kāi)發(fā)平臺(tái)88
- 6.1.2 開(kāi)發(fā)語(yǔ)言88
- 6.1.3 數(shù)據(jù)庫(kù)88-89
- 6.2 系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)89-90
- 6.3 系統(tǒng)功能設(shè)計(jì)90-100
- 6.3.1 基礎(chǔ)信息管理90-92
- 6.3.2 原材料質(zhì)量管理92-94
- 6.3.3 制造過(guò)程質(zhì)量管理94-95
- 6.3.4 成品質(zhì)量管理95-98
- 6.3.5 統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制管理98-100
- 6.4 本章小結(jié)100-102
- 總結(jié)與展望102-104
- 參考文獻(xiàn)104-108
- 攻讀學(xué)位期間發(fā)表論文與研究成果清單108-110
- 致謝110
【參考文獻(xiàn)】
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本文關(guān)鍵詞:面向電子元器件質(zhì)量控制的關(guān)鍵技術(shù)與系統(tǒng)研究,由筆耕文化傳播整理發(fā)布。
本文編號(hào):425233
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