比利時(shí):X射線可無損檢測(cè)梨品質(zhì)
發(fā)布時(shí)間:2021-04-06 09:52
<正>為保持采后鮮梨及運(yùn)輸過程中梨的品質(zhì),采取了控制供應(yīng)鏈和延長貯藏期的方法。在貯藏過程中,由于貯藏條件不佳,可能導(dǎo)致梨內(nèi)部腐爛,但外形上沒有變化,這使工作人員無法以可靠無損的方式使用當(dāng)前商業(yè)質(zhì)量分級(jí)系統(tǒng)來進(jìn)行檢測(cè)。比利時(shí)科學(xué)家研發(fā)了一種新的檢測(cè)方法,結(jié)合了支持向量機(jī)、特征提取算法和X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù),能成功無損檢測(cè)梨果實(shí)內(nèi)部品質(zhì)。根據(jù)梨品種和具體特征,分類器能區(qū)分有缺陷梨和無缺陷梨,分類準(zhǔn)確率高達(dá)90.2%~
【文章來源】:中國果業(yè)信息. 2020,37(03)
【文章頁數(shù)】:1 頁
本文編號(hào):3121233
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