多階段可校正系統(tǒng)退化建模與可靠性評估
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【摘要】:退化數(shù)據(jù)在小子樣、高可靠、長壽命產(chǎn)品可靠性評估中的作用日益突顯。針對工程實踐中多階段可校正電子裝備可靠性評估難題,綜合考慮任務(wù)的多階段性和校正行為影響,建立了基于Wiener過程的性能退化模型,采用貝葉斯方法得到退化模型中漂移參數(shù)的后驗分布估計,構(gòu)建了光滑函數(shù)解決系統(tǒng)校正行為導(dǎo)致的函數(shù)不連續(xù)性問題,在此基礎(chǔ)上根據(jù)首次到達時的概率分布提出了多階段可校正系統(tǒng)的可靠性評估方法,給出相關(guān)數(shù)值算例,驗證了模型、方法和分析結(jié)果的正確性和實用性。
【作者單位】: 北京理工大學(xué)管理與經(jīng)濟學(xué)院;海軍裝備研究院;
【關(guān)鍵詞】: 可靠性評估 退化建模 校正 貝葉斯 多階段
【基金】:國家自然科學(xué)基金(71371031) 總裝預(yù)研基金(9140A27040214JB12450)資助課題
【分類號】:TB114.3
【正文快照】: 0引言隨著高新技術(shù)的不斷發(fā)展和應(yīng)用,產(chǎn)品(或系統(tǒng))的高集成化、高智能化以及復(fù)雜性日益增強,傳統(tǒng)的基于失效數(shù)據(jù)的可靠性評估方法在工程實踐中遇到很多問題,如失效數(shù)據(jù)不足、無失效數(shù)據(jù)以及可靠性評估與性能脫節(jié)等;跔顟B(tài)監(jiān)測信息或性能退化數(shù)據(jù),針對小子樣、高可靠、長壽
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,本文編號:633190
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