本文關(guān)鍵詞：介質(zhì)諧振器法測量超導(dǎo)薄膜微波表面阻抗

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【摘要】：本文所用的測試方法為藍寶石介質(zhì)諧振器法,它采用一片超導(dǎo)薄膜替代諧振器的一端,通過測量微波介質(zhì)諧振腔的品質(zhì)因數(shù)和諧振頻率隨溫度變化來確定超導(dǎo)薄膜的微波表面阻抗.本文設(shè)計和制作了一個工作于TE01δ模式,諧振頻率在18.3GHz左右的藍寶石介質(zhì)諧振器,其無載品質(zhì)因數(shù)在3K時可達到130000.用此方法可以對薄膜進行無損傷測量,測量后的薄膜還可繼續(xù)使用.
【作者單位】： 南京大學(xué)超導(dǎo)電子研究所;
【關(guān)鍵詞】： 介質(zhì)諧振器 超導(dǎo)薄膜 微波表面阻抗 品質(zhì)因數(shù)
【分類號】：O484
【正文快照】： PACS:74.65.Fs,74.78.-wSURFACE IMPEDANCE MEASUREMENTS OF SUPERCONDUCTINGFILMS BY MEANS OF SAPPHIRE DIELECTRIC RESONATORSHU Zongyu JI Zhengming JIN BiaoBingResearch Institution of Superconductor Electronics,School of Electronic Science and Engineering,Nanj

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本文編號：615479