本文關(guān)鍵詞：基于貝葉斯網(wǎng)絡(luò)的硬件產(chǎn)品設(shè)計缺陷評估

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【摘要】：為了預(yù)測硬件產(chǎn)品設(shè)計研發(fā)過程中的設(shè)計缺陷,提出利用貝葉斯網(wǎng)絡(luò)構(gòu)建產(chǎn)品設(shè)計缺陷評估模型。通過故障樹建立評估模型的貝葉斯網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu),利用證據(jù)推理方法確定評估模型的概率。研究案例表明,該方法可分析缺陷因素對設(shè)計缺陷的影響關(guān)系,實現(xiàn)對產(chǎn)品設(shè)計缺陷的定量預(yù)測,研究結(jié)果與實際情況對比具有較好的符合性。
【作者單位】： 南昌大學(xué)機電工程學(xué)院;湖州師范學(xué)院工學(xué)院;
【關(guān)鍵詞】： 設(shè)計缺陷 故障樹 貝葉斯網(wǎng)絡(luò) 證據(jù)推理 缺陷評估
【基金】：國家自然科學(xué)基金(No.71161018) 江西省教育廳資助項目(No.12717)
【分類號】：TP18;TB472
【正文快照】： 1引言由于各種不確定因素的影響,產(chǎn)品設(shè)計過程很容易產(chǎn)生設(shè)計缺陷。產(chǎn)品設(shè)計缺陷是指在設(shè)計階段形成的產(chǎn)品質(zhì)量特性未滿足預(yù)期或規(guī)定用途有關(guān)的要求。設(shè)計缺陷具有潛伏性,一般很難識別和控制。而通過分析設(shè)計缺陷形成的影響因素,建立產(chǎn)品設(shè)計缺陷評估模型,可實現(xiàn)對產(chǎn)品設(shè)計缺

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本文編號：577022