近年來,國(guó)內(nèi)將超聲相控陣檢測(cè)技術(shù)廣泛應(yīng)用在工業(yè)領(lǐng)域,逐漸形成了一個(gè)新的研究熱點(diǎn)。超聲相控陣檢測(cè)技術(shù)是按照一定的規(guī)則和延時(shí)時(shí)間來激發(fā)換能器中的陣元產(chǎn)生超聲波束,波束在發(fā)射出去后能夠偏轉(zhuǎn)和聚焦,當(dāng)波束在傳播過程中遇到缺陷,陣元接收從缺陷返回的回波信號(hào),通過接收系統(tǒng)處理回波信號(hào)并成像。由于在接收系統(tǒng)下得到的成像質(zhì)量較差、分辨率較低,因此本文通過對(duì)影響檢測(cè)成像的三個(gè)參數(shù)、聚焦點(diǎn)和合成孔徑技術(shù)的分析,以改善成像的質(zhì)量、提高成像分辨率。本文討論了影響成像的三個(gè)參數(shù):對(duì)比度、空間分辨率、時(shí)間分辨率,通過仿真分析了空間分辨率對(duì)成像的影響,得到減小波束的有效寬度可以提高成像的橫向分辨率、減小脈沖寬度可以提高成像的縱向分辨率。聚焦點(diǎn)的直徑、深度對(duì)超聲檢測(cè)成像的分辨率有很大影響。通過MATLAB仿真得到減小系統(tǒng)延時(shí)時(shí)間精度、增大換能器中的陣元數(shù)和陣元間距,可以提高檢測(cè)成像的縱向分辨率;提高系統(tǒng)的延時(shí)時(shí)間精度、減小波束的偏轉(zhuǎn)角度、增大換能器中陣元的間距,以及在動(dòng)態(tài)聚焦的條件下可以提高檢測(cè)成像的橫向分辨率;保持系統(tǒng)的延時(shí)時(shí)間精度不變,增大陣元數(shù)可以減小誤差旁瓣;當(dāng)增大系統(tǒng)的獨(dú)立通道數(shù),可以減小焦區(qū)的深度和焦點(diǎn)的... 

【文章來源】：成都理工大學(xué)四川省

【文章頁(yè)數(shù)】：74 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

單聚焦點(diǎn)的發(fā)射接收散點(diǎn)成圖

55 5-4 發(fā)射不同聚焦點(diǎn)數(shù)，相同聚焦點(diǎn)接仿真測(cè)試以知道，F(xiàn)#是用來衡量聚焦點(diǎn)程度的，隨著 F#值的增大那么聚焦的程度的下降，通常取 F#=2。所以本次仿 0.5、1、2 時(shí)，融入變跡函數(shù)進(jìn)行仿 F#的增大，系統(tǒng)檢測(cè)成像中，對(duì)散法的實(shí)現(xiàn)下，系統(tǒng)的橫向分辨率對(duì)

圖 5-5 改變 F#的值，各散點(diǎn)的仿真圖（5）改變換能器中陣元數(shù)在多點(diǎn)發(fā)射多點(diǎn)接收下仿真圖 5-6 的仿真是在 SASB 算法下，改變換能器中的陣元數(shù)，在多點(diǎn)發(fā)射多點(diǎn)接收下進(jìn)行的仿真。圖（a）、（b）是分別選取陣元數(shù)為 32、64 時(shí)對(duì)檢測(cè)塊中各缺陷點(diǎn)的仿真圖，通過對(duì)比可以看出，在保持其他條件下，增大換能器中各陣元的數(shù)量可以提高缺陷檢測(cè)成像的分辨率。

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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博士論文
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碩士論文
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本文編號(hào)：3581053