CoX(X=Zr,Cr)FeSi赫斯勒合金薄膜材料的制備及性能研究
發(fā)布時間:2021-06-25 07:21
赫斯勒合金材料憑借其高自旋極化和可調(diào)控的電子結(jié)構(gòu)等優(yōu)點在自旋電子學(xué)理論及器件應(yīng)用上受到廣泛關(guān)注。Co基赫斯勒合金是其中的熱點研究體系之一。本文在四元Co基赫斯勒合金新材料體系的理論計算預(yù)測基礎(chǔ)上,通過真空電弧熔煉和物理氣相沉積技術(shù)制備得到CoZrFeSi合金塊材和系列薄膜材料。研究結(jié)果表明該新材料體系具有優(yōu)異的磁性能,取得的主要成果如下:CoZrFeSi合金塊材結(jié)晶度高,未退火時形成A2型結(jié)構(gòu),退火后部分向B2型結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)變。退火及冷卻方式對樣品結(jié)構(gòu)和磁性影響較大。電阻-溫度曲線的擬合結(jié)果表明該合金可能具有室溫下的半金屬性,符合理論計算預(yù)測。另外,該合金具有非常小的矯頑力和飽和磁化強度,可以顯著降低材料工作時的磁滯損耗。因此,在磁性材料和自旋電子器件領(lǐng)域有很好的應(yīng)用前景。CoZrFeSi系列多層膜結(jié)晶度低,退火對其結(jié)晶度影響不大。Zr、Si的插入削弱Fe/Co之間的鐵磁耦合,并大大降低材料的磁滯損耗。退火能有效提高CoZrFeSi多層膜材料磁阻效應(yīng)表現(xiàn)。與已經(jīng)商業(yè)化的FeCo薄膜相比,CoZrFeSi多層膜在大幅度降低矯頑力和凈磁矩的前提下,室溫和高溫下的磁阻效應(yīng)并沒有明顯減退,更具有性能...
【文章來源】:中國地質(zhì)大學(xué)(北京)北京市 211工程院校 教育部直屬院校
【文章頁數(shù)】:74 頁
【學(xué)位級別】:碩士
【部分圖文】:
圖1-2能帶結(jié)構(gòu)示意圖??a非磁性金屬b磁性金屬??
發(fā)現(xiàn)的一類有著高度有序晶體結(jié)構(gòu)的金屬間化合物。通常情況其化學(xué)組成形式可??用X2YZ表示,X和Y通常為過渡金屬元素而Z是主族元素。目前,己有關(guān)于??赫斯勒合金元素構(gòu)成種類的相關(guān)報道,圖1-3將X、Y和Z可能的元素組成清楚??展示出來?CT.Graf,?2011):??"TT|?X2YZ?Heusler?compounds?[Tie??2.20??lll=g?1=1?C?I?N?I?Q?1?F? ̄Ne??J2.55?3.04?3?44?3.98??TlaBB?P? ̄S ̄"cTAr??ImBRj?2.58?3.16???K?I?Se?Br?Kr??0.82?1.00I?2.55?2.96?3.00??而?Sr^?i???4?S。?l?n ̄ ̄ ̄ ̄ ̄jTe??0.82?:?lb?2.66?2.60??Cs?Ba?\?CjRe?Tl?I?Po?At?Rn??0.79?0.89?\?HCT?VSoBBI?1.90?2.20WJP^V^^-':?]?1,9〇j?1?8〇EmE3?2?00?2?20??WRa\\??0.70?0.90?\?\??''tSEBSQBEliiiiEB1.20DS。拢拢兀蓿??AclThlPa?UlNp?Pu?AmCm?Bk?Cf|Es|FmjMd?No^??\?1.1Q|1.30|1.50?1.7Q|1.30?1.28?1?13?1.28?1.30?1.3〇|?1?3〇|?1.3〇|?1.30?1.30|130??圖1-3?Heusler合金構(gòu)成元素表?
元素種類的多元化也將導(dǎo)致不同的原子占位以及多樣的晶格結(jié)構(gòu)。以該類材料中??具有代表性的Co基Heusler合金為例,就有四種不同的晶格結(jié)構(gòu)(S.Trudel,??2010)。圖1-4就是Co基Heusler合金的晶格結(jié)構(gòu)示意圖。??麵麵??L2,:?Co2M?Z?巳2:?Co.M,Z??麵畫??D03:?Z?A2:?Co,M'Z??圖1-4?Co基Heusler合金的晶格結(jié)構(gòu)??四種結(jié)構(gòu)中L2l相是最有序的,Co原子的位置在立方晶胞的(1/4,?1/4,?1/4)??處,M’和Z原子占據(jù)的位置分別是(1/2,?1/2,1/2)和(0,?0,0)處。在此基??礎(chǔ)上不同位置的原子進行位置調(diào)換就可以形成組分相同而晶格結(jié)構(gòu)不同的其他??晶相,與此同時原子的排列有序度也會下降。B2相就是在L2i相基礎(chǔ)上保持Co??的位置不變,M’和Z原子之間以完全一致的概率隨機交換位置得到的,即二者??在(1/2
【參考文獻】:
期刊論文
[1]熱處理方式對MIMFe-50Ni合金磁性能的影響[J]. 朱彩強,符志堅,何浩,熊亮,李益民. 粉末冶金材料科學(xué)與工程. 2013(03)
[2]退火處理對Dy4(Co21Cu79)96顆粒膜結(jié)構(gòu)和巨磁電阻效應(yīng)的影響[J]. 武小飛,成鋼,陳偉,杜玉松,馬壘,耿勝董,張躍強,顧正飛. 四川大學(xué)學(xué)報(自然科學(xué)版). 2012(06)
[3]AZO透明導(dǎo)電薄膜的制備[J]. 劉丹妮,史永勝,馬猛飛,楊巍巍,楊若欣. 電子元件與材料. 2012(06)
[4]基片溫度對Ni80Fe20薄膜結(jié)構(gòu)和各向異性磁電阻的影響[J]. 王合英,沙文杰,陳歡,孫文博. 金屬功能材料. 2007(02)
[5]半導(dǎo)體自旋電子學(xué)功能材料的研究進展[J]. 都有為. 功能材料信息. 2006(04)
[6]自旋電子學(xué)功能材料進展[J]. 都有為. 世界科技研究與發(fā)展. 2006(04)
[7]磁電子學(xué)器件應(yīng)用原理[J]. 蔡建旺. 物理學(xué)進展. 2006(02)
[8]生長溫度對L-MBE法制備的ZnO薄膜性能的影響[J]. 徐慶安,張景文,楊曉東,巨楷如,賀永寧,侯洵. 人工晶體學(xué)報. 2006(02)
[9]退火對反應(yīng)磁控濺射制備ITO薄膜性能影響[J]. 許旻,邱家穩(wěn),賀德衍. 真空科學(xué)與技術(shù). 2003(03)
碩士論文
[1]半金屬性赫斯勒合金Co2FeAl的靜態(tài)及動態(tài)磁性研究[D]. 陳振東.蘭州大學(xué) 2017
[2]錳系赫斯勒合金磁性能研究[D]. 史航.電子科技大學(xué) 2015
[3]Co2Mn1-xTixSi赫斯勒合金的制備與磁性及FMR譜線展寬原理[D]. 姚玥璘.蘭州大學(xué) 2014
[4]濺射法制備NiZn鐵氧體薄膜工藝技術(shù)研究[D]. 趙曉寧.電子科技大學(xué) 2009
[5]磁控濺射法制備ZnO薄膜及特性研究[D]. 張秀芳.哈爾濱理工大學(xué) 2009
本文編號:3248778
【文章來源】:中國地質(zhì)大學(xué)(北京)北京市 211工程院校 教育部直屬院校
【文章頁數(shù)】:74 頁
【學(xué)位級別】:碩士
【部分圖文】:
圖1-2能帶結(jié)構(gòu)示意圖??a非磁性金屬b磁性金屬??
發(fā)現(xiàn)的一類有著高度有序晶體結(jié)構(gòu)的金屬間化合物。通常情況其化學(xué)組成形式可??用X2YZ表示,X和Y通常為過渡金屬元素而Z是主族元素。目前,己有關(guān)于??赫斯勒合金元素構(gòu)成種類的相關(guān)報道,圖1-3將X、Y和Z可能的元素組成清楚??展示出來?CT.Graf,?2011):??"TT|?X2YZ?Heusler?compounds?[Tie??2.20??lll=g?1=1?C?I?N?I?Q?1?F? ̄Ne??J2.55?3.04?3?44?3.98??TlaBB?P? ̄S ̄"cTAr??ImBRj?2.58?3.16???K?I?Se?Br?Kr??0.82?1.00I?2.55?2.96?3.00??而?Sr^?i???4?S。?l?n ̄ ̄ ̄ ̄ ̄jTe??0.82?:?lb?2.66?2.60??Cs?Ba?\?CjRe?Tl?I?Po?At?Rn??0.79?0.89?\?HCT?VSoBBI?1.90?2.20WJP^V^^-':?]?1,9〇j?1?8〇EmE3?2?00?2?20??WRa\\??0.70?0.90?\?\??''tSEBSQBEliiiiEB1.20DS。拢拢兀蓿??AclThlPa?UlNp?Pu?AmCm?Bk?Cf|Es|FmjMd?No^??\?1.1Q|1.30|1.50?1.7Q|1.30?1.28?1?13?1.28?1.30?1.3〇|?1?3〇|?1.3〇|?1.30?1.30|130??圖1-3?Heusler合金構(gòu)成元素表?
元素種類的多元化也將導(dǎo)致不同的原子占位以及多樣的晶格結(jié)構(gòu)。以該類材料中??具有代表性的Co基Heusler合金為例,就有四種不同的晶格結(jié)構(gòu)(S.Trudel,??2010)。圖1-4就是Co基Heusler合金的晶格結(jié)構(gòu)示意圖。??麵麵??L2,:?Co2M?Z?巳2:?Co.M,Z??麵畫??D03:?Z?A2:?Co,M'Z??圖1-4?Co基Heusler合金的晶格結(jié)構(gòu)??四種結(jié)構(gòu)中L2l相是最有序的,Co原子的位置在立方晶胞的(1/4,?1/4,?1/4)??處,M’和Z原子占據(jù)的位置分別是(1/2,?1/2,1/2)和(0,?0,0)處。在此基??礎(chǔ)上不同位置的原子進行位置調(diào)換就可以形成組分相同而晶格結(jié)構(gòu)不同的其他??晶相,與此同時原子的排列有序度也會下降。B2相就是在L2i相基礎(chǔ)上保持Co??的位置不變,M’和Z原子之間以完全一致的概率隨機交換位置得到的,即二者??在(1/2
【參考文獻】:
期刊論文
[1]熱處理方式對MIMFe-50Ni合金磁性能的影響[J]. 朱彩強,符志堅,何浩,熊亮,李益民. 粉末冶金材料科學(xué)與工程. 2013(03)
[2]退火處理對Dy4(Co21Cu79)96顆粒膜結(jié)構(gòu)和巨磁電阻效應(yīng)的影響[J]. 武小飛,成鋼,陳偉,杜玉松,馬壘,耿勝董,張躍強,顧正飛. 四川大學(xué)學(xué)報(自然科學(xué)版). 2012(06)
[3]AZO透明導(dǎo)電薄膜的制備[J]. 劉丹妮,史永勝,馬猛飛,楊巍巍,楊若欣. 電子元件與材料. 2012(06)
[4]基片溫度對Ni80Fe20薄膜結(jié)構(gòu)和各向異性磁電阻的影響[J]. 王合英,沙文杰,陳歡,孫文博. 金屬功能材料. 2007(02)
[5]半導(dǎo)體自旋電子學(xué)功能材料的研究進展[J]. 都有為. 功能材料信息. 2006(04)
[6]自旋電子學(xué)功能材料進展[J]. 都有為. 世界科技研究與發(fā)展. 2006(04)
[7]磁電子學(xué)器件應(yīng)用原理[J]. 蔡建旺. 物理學(xué)進展. 2006(02)
[8]生長溫度對L-MBE法制備的ZnO薄膜性能的影響[J]. 徐慶安,張景文,楊曉東,巨楷如,賀永寧,侯洵. 人工晶體學(xué)報. 2006(02)
[9]退火對反應(yīng)磁控濺射制備ITO薄膜性能影響[J]. 許旻,邱家穩(wěn),賀德衍. 真空科學(xué)與技術(shù). 2003(03)
碩士論文
[1]半金屬性赫斯勒合金Co2FeAl的靜態(tài)及動態(tài)磁性研究[D]. 陳振東.蘭州大學(xué) 2017
[2]錳系赫斯勒合金磁性能研究[D]. 史航.電子科技大學(xué) 2015
[3]Co2Mn1-xTixSi赫斯勒合金的制備與磁性及FMR譜線展寬原理[D]. 姚玥璘.蘭州大學(xué) 2014
[4]濺射法制備NiZn鐵氧體薄膜工藝技術(shù)研究[D]. 趙曉寧.電子科技大學(xué) 2009
[5]磁控濺射法制備ZnO薄膜及特性研究[D]. 張秀芳.哈爾濱理工大學(xué) 2009
本文編號:3248778
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