Al摻InSe納米薄膜的制備及非線性光學性質(zhì)研究
【學位授予單位】:哈爾濱工業(yè)大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2019
【分類號】:O437;TB383.2
【圖文】:
本課題的研究背景及研究目的和意義隨著現(xiàn)代科學技術(shù)的迅速發(fā)展,科學研究者們對于半導體材料的需求在不擴大。科研人員對半導體材料的研究已經(jīng)不再局限于 Si、Ge、Se、B、Te、等單一類型的半導體,新型半導體薄膜材料的制備合成和非線性光學性質(zhì)的已成為新功能材料等領(lǐng)域的研究熱點。半導體材料的非線性光學性質(zhì)在光件(例如光限幅器、光耦合器、全光開關(guān)等)領(lǐng)域具有良好的潛在的應用。III-VI 族元素構(gòu)成的半導體化合物具有二維層狀結(jié)構(gòu),因具有優(yōu)異的半導料的特性,例如較強的光學非線性特性以及在光伏、光電效應、光電器件、型器件特別是非線性光學等方面都具有良好的應用價值。硒化銦(InSe)種性能優(yōu)異的 III-VI 族化合物半導體,由于它具有高調(diào)制率、高非線性和的響應時間等特點[1],而引起了人們的廣泛關(guān)注。近幾年 InSe 的層狀結(jié)構(gòu) 1-1)被廣泛研究[2, 3]。通過研究發(fā)現(xiàn),InSe 半導體材料相對于傳統(tǒng)半導體的非線性特性并不突出,因此,如何提高 InSe 半導體材料的非線性特性成幾年的研究熱點。
l 元素是 InSe 材料的一種優(yōu)良的摻雜劑,它能夠促進激發(fā)態(tài)吸收,并增強的反飽和吸收。此外,Al 摻雜是一種調(diào)制 InSe 帶隙結(jié)構(gòu)從而可以實現(xiàn)非的寬帶響應有效的方法。當可見光或者近紅外光照射到 Al 摻雜 InSe 半導料上時,Al 摻雜 InSe 中的電子會吸收入射光子能量從而發(fā)生能帶帶間躍而表現(xiàn)出比較好的非線性特性。Z-掃描測量技術(shù)和瞬態(tài)吸收光譜測量具有方式多樣、和樣品之間沒有接觸、時間分辨率高等特點,是研究 Al 摻雜 I導體材料中非線性光學性質(zhì)的有利工具[11]。.2 半導體材料的非線性性質(zhì)研究.2.1 半導體能帶理論本文研究的是 IIIA 族 Al 元素摻雜 InSe 納米薄膜材料的光學非線性特性l 摻雜 InSe 納米薄膜是一種具有窄帶隙的直接帶隙半導體材料。在我們所的 Al 摻雜 InSe 納米薄膜材料中,可以用比較簡單的由導帶和價帶構(gòu)成的模型來解釋材料內(nèi)部產(chǎn)生的非線性機理。具體的能帶示意圖如圖 1-2 所示
哈爾濱工業(yè)大學理學碩士學位論文1.3.1 國外研究現(xiàn)狀從上個世紀 90 年代開始,瑞士洛桑理工學院的 M. Gratzel 小組就對一些有機分子與金屬硒化物納米結(jié)構(gòu)所構(gòu)成的復合材料的光生載流子動力學特性進行了研究。從 M. Gratzel 等人該小組的實驗結(jié)果中可以知道,有機分子中光激發(fā)的電子躍遷至金屬硒化物導帶間的載流子遷移過程是一個時間為 200 飛秒左右的超快過程[20]。2010 年,Mustafa Yüksek 等人研究了非晶 InSe 薄膜的非線性吸收特性。通過泵浦探測技術(shù)和開孔 Z-掃描技術(shù)研究了膜厚度對 InSe 材料非線性吸收特性的影響,通過實驗得出結(jié)論,較薄的膜表現(xiàn)出飽和吸收特性,較厚的膜表現(xiàn)出反飽和吸收特性,如圖 1-3 所示,這種現(xiàn)象是因為隨著膜厚度增加,能帶隙中的局域缺陷態(tài)明顯增加。采用基于 Adomian 分解法得到開孔 Z-掃描理論擬合實驗曲線從而得出非線性吸收系數(shù)以及飽和強度閾值[21]。
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