薄膜材料電阻率高通量表征平臺開發(fā)
【學(xué)位授予單位】:中國工程物理研究院
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2019
【分類號】:TB383.2
【圖文】:
圖1.1邋Hanak提出的材料高通量實驗的初始概念逡逑對于當(dāng)時只研究一種成分的新材料的研發(fā)新概念,包括合成、分析、測試的一整套理濺射的多組分材料和成方法,以及一種基于法。將這種方法被具體應(yīng)用于新的二元超導(dǎo)搜索和開發(fā)速度提高了數(shù)十倍之多,并且預(yù)實驗的初始概念包括以下幾個部分:逡逑成完整的多組分材料體系;逡逑損、全面的成分結(jié)構(gòu)分析;逡逑動化、高速率的材料性能測試;逡逑,以表格、圖形、函數(shù)等形式進(jìn)行輸出。逡逑合化學(xué)逐漸興起,并隨之產(chǎn)生了高通量基因反應(yīng)器等技術(shù)手段。90年代中后期,高通量
探針法的基本原理逡逑探針測量電阻率的基本原理是,四根探針與樣品表面進(jìn)行接觸,其中兩根探流源對樣品進(jìn)行電流注入,從而在樣品內(nèi)部激勵形成擴(kuò)散電場,使得樣品上都對應(yīng)著特定的電勢值。電場穩(wěn)定之后,由電壓表讀取另外兩根探針各自對電勢差,根據(jù)電流電壓數(shù)據(jù),結(jié)合樣品的形狀尺寸與探針的位置分布,從而出待測樣品材料的電阻率[43]。具體實施過程中,根據(jù)薄層樣品的厚度不同,場分布形態(tài)也有較大差異,需要區(qū)別應(yīng)用體原理或者薄層原理的物理模型率公式的推導(dǎo)。另外,在不滿足四探針法測準(zhǔn)條件的前提下得到的電阻率結(jié)加以進(jìn)一步的修正,從而減小測量原理誤差,得到較為準(zhǔn)確的結(jié)果。逡逑原理逡逑原理的應(yīng)用條件是,樣品的幾何尺度與相鄰探針間的距離比較可以近似看作設(shè)探針注入的電流源強(qiáng)度為/,假設(shè)樣品內(nèi)部的電阻率分布均勻性足夠理想,力線分布呈標(biāo)準(zhǔn)的放射狀,等勢面分布為一系列同心半球面,如圖所示。逡逑電流源|逡逑
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本文編號:2718008
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