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片狀吸收劑取向電磁噪聲抑制片設計制備研究

發(fā)布時間:2020-04-28 02:58
【摘要】:隨著電子設備向小型化、高頻化、集成化發(fā)展,很多產(chǎn)品的工作頻率已經(jīng)到達GHz以上。高頻微波集成器件在運行的過程中,會形成極其復雜的電磁環(huán)境,從而導致電磁干擾問題的產(chǎn)生,使用噪聲抑制材料可以方便有效地解決此類問題。良好的噪聲抑制性能,需要高的磁導率引起的高磁損耗。本文通過建立合金微粉/粘結(jié)劑復合材料模型,討論了片狀吸收劑的體積含量、取向、空間分布及扁平率對復合材料等效磁導率的影響。采用流延工藝制備出了GHz寬頻帶電磁噪聲抑制片,研究了磁導率及厚度對噪聲抑制性能的影響。具體內(nèi)容如下:(1)利用Landau-Lifshitz-Gilbert方程計算模擬了飽和磁化強度M_s、磁各向異性場H_e和阻尼系數(shù)α對合金微粉本征磁導率的影響規(guī)律;針對片狀化合金微粉,運用修正后的Bruggeman方程研究其扁平率對合金微粉/聚合物基體復合材料等效磁導率的影響規(guī)律。(2)通過電磁仿真軟件進行建模分析,研究鐵磁性片狀顆粒嵌入非磁性基體的體積含量、取向及顆粒扁平化程度對等效磁導率的影響。仿真結(jié)果顯示:復合材料的等效磁導率隨著顆粒填充比的增加而增加,而且相較于顆粒的團聚狀態(tài),片狀顆粒的均勻平行分布有利于獲得更高的磁導率;在均勻平行分布的基礎上,取向角度θ=0°時,復合物具有最大的磁導率虛部;在0.3-9GHz頻段內(nèi),片狀顆粒的扁平化程度越高,復合物的磁導率虛部越大,并且共振峰向低頻移動。(3)將仿真與實驗相結(jié)合,分析微帶線上噪聲抑制片的尺寸及磁導率對噪聲抑制性能的影響,結(jié)果表明:微帶線上大部分電磁波能量在水平和垂直方向均分布在一定范圍(寬20mm,厚0.8mm),超出范圍后繼續(xù)增大尺寸,對抑制性能的提升不明顯;通過流延工藝制備噪聲抑制片樣品,隨著磁導率的增加,樣品的功率損耗比增大,并且衰減頻帶向低頻展寬;磁粉含量為85wt%,厚度為0.2mm的復合膜的功率損耗比在1.4-6.4GHz范圍內(nèi)達到0.9,在2.7GHz處達到了0.97,滿足了GHz寬頻帶電磁噪聲抑制片的應用需求。
【圖文】:

示意圖,損耗比,傳輸功率,示意圖


圖1-1 IEC 62333傳輸功率損耗比Rtp測試示意圖研究現(xiàn)狀Yoshida 等人[11]報道,,鐵磁性材料分散在高聚物基體流線附近能有效地抑制電磁噪聲,眾多學者們開始了了眾多研究成果。制片屬于非集成型的,通常由鐵磁性片狀微粉或高長形成。K.H.Kim 等人[18]使用電爆炸方法制備的 Fe 成非集成型噪聲抑制片,鐵基納米粉填充比為 50wt在通帶處較低,10GHz 處的 Ploss/Pin達到 60%以上e-Si-Al 合金和聚合物復合制備出 NSS,研究了樣品,發(fā)現(xiàn)隨著厚度或密度的增加,樣品的噪聲抑制性璃包覆非晶 CoFeSiBCr 絲材為填充物,研究了絲材

示意圖,進動,示意圖,磁各向異性場


的損耗磁場作用時,疇壁會在其平衡點附近振動。頻率相同時,產(chǎn)生的共振現(xiàn)象,可分為弛豫時,μ 達到極大值時,μ 下降為初始磁導率磁導率表現(xiàn)為 μ =1,μ 達到極大值。作用下,鐵磁體內(nèi)部的磁化強度 M 因為擾角,并且旋繞著 Heff進動,進動示意圖如圖ilbert 方程給出effsd M d MM H Mdt M dt ( ) ( ) ,Heff為等效磁各向異性場, 為阻尼系數(shù)
【學位授予單位】:華中科技大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2018
【分類號】:TB535

【參考文獻】

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4 王添文;李子森;;電磁干擾噪聲抑制片應用介紹[J];裝備環(huán)境工程;2008年01期

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相關博士學位論文 前2條

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本文編號:2642984

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