發(fā)布時(shí)間：2019-11-11 00:38

【摘要】：相控陣超聲全聚焦成像充分利用了檢測(cè)信號(hào),具有成像精度高、可進(jìn)行缺陷識(shí)別等特點(diǎn),是未來(lái)最具應(yīng)用前景的相控陣成像算法之一。然而,目前相控陣超聲全聚焦成像仍不能實(shí)現(xiàn)缺陷的高分辨率成像,無(wú)法對(duì)缺陷進(jìn)行準(zhǔn)確的定性、定量分析。為此,采用有限元仿真相控陣傳感器的全陣列采集(FMC)過(guò)程,在全矩陣數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上設(shè)計(jì)全聚焦成像程序,對(duì)圓孔和裂紋兩種典型缺陷進(jìn)行TFM成像,研究典型缺陷的TFM成像規(guī)律,從缺陷散射的角度分析影響相控陣超聲全聚焦成像的因素。結(jié)果表明,實(shí)際檢測(cè)中相控陣超聲傳感器只能接收到缺陷的部分散射信息,而相控陣超聲在缺陷處的散射場(chǎng)分布與缺陷的類(lèi)型、尺寸、角度及入射波類(lèi)型、入射角度等因素有關(guān),因此能否接收到缺陷散射的主要能量是影響全聚焦成像精度的關(guān)鍵。

【參考文獻(xiàn)】

相關(guān)期刊論文 前7條

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相關(guān)博士學(xué)位論文 前1條

1 鄭陽(yáng);基于散射系數(shù)矩陣法的超聲蘭姆波與典型缺陷交互作用研究[D];北京工業(yè)大學(xué);2012年

【共引文獻(xiàn)】

相關(guān)期刊論文 前10條

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3 張侃;楊力;王學(xué)權(quán);許貴平;孫大朋;羅建東;張e，

本文編號(hào)：2559104