超薄四面體非晶碳膜光學(xué)常數(shù)的精確測(cè)定
本文選題:ta-C + 薄膜; 參考:《表面技術(shù)》2016年02期
【摘要】:目的聯(lián)合使用光譜型橢偏儀(SE)和分光光度計(jì),精確測(cè)定超薄四面體非晶碳薄膜(ta-C)的光學(xué)常數(shù)。方法由于該薄膜的厚度對(duì)折射率、消光系數(shù)有很大的影響,僅采用橢偏參數(shù)擬合,難以準(zhǔn)確得到該薄膜的光學(xué)常數(shù),橢偏法測(cè)定的未知參數(shù)數(shù)量大于方程數(shù),橢偏方程無(wú)唯一解。因此,加入透過(guò)率與橢偏參數(shù)同時(shí)進(jìn)行擬合(以下簡(jiǎn)稱SE+T法),以簡(jiǎn)單、快速、準(zhǔn)確地得到該薄膜的光學(xué)常數(shù)。結(jié)果薄膜具有典型的非晶碳膜特征,SE和SE+T兩種擬合方法得到的光學(xué)常數(shù)具有明顯的差異,消光系數(shù)k在可見(jiàn)以及紅外區(qū)最大差值可達(dá)0.020,紫外區(qū)最大的偏差約為0.005;折射率n在500 nm波長(zhǎng)以上最大差值為0.04,在紫外光區(qū)和可見(jiàn)光區(qū)兩種方法得到的n趨于一致。聯(lián)用時(shí)的擬合結(jié)果具有更好的唯一性,而且擬合得到的光學(xué)常數(shù)變得平滑。結(jié)論橢偏與分光光度計(jì)聯(lián)用適合精確測(cè)定測(cè)量范圍內(nèi)的超薄四面體非晶薄膜的光學(xué)常數(shù)。
[Abstract]:Aim to determine accurately the optical constants of ultrathin tetrahedral amorphous carbon thin films (Ta-C) using spectroscopic ellipsometry (SE) and spectrophotometer. Methods because the thickness of the film has a great influence on the refractive index and extinction coefficient, it is difficult to get the optical constant of the film by using ellipsometric parameters fitting, and the number of unknown parameters measured by ellipsometry is larger than the number of equations. Ellipsometry has no unique solution. Therefore, the optical constants of the thin films can be obtained by adding the transmittance and ellipsometry parameters at the same time (hereinafter referred to as SE T method) in order to obtain the optical constants of the thin films easily, quickly and accurately. Results the optical constants obtained by two fitting methods, SE and SE T, have obvious differences. The maximum difference of extinction coefficient k in visible and infrared region is 0.020, the maximum deviation in ultraviolet region is about 0.005, and the maximum difference value of refractive index n above 500 nm wavelength is 0.04. The fitting results are more unique and the optical constants obtained are smooth. Conclusion the combination of ellipsometry and spectrophotometer is suitable for the accurate measurement of optical constants of ultrathin tetrahedral amorphous films.
【作者單位】: 酒泉職業(yè)技術(shù)學(xué)院甘肅省太陽(yáng)能發(fā)電系統(tǒng)工程重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;酒泉新能源研究院;中國(guó)科學(xué)院海洋新材料與應(yīng)用技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;
【基金】:甘肅省科技創(chuàng)新平臺(tái)專項(xiàng)(144JTCF256) 甘肅省自然科學(xué)基金項(xiàng)目(1506RJYF319) 酒泉職業(yè)技術(shù)學(xué)院重點(diǎn)項(xiàng)目(xyky[2015]z-2)~~
【分類(lèi)號(hào)】:TB383.2
【共引文獻(xiàn)】
中國(guó)期刊全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前1條
1 李江;唐敬友;裴旺;魏賢華;黃峰;;橢偏精確測(cè)定透明襯底上吸收薄膜的厚度及光學(xué)常數(shù)[J];物理學(xué)報(bào);2015年11期
【相似文獻(xiàn)】
中國(guó)期刊全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前10條
1 薛建華,韓丹,楊秀文,魏江南;薄金屬膜光學(xué)常數(shù)的橢偏法測(cè)定[J];河北科技大學(xué)學(xué)報(bào);2003年02期
2 葉秀貞;;橢園偏振光法測(cè)鋼表面防腐膜的光學(xué)常數(shù)[J];陜西化工;1980年01期
3 干福熹,林鳳英;外場(chǎng)作用下玻璃的光學(xué)常數(shù)的變化[J];光學(xué)學(xué)報(bào);1981年01期
4 吳維(山文),I.Aydin,H.E.Bühler;硫化物相光學(xué)常數(shù)的測(cè)定[J];金屬學(xué)報(bào);1983年02期
5 左曉鐘;玻璃的應(yīng)力光學(xué)常數(shù)測(cè)定及殘余應(yīng)力分析[J];玻璃;1985年02期
6 馮異;趙軍武;童慧敏;高芬;;高度有序多孔陽(yáng)極氧化鋁薄膜光學(xué)常數(shù)的確定[J];功能材料與器件學(xué)報(bào);2007年05期
7 張平;李晨;陳燾;王多書(shū);;基于透射光譜確定硅碳氧薄膜的光學(xué)常數(shù)[J];上海有色金屬;2013年02期
8 高振昕;燒礬土中的六鋁酸鈣[J];硅酸鹽學(xué)報(bào);1982年02期
9 張國(guó)棟;;大氣污染與平流層氣溶膠[J];四川環(huán)境;1993年02期
10 浦天舒,童志深,吳美珍,,金若鵬,周馥;苯胺等離子體聚合膜的光學(xué)常數(shù)[J];高分子材料科學(xué)與工程;1995年01期
中國(guó)重要會(huì)議論文全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前10條
1 高尚;連潔;宋平;李萍;馬錚;王曉;吳仕梁;;分子束外延生長(zhǎng)超薄鋁膜光學(xué)常數(shù)的研究[A];中國(guó)光學(xué)學(xué)會(huì)2010年光學(xué)大會(huì)論文集[C];2010年
2 林崴;鄭玉祥;蔡清元;張冬旭;張榮君;陳良堯;;硅納米晶光學(xué)常數(shù)對(duì)溫度的響應(yīng)研究[A];中國(guó)光學(xué)學(xué)會(huì)2011年學(xué)術(shù)大會(huì)摘要集[C];2011年
3 徐均琪;蘇俊宏;;薄膜光學(xué)常數(shù)的橢偏測(cè)量方法[A];第十三屆全國(guó)光學(xué)測(cè)試學(xué)術(shù)討論會(huì)論文(摘要集)[C];2010年
4 周毅;孫麗麗;汪愛(ài)英;;多樣品分析法測(cè)定吸收薄膜的厚度與光學(xué)常數(shù)的研究[A];TFC’09全國(guó)薄膜技術(shù)學(xué)術(shù)研討會(huì)論文摘要集[C];2009年
5 王建;李燕;王成偉;;多孔薄膜及其復(fù)合結(jié)構(gòu)的光學(xué)常數(shù)的確定[A];TFC'07全國(guó)薄膜技術(shù)學(xué)術(shù)研討會(huì)論文摘要集[C];2007年
6 林斯勤;賴新春;呂學(xué)超;張永彬;張厚亮;黃文莉;;氧化膜光學(xué)常數(shù)的橢圓偏振測(cè)試研究[A];TFC'07全國(guó)薄膜技術(shù)學(xué)術(shù)研討會(huì)論文摘要集[C];2007年
7 張艷茹;杭凌俠;惠迎雪;潘永強(qiáng);;含氫類(lèi)金剛石薄膜的制備及其光學(xué)常數(shù)研究[A];中國(guó)真空學(xué)會(huì)2012學(xué)術(shù)年會(huì)論文摘要集[C];2012年
8 周楊;梁海鋒;嚴(yán)一心;蔡長(zhǎng)龍;;橢偏法測(cè)量AIN薄膜的光學(xué)常數(shù)[A];第十一屆全國(guó)光學(xué)測(cè)試學(xué)術(shù)討論會(huì)論文(摘要集)[C];2006年
9 肖軼群;沈軍;周斌;徐超;薛輝;;橢偏光度法研究溶膠—凝膠SiO_2薄膜的光學(xué)性能[A];第八屆全國(guó)核靶技術(shù)學(xué)術(shù)交流會(huì)論文摘要集[C];2004年
10 張素英;李斌;謝平;劉定權(quán);;Pb_(1-x)Ge_xTe薄膜性能與其基板的關(guān)系[A];第十七屆十三。ㄊ校┕鈱W(xué)學(xué)術(shù)年會(huì)暨“五省一市光學(xué)聯(lián)合年會(huì)”論文集[C];2008年
中國(guó)博士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前5條
1 張文杰;基于橢偏法的典型工程材料高溫光學(xué)常數(shù)實(shí)驗(yàn)研究[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2015年
2 陳紅;氫化納米硅薄膜的光學(xué)常數(shù)和室溫可見(jiàn)發(fā)光研究[D];上海交通大學(xué);2007年
3 王希影;氣溶膠粒子光學(xué)常數(shù)的實(shí)驗(yàn)研究及輻射傳輸?shù)臄?shù)值模擬[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2012年
4 李佳玉;相變過(guò)程中的高溫粒子輻射特性[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2009年
5 齊宏;彌散顆粒輻射反問(wèn)題的理論與實(shí)驗(yàn)研究[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2008年
中國(guó)碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前10條
1 吳楠;碳纖維復(fù)合材料的結(jié)構(gòu)對(duì)輻射特性的影響[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2015年
2 李江;橢偏光譜學(xué)在透明襯底上吸收薄膜厚度及光學(xué)常數(shù)表征中的應(yīng)用研究[D];西南科技大學(xué);2015年
3 喬明霞;薄膜光學(xué)常數(shù)和厚度的透射光譜法測(cè)定研究[D];四川大學(xué);2006年
4 蔣禮林;金屬陶瓷薄膜光學(xué)常數(shù)的尺度效應(yīng)[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2006年
5 殷金英;粒子光學(xué)常數(shù)的尺寸效應(yīng)[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2006年
6 趙國(guó)艷;氣溶膠顆粒材料光學(xué)常數(shù)的反演方法研究[D];南京航空航天大學(xué);2009年
7 趙利榮;多孔陽(yáng)極氧化鋁薄膜的光學(xué)常數(shù)和潤(rùn)濕特性的研究[D];西北師范大學(xué);2010年
8 馬崢;橢偏技術(shù)在6H-SiC晶體光學(xué)常數(shù)的測(cè)量與分析[D];山東大學(xué);2012年
9 章睿榮;通過(guò)全光譜擬合法確定薄膜光學(xué)常數(shù)和厚度[D];浙江大學(xué);2007年
10 于海濤;表面光極化散射特性的測(cè)量和;夹g(shù)研究[D];西安電子科技大學(xué);2005年
本文編號(hào):2035833
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