本文關(guān)鍵詞：基于概率轉(zhuǎn)移矩陣的全加器可靠性分析

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【摘要】：基于量子元胞自動機(jī)(QCA)電路,通過貝葉斯網(wǎng)絡(luò)(Bayesian network,BN)對7種不同的傳輸線建模,研究了基本傳輸線的輸出正確率隨溫度的變化規(guī)律。另外,通過概率轉(zhuǎn)移矩陣(PTM)研究了7種不同結(jié)構(gòu)的全加器的整體可靠性和輸出Si以及進(jìn)位輸出Ci+1的平均輸出錯誤率隨錯誤因子的變化規(guī)律,并研究了各器件單元對全加器整體可靠性的影響。仿真結(jié)果表明,對于只有1個元胞寬度的傳輸線,直線型傳輸線有最高的可靠性,而且通過增加傳輸線的寬度可以提高傳輸線的可靠性。電路的可靠性不僅與電路結(jié)構(gòu)有關(guān),而且與電路器件單元的類型和門的數(shù)量密切相關(guān)。而且,產(chǎn)生進(jìn)位輸出Ci+1的擇多門對電路的整體可靠性的影響最大,但不同的全加器的進(jìn)位輸出有相同的可靠性。
【作者單位】： 合肥工業(yè)大學(xué)電子科學(xué)與應(yīng)用物理學(xué)院;
【關(guān)鍵詞】： 量子元胞自動機(jī)(QCA) 可靠性 貝葉斯網(wǎng)絡(luò)(BN) 概率轉(zhuǎn)移矩陣(PTM) 全加器
【基金】：國家自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(61271122)
【分類號】：TB114.3
【正文快照】： 0引言自CMOS技術(shù)被提出以來集成電路得到了迅猛的發(fā)展。然而,隨著其物理尺寸的逐漸減小,器件本身所帶來的問題日漸突出,如漏電流等[1-2]。為了解決此類問題,科研人員提出了不同類型的新型納米器件,如單電子晶體管、共振隧道二極管和碳納米管等。1993年,C.S.Lent等人[3]和Y.Tan

【相似文獻(xiàn)】

中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前2條

1 林麗芬;全加器的幾種設(shè)計方法[J];福建商業(yè)高等專科學(xué)校學(xué)報;2004年03期

2 ;[J];;年期

，

本文編號：1054666