對于貯存元件,因其不處于運行中,我們往往得不到其準確的失效時間,只能通過定期檢測來確定元件是否失效。因此,失效元件的確切壽命是未知的,我們只能得到元件失效的時間區(qū)間,而不知其確切壽命。而且元件在貯存過程中,其壽命會受到環(huán)境因素的影響,如:溫度和濕度,因此,綜合考慮環(huán)境因素來評估元件可靠性是非常具有實際意義的�；趦H知失效元件數(shù)而不知其確切壽命的試驗數(shù)據(jù),本文利用條件中位數(shù)法確定元件的失效時間,以及通過構建考慮環(huán)境因素的比例風險模型,來評估元件的可靠性。設元件的試驗數(shù)據(jù)如下:在時刻₀t（28）0以n個元件進行壽命試驗,但僅在時刻t₁（27）t₂（27）（43）（27）t_k進行觀測,即在[t ₀,t ₁),[t ₁,t ₂),（43）,[t_k-1,t _k)內只能觀測到元件的失效數(shù),分別記為r₁,r ₂,（43）,r_k

【文章來源】：南京航空航天大學江蘇省 211工程院校

【文章頁數(shù)】：72 頁

【學位級別】：碩士

【部分圖文】：

元件壽命周期失效率曲線

基于比例風險模型的元件貯存可靠性評估方法表 3.4 數(shù)據(jù)處理i 1 1 1 1 1 1 1 1 0i 0.658 1.263 2.019 3.235 4.477 5.242 5.963 7.146 9.296ir 0 1 2 4 5 6 6 4 21X 0.1 0 0.65 0.4 0.2 1 0.8 0.25 0.12X 0 0.375 0.575 0.45 0.775 0.65 1 0.4 0.225其中，ir 表示i 的個數(shù)，1 2... 30kN r r r 。迭代 5 次后 Matlab 運行結果如圖 3.1。

ir 0 1 2 4 5 6 6 4 21X 0.1 0 0.65 0.4 0.2 1 0.8 0.25 0.12X 0 0.375 0.575 0.45 0.775 0.65 1 0.4 0.225其中，ir 表示i 的個數(shù)，1 2... 30kN r r r 。迭代 5 次后 Matlab 運行結果如圖 3.1。圖 3.1 迭代 5 次后 Matlab 運行結果可以得到參數(shù) 3.04， 7.74，1 =0.31，2 =1.08。收斂圖像如圖 3.2。


本文編號：2977987