本文選題：DPP-Ⅳ抑制劑 + HepG細(xì)胞�。� 參考：《南京醫(yī)科大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版)》2015年05期

【摘要】：目的 :評價(jià)DPP-Ⅳ抑制劑類口服降糖藥A化合物的線粒體毒性,從而探討A化合物的可能毒性機(jī)制。方法 :Hep G2細(xì)胞培養(yǎng)基中分別加入曲格列酮50~300μmol/L,培養(yǎng)24 h,或加入A化合物溶液100~300μmol/L,培養(yǎng)24 h,CCK8細(xì)胞計(jì)數(shù)法測定細(xì)胞存活率。Hep G2細(xì)胞培養(yǎng)基中分別加入曲格列酮100、200和225μmol/L培養(yǎng)24 h,或加入A化合物溶液100、150和200μmol/L培養(yǎng)24 h,化學(xué)發(fā)光法檢測胞內(nèi)ATP合成水平,熒光探針法檢測胞內(nèi)鈣離子濃度、活性氧、線粒體膜電位(△Ψm)變化,透射電鏡觀察線粒體超微結(jié)構(gòu)。結(jié)果:與溶媒對照組相比,曲格列酮50~300μmol/L可以抑制細(xì)胞存活率,IC50為178μmol/L;A化合物100~300μmol/L對細(xì)胞存活率有抑制作用,IC50為159μmol/L。與溶媒對照組相比,曲格列酮≥200μmol/L時導(dǎo)致線粒體ATP顯著下降(P0.01)、△Ψm顯著性下降(P0.01),≥100μmol/L時可致活性氧水平和鈣離子濃度顯著升高(P0.05或P0.01)。A化合物≥100μmol/L時ATP合成水平顯著降低、鈣離子濃度顯著升高(P0.01),≥150μmol/L時活性氧水平明顯升高(P0.01),≥200μmol/L時△Ψm顯著性下降(P0.05),并可導(dǎo)致線粒體結(jié)構(gòu)發(fā)生病變。結(jié)論:DPP-Ⅳ抑制劑類口服降糖藥A化合物可以通過干擾線粒體代謝功能和結(jié)構(gòu)而誘導(dǎo)線粒體損傷。
[Abstract]:Aim: to evaluate the mitochondrial toxicity of DPP- 鈪，

本文編號：1885822