微波二次燒結(jié)牙科納米氧化鋯陶瓷低溫時效性和冠適合性的研究
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【摘要】:目的:1、評價微波二次燒結(jié)牙科氧化鋯的低溫時效性能;2、比較微波二次燒結(jié)和常規(guī)二次燒結(jié)氧化鋯全瓷冠的冠適合性,為微波二次燒結(jié)氧化鋯材料的臨床應用提供參考依據(jù)。材料和方法:1、制作cercon氧化鋯圓片48片,將試件隨機平均分成兩組,對照組(C組)采用常規(guī)燒結(jié),實驗組(M組)采用微波燒結(jié),將C組和M組各分成兩個組,一組在常溫下干燥存放(CA組、MA組),一組(CB組、MB組)置于高溫高壓滅菌器中進行低溫時效處理5h,各組試件行X射線衍射(XRD)分析觀察氧化鋯單斜晶相(m相)含量的改變、測試雙軸彎曲強度和掃描電鏡(SEM)觀察試件斷裂面微觀形貌。2、選取1顆正畸拔除形態(tài)完整的下頜前磨牙行全瓷冠牙體預備,雙重印模法取模,翻制10個環(huán)氧樹脂代型,通過CAD/CAM制得的cercon氧化鋯全瓷冠后隨機均分為2組,分別用微波二次燒結(jié)和常規(guī)二次燒結(jié),用玻璃離子水門汀粘接在代型上,靜置24h后自凝樹脂包埋,用裝有金剛砂片慢速手機沿著包埋體頰舌向中線標志線處切開,SEM分別取切面上的12個點測量間隙大小,比較兩種燒結(jié)工藝制作的氧化鋯全瓷冠的冠適合性。結(jié)果:1、CA組、CB組、MA組、MB組氧化鋯試件m相含量分別是(0.20±0.07)%,(16.38±0.11)%、(0.19+0.05)%、(16.93+1.17)%,MB組和MA組、CB組和CA組氧化鋯m相含量差別有統(tǒng)計學意義(P0.05);SEM結(jié)果顯示微波二次燒結(jié)氧化鋯晶粒均勻細小,兩種方法燒結(jié)的氧化鋯試件在低溫時效前后斷裂面微觀結(jié)構(gòu)顯示晶粒并沒有明顯增大,未發(fā)現(xiàn)裂紋;2、CA組、MA組、CB組、MB組氧化鋯雙軸彎曲強度分別是1061.4±57.43Mpa、1033.9±86.32 Mpa.1005.30±56.39 Mpa.1004.90±84.00 Mpa,差別無統(tǒng)計學意義(P0.05); 3、微波燒結(jié)和常規(guī)燒結(jié)氧化鋯全冠的邊緣間隙和軸面間隙差別無統(tǒng)計學意義(P0.05),(?)面間隙和肩臺間隙差別有統(tǒng)計學意義(P0.05)。結(jié)論:1、微波燒結(jié)氧化鋯全瓷材料在低溫時效后m相含量明顯增加,雙軸彎曲強度無明顯改變,低溫時效性能與常規(guī)燒結(jié)氧化鋯材料相當;2、利用微波二次燒結(jié)制作的cercon氧化鋯陶瓷與常規(guī)燒結(jié)氧化鋯具有相似的冠邊緣適合性,在臨床的可接受范圍之內(nèi)。
【關(guān)鍵詞】:微波燒結(jié) 氧化鋯 低溫時效 冠適合性
【學位授予單位】:廣西醫(yī)科大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2014
【分類號】:R783.1
【目錄】:
- 英文縮略詞4-5
- 中文摘要5-7
- 英文摘要7-9
- 前言9-11
- 實驗一 微波燒結(jié)和常規(guī)燒結(jié)氧化鋯全瓷材料低溫時效性能比較11-18
- 材料和方法11-14
- 結(jié)果14-17
- 討論17-18
- 實驗二 微波燒結(jié)和常規(guī)燒結(jié)氧化鋯全瓷冠適合性的比較18-26
- 材料和方法18-20
- 結(jié)果20-23
- 附圖23-24
- 討論24-26
- 總結(jié)26-27
- 參考文獻27-30
- 綜述30-38
- 參考文獻36-38
- 致謝38-39
- 攻讀學位期間發(fā)表的學術(shù)論文目錄39
【參考文獻】
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,本文編號:625453
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