近年來(lái),電阻抗成像（Electrical Impedance Tomography,EIT）技術(shù)作為一種無(wú)創(chuàng)功能性檢測(cè)技術(shù)得到了快速發(fā)展。而作為EIT技術(shù)的一個(gè)重要分支,磁探測(cè)電阻抗成像（Magnetic Detection Electrical Impedance Tomography,MDEIT）技術(shù)改善了EIT技術(shù)中檢測(cè)點(diǎn)受成像體表面積限制的缺點(diǎn),通過(guò)激勵(lì)電流作用下成像體周?chē)a(chǎn)生的磁感應(yīng)強(qiáng)度分布重建成像體內(nèi)部電導(dǎo)率。MDEIT技術(shù)與傳統(tǒng)電阻抗成像一樣具有無(wú)創(chuàng)、測(cè)量方便、價(jià)格低廉的特點(diǎn)。另外,MDEIT技術(shù)通過(guò)非接觸測(cè)量,避免了接觸阻抗對(duì)成像精度的影響。但MDEIT圖像重建過(guò)程存在非線性、病態(tài)性和不適定性問(wèn)題,傳統(tǒng)重建算法將非線性問(wèn)題通過(guò)近似線性化的方法求解,會(huì)導(dǎo)致重建圖像精度不高,抗噪性差的問(wèn)題。針對(duì)以上重建算法的缺點(diǎn),為進(jìn)一步提高重建精度,本文首先提出了將淺層神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型的反向傳播（Back Propagation,BP）神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法用于MDEIT圖像重建。詳細(xì)介紹了算法中正向傳播建立權(quán)重矩陣和反向傳播更新權(quán)重矩陣的過(guò)程,針對(duì)磁感應(yīng)強(qiáng)度分布和電導(dǎo)率分布之間的非線性關(guān)系,建立BP... 

【文章頁(yè)數(shù)】：77 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

圖１－２不同頻率下電流在組織內(nèi)流動(dòng)的路徑??

圖１－３磁探測(cè)電阻抗成像系統(tǒng)??

圖２－１磁探測(cè)電阻抗成像技術(shù)算法結(jié)構(gòu)??


本文編號(hào)：3672516